本申请涉及一种应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台，涉及芯片测试技术领域，所述方法应用于SPI测试平台，SPI测试平台至少包含第一MCU、第二MCU、命令接收缓存和结果发送缓存，第二MCU支持QSPI协议，方法包括：第一MCU接收测试主机发送的SPI NAND FLASH芯片的功能测试命令；第一MCU将功能测试命令存储在命令接收缓存中；第二MCU检测到命令接收缓存中存有功能测试命令时，将功能测试命令发送至SPI控制器；第二MCU接收SPI控制器反馈的功能测试结果，将功能测试结果存储在结果发送缓存中；第一MCU检测到结果发送缓存中存有功能测试结果时，将功能测试结果反馈给测试主机。采用本申请，可以缩短SPI测试时间，提高SPI NAND FLASH芯片的测试效率。FLASH芯片的测试效率。FLASH芯片的测试效率。
【技术实现步骤摘要】
应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台
[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其涉及一种应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台。
技术介绍
[0002]SPI NAND FLASH芯片是一种内部采用NAND存储颗粒，对外采用SPI协议接口的存储器件。SPI NAND FLASH芯片可以包含FLASH存储内核和SPI控制器，外部可以基于SPI协议与SPI控制器间进行信息交互，并由SPI控制器在FLASH存储内核中对相关数据进行写入、读取、擦除等操作。
[0003]厂商在生产SPI NAND FLASH芯片后，需要对SPI NAND FLASH芯片的存储功能进行测试。在测试过程中，技术人员可以利用测试主机向SPI NAND FLASH芯片发送预定的多种功能测试命令，从而SPI NAND FLASH芯片中的SPI控制器可以对功能测试命令进行处理，得到相应的功能测试结果，并将功能测试结果反馈至测试主机。这样，测试主机可以根据功能测试结果，对SPI NAND FLASH芯片的功能参数进行检测和评定。
[0004]在实现本申请的过程中，专利技术人发现上述技术至少存在以下问题：在利用测试主机对SPI NAND FLASH芯片进行功能测试时，测试主机在发送一条功能测试命令后，需要等待SPI控制反馈该条功能测试命令的功能测试结果后，再向SPI控制器发送下一条功能测试命令。故而，整个测试过程需要耗费大量时间，SPI NAND FLASH芯片的测试效率较低。<br/>
技术实现思路
[0005]为了缩短整个SPI测试过程所需时间，提高SPI NAND FLASH芯片的测试效率，本申请实施例提供了一种应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台。所述技术方案如下：第一方面，本申请实施例提供了一种应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法，所述方法应用于SPI测试平台，所述SPI测试平台至少包含第一MCU、第二MCU、命令接收缓存和结果发送缓存，所述第二MCU支持QSPI协议，所述方法包括：所述第一MCU接收测试主机发送的SPI NAND FLASH芯片的功能测试命令；所述第一MCU将所述功能测试命令存储在所述命令接收缓存中；所述第二MCU检测到所述命令接收缓存中存有功能测试命令时，将所述功能测试命令发送至SPI控制器；所述第二MCU接收所述SPI控制器反馈的功能测试结果，将所述功能测试结果存储在所述结果发送缓存中；所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，将所述功能测试结果反馈给所述测试主机。
[0006]基于上述技术方案，利用双核MCU进行功能测试，功能测试命令的发送和功能测试
结果的反馈相互独立互不干扰，无需等待功能测试结果后再发送功能测试命令，从而缩短了整个测试过程所需时间，SPI NAND FLASH芯片的测试效率得到提升。
[0007]可选的，所述第一MCU接收测试主机发送的SPI NAND FLASH芯片的功能测试命令，包括：所述第一MCU基于TCP/IP协议接收测试主机发送的测试命令序列，所述测试命令序列包含至少一个针对SPI NAND FLASH芯片的功能测试命令。
[0008]基于上述技术方案，第一MCU与测试主机通过TCP/IP协议传输测试命令序列，可以实现功能测试命令的快速、高效且有序地传输。
[0009]可选的，所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，将所述功能测试结果反馈给所述测试主机，包括：所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，判断所述功能测试结果对应的测试命令数量；当所述测试命令数量等于已发送的所述测试命令序列中功能测试命令总数时，所述第一MCU将所述结果发送缓存中的所有功能测试结果反馈给所述测试主机，并清空所述结果发送缓存。
[0010]基于上述技术方案，以功能测试命令总数为标准，对结果发送缓存执行清空操作，可以保证每个功能测试命令均对应有功能测试结果，且可以使得结果发送缓存能够得到及时清空。
[0011]可选的，所述功能测试结果中携带有SPI NAND FLASH芯片的标识信息；所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，将所述功能测试结果反馈给所述测试主机，包括：所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，判断每个SPI NAND FLASH芯片的标识信息对应的功能测试结果数量；当所述功能测试结果数量等于已发送的所述测试命令序列中功能测试命令总数时，所述第一MCU将所述结果发送缓存中所述标识信息对应的功能测试结果反馈给所述测试主机。
[0012]基于上述技术方案，以SPI NAND FLASH芯片的标识信息为依据，当某一芯片的功能测试结果数量达标时，向测试主机反馈功能测试结果，一者可以保证每个SPI NAND FLASH芯片的功能测试结果得到及时且完整的反馈，再者可以避免多个SPI NAND FLASH芯片的功能测试结果被混淆。
[0013]可选的，所述方法还包括：所述第二MCU统计每个功能测试命令的结果反馈平均时长；当目标SPI NAND FLASH芯片的目标功能测试命令的结果反馈实际时长大于对应的所述结果反馈平均时长，且差值大于预设阈值时，所述第二MCU重新向所述目标SPI NAND FLASH芯片发送所述目标功能测试命令；在接收到所述目标功能测试命令的新功能测试结果后，所述第二MCU在所述结果发送缓存中关联存储所述目标功能测试命令的所有功能测试结果，以使所述第一MCU同时向所述测试主机反馈所述目标功能测试命令的所有功能测试结果。
[0014]基于上述技术方案，通过结果反馈时长来判断功能测试是否出现异常，并重复执
行功能检测和反馈所有功能测试结果，使得测试主机更易探测出功能测试异常的实际情况。
[0015]可选的，所述第一MCU将所述功能测试命令存储在所述命令接收缓存中，包括：所述第一MCU将所述功能测试命令转化为SPI协议格式后，将所述功能测试命令存储在所述命令接收缓存中；所述将所述功能测试结果反馈给所述测试主机，包括：所述第一MCU将所述功能测试命令转化为TCP/IP协议格式后，将所述功能测试结果反馈给所述测试主机。
[0016]基于上述技术方案，第一MCU用于执行TCP/IP协议和SPI协议间的格式转换操作，既可以保证与测试主机间的快速数据交互，又能保证SPI测试平台内部的SPI数据的正常流转。
[0017]可选的，所述第二MCU检测到所述命令接收缓存中存有功能测试命令时，将所述功能测试命令发送至SPI控制器之后，还包括：所述第二MCU统计所述命令接收缓存中的数据长度和已发送的功能测试命令的数据总量；当所述数据总量等于所述数据长度时，所述第二MCU向所述命令接收缓存发送缓存清空指令。
[0018]基于上述技术方案，通过比对命令接收缓存中数据长度和功能测试命令的发送量执行命令接收缓存的清空处理，使得命令接收缓存可以得本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法，其特征在于，所述方法应用于SPI测试平台，所述SPI测试平台至少包含第一MCU、第二MCU、命令接收缓存和结果发送缓存，所述第二MCU支持QSPI协议，所述方法包括：所述第一MCU接收测试主机发送的SPI NAND FLASH芯片的功能测试命令；所述第一MCU将所述功能测试命令存储在所述命令接收缓存中；所述第二MCU检测到所述命令接收缓存中存有功能测试命令时，将所述功能测试命令发送至SPI控制器；所述第二MCU接收所述SPI控制器反馈的功能测试结果，将所述功能测试结果存储在所述结果发送缓存中；所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，将所述功能测试结果反馈给所述测试主机。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一MCU接收测试主机发送的SPI NAND FLASH芯片的功能测试命令，包括：所述第一MCU基于TCP/IP协议接收测试主机发送的测试命令序列，所述测试命令序列包含至少一个针对SPI NAND FLASH芯片的功能测试命令。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，将所述功能测试结果反馈给所述测试主机，包括：所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，判断所述功能测试结果对应的测试命令数量；当所述测试命令数量等于已发送的所述测试命令序列中功能测试命令总数时，所述第一MCU将所述结果发送缓存中的所有功能测试结果反馈给所述测试主机，并清空所述结果发送缓存。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述功能测试结果中携带有SPI NAND FLASH芯片的标识信息；所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，将所述功能测试结果反馈给所述测试主机，包括：所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，判断每个SPI NAND FLASH芯片的标识信息对应的功能测试结果数量；当所述功能测试结果数量等于已发送的所述测试命令序列中功能测试命令总数时，所述第一MCU将所述结果发送缓存中所述标识信息对应的功能测试结果反馈给所述测试主机。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：所述第二MCU统计每个功能测试命令的结果反馈平均时长；当目标SPI NAND FLASH芯片的目标功能测试命令的结果反馈实际时长大于对应的所述结果反馈平均时长，且差值大于预设阈值时，所述第二MCU重新向所述目标SPI NA...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑文豪，
申请(专利权)人：南京扬贺扬微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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