【技术实现步骤摘要】
一种对比增强能谱乳腺X线摄影的方法及系统
[0001]本专利技术涉及医疗影像处理
,特别是涉及一种对比增强能谱乳腺X线摄影的方法及系统。
技术介绍
[0002]乳腺癌是女性中最常见的恶性肿瘤,严重威胁着女性的身心健康。因此,乳腺癌的早诊断与早治疗尤为重要。常用的乳腺癌的影像学检查方法包括乳腺超声检查、乳腺X线摄影及乳腺磁共振成像。乳腺超声检查无损伤、无痛苦,适用于所有人群,在鉴别有无肿块、肿块的大小及肿块的物理特征方面具有优势,但乳腺超声检查需要医生具备一定的操作技巧和经验,并且无法识别出直径小于5mm的病灶。乳腺X线摄影具有简单、方便、费用低及无创伤等特点,它能够发现无症状患者或临床初诊阴性的肿瘤,但其对于致密性腺体中微小病灶的分辨能力较低,容易造成漏诊。乳腺磁共振具有更高的敏感度和特异度,它可进行多平面扫描和重建,能更好地显示病灶的大小、形态和位置,对于浸润性乳腺癌具有非常高的检出率,但乳腺磁共振不适用于体内安装起搏器或其它磁性物体的检查者,并且这种检查成本高、操作复杂,不适用于大范围的乳腺癌筛查。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种对比增强能谱乳腺X线摄影的方法,其特征在于,所述方法涉及乳腺X线机,所述乳腺X线机包括压迫盘和探测器,其中,待测乳腺安置于所述压迫盘与所述探测器之间,所述方法包括:获取所述压迫盘压迫所述乳腺时的压迫厚度数值和压迫力数值,所述压迫厚度数值为所述压迫盘到所述探测器的距离;依据所述压迫厚度数值和所述压迫力数值确定曝光参数;其中,所述曝光参数包括低能曝光参数和高能曝光参数;依据所述低能曝光参数和所述高能曝光参数对所述乳腺进行曝光,得到对应于所述低能曝光参数的低能图像和对应于所述高能曝光参数的高能图像;依据所述低能图像和所述高能图像生成所述乳腺的目标对比增强图像。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据所述压迫厚度数值和所述压迫力数值确定曝光参数;其中,所述曝光参数包括低能曝光参数和高能曝光参数的步骤,包括:依据所述压迫厚度数值和所述压迫力数值确定所述低能曝光参数;依据所述低能曝光参数确定所述高能曝光参数。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述低能曝光参数包括低能辐射电压和低能辐射电流;所述依据所述压迫厚度数值和所述压迫力数值确定所述低能曝光参数的步骤,包括:依据所述压迫厚度数值确定所述低能辐射电压;具体地,当所述压迫厚度数值小于20mm时,所述低能辐射电压为25kV;当所述压迫厚度数值为大于或等于80mm时,所述低能辐射电压为31kV;当所述压迫厚度数值为20~80mm时,所述低能辐射电压通过如下公式得出:V
Low
=25+(Thickness
‑
10)/10式中,Thickness为所述压迫厚度数值;V
Low
为所述低能辐射电压;依据所述压迫力数值确定所述低能辐射电流;具体地,所述低能辐射电流通过如下公式得出:mAs
Low
=30+Force
×
2式中,Force为所述压迫力数值;mAs
Low
为所述低能辐射电流。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述高能曝光参数包括高能辐射电压和高能辐射电流;所述依据所述低能曝光参数确定所述高能曝光参数的步骤,包括:依据所述低能辐射电压确定所述高能辐射电压;具体地,所述高能辐射电压通过如下公式得出:V
High
=V
Low
+18式中,V
H...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭朋,郑杰,陈晶,
申请(专利权)人:深圳蓝影医学科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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