一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置制造方法及图纸

技术编号:34939578 阅读:13 留言:0更新日期:2022-09-15 07:40
本实用新型专利技术提出了一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置,包括控制单元、执行单元和硬盘;控制单元包括单片机和电机驱动器;执行单元包括步进电机、齿轮转盘和硬盘支架;硬盘支架的底部设置齿轮凹槽;齿轮转盘和齿轮凹槽转动连接;硬盘与硬盘支架固定连接;单片机的输出端连接电机驱动器的输入端;电机驱动器的输出端连接至步进电机的输入端;步进电机的输出端与齿轮转盘连接。装置还包括机箱单元;机箱单元包括机箱外壳、硬盘限位板和步进电机固定板;硬盘支架插入硬盘限位板。本实用新型专利技术能够模拟真实的固态硬盘拔插场景,能够测试盘片备电功能,模拟盘片在热拔插时的电压情况,测试盘片性能;能够测试U.2接口的耐久性。能够测试U.2接口的耐久性。能够测试U.2接口的耐久性。

【技术实现步骤摘要】
一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置


[0001]本技术属于固态硬盘测试
,特别涉及一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置。

技术介绍

[0002]在云计算时代,海量数据传输、存储需要大量的存储设备,这些大量的存储设备在数据高速传输的过程中会产生大量的功耗,SSD在FIO工况下会有高达 10A以上的电流通过U.2连接器,而此时如果进行物理断电操作,有可能会导致盘片挂死,数据丢失的情况。所以在SSD开发时需要进行大量的测试,验证盘片备电时间是否够达到数据储存的标准,而热拔插盘的动作数据单一重复动作,使用人工拔盘测试费时费力;SSD固态硬盘的U.2连接器的耐久性同样需要经过测试,测试U.2连接器质量及工厂焊接是否达到要求,这种需要重复上万次的验证现在没有经过实际测试,即使有,也不是真正模拟SSD使用场景。
[0003]现有技术在盘片测试阶段,通过继电器控制盘片强制下电,使SSD突然断电来模拟热插拔场景,但是盘片的位移、U.2接口的插入摩擦、人力插入拔出的速度、力度等等,这些是继电器模拟不了的。这种人为拔盘断电的操作,使盘片下电电压的真实曲线,也是继电器模拟不了的。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题,本技术提出了一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置。通过物理拔插,使盘片位移,产生断电,能够真实模拟出固态硬盘使用场景,测试盘片热拔插下电的备电功能、SSD连接器耐久性等。
[0005]为实现上述目的,本技术采用以下技术方案:
[0006]一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置,包括控制单元10、执行单元和硬盘6;
[0007]所述控制单元10包括单片机和电机驱动器;
[0008]所述执行单元包括步进电机8、齿轮转盘7和硬盘支架5;所述硬盘支架5 的底部设置齿轮凹槽;所述齿轮转盘7和齿轮凹槽转动连接;
[0009]所述硬盘6与硬盘支架5固定连接;
[0010]所述单片机的输出端连接电机驱动器的输入端;所述电机驱动器的输出端连接至步进电机8的输入端;步进电机8的输出端与齿轮转盘7连接。
[0011]进一步的,所述装置还包括机箱单元;所述机箱单元包括机箱外壳2、硬盘限位板3和步进电机固定板;
[0012]所述控制单元、执行单元和硬盘6均位于机箱外壳2内;且所述硬盘支架5 插入硬盘限位板3;所述步进电机固定板与步进电机8固定连接。
[0013]进一步的,所述装置还包括PCIE接口板4;
[0014]所述硬盘6通过PCIE接口板4连接至服务器。
[0015]进一步的,所述装置还包括显示模块9;
[0016]所述显示模块9固定在机箱外壳2的外表面上,且所述显示模块与单片机的输出端通信连接。
[0017]进一步的,所述装置还包括按键板1;
[0018]所述按键板1固定在机箱外壳2的外表面上,且所述显示模块与单片机的输出端通信连接。
[0019]进一步的,所述控制单元还与供电模块相连。
[0020]进一步的,所述硬盘6与硬盘支架5通过螺丝固定连接。
[0021]
技术实现思路
中提供的效果仅仅是实施例的效果,而不是专利技术所有的全部效果,上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果:
[0022]本技术提出了一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置,包括控制单元、执行单元和硬盘;控制单元包括单片机和电机驱动器;执行单元包括步进电机、齿轮转盘和硬盘支架;硬盘支架的底部设置齿轮凹槽;齿轮转盘和齿轮凹槽转动连接;硬盘与硬盘支架固定连接;单片机的输出端连接电机驱动器的输入端;所述电机驱动器的输出端连接至步进电机的输入端;步进电机的输出端与齿轮转盘连接。装置还包括机箱单元;机箱单元包括机箱外壳、硬盘限位板和步进电机固定板;控制单元、执行单元和硬盘均位于机箱外壳内;且所述硬盘支架插入硬盘限位板;所述步进电机固定板与步进电机固定连接。本技术能够模拟真实的固态硬盘拔插场景,能够测试两个方面的内容。一是测试盘片备电功能,模拟盘片在热拔插时的电压情况,测试盘片性能;二是能够测试U.2接口的耐久性,适用于极限压力摸底测试,掌握盘片质量曲线,并能够为U.2选型改善提供指导数据。
[0023]本技术能够进行批量测试,一台设备能够同时测试多个盘片,彼此互不干涉,并且通过控制步进电机PWM波形占空比,能够模拟不同测试速度与力度,使测试数据更接近真实场景。
[0024]本技术采用自动测试的操作方式,能够通过按键设置操作测试,每个盘片启停时间,彼此互不干扰。并且测试次数实时显示在显示屏上。具有开始,结束按键可以强制测试终止等功能。
附图说明
[0025]如图1为本技术实施例1一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置整体结构示意图;
[0026]如图2为本技术实施例1一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置齿轮转盘侧面示意图;
[0027]如图3为本技术实施例1一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置中硬盘支架底部凹槽示意图;
[0028]如图4为本技术实施例1控制单元连接示意图;
[0029]1‑
按键板;2机箱外壳;3

硬盘限位板;4

PCIE接口板;5

硬盘支架;6

硬盘;7

齿轮转盘;8

步进电机;9

液晶显示器;10

控制单元;11

齿轮转盘;12
‑ꢀ
硬盘支架底部凹槽。
具体实施方式
[0030]为能清楚说明本方案的技术特点,下面通过具体实施方式,并结合其附图,对本实
用新型进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本技术的不同结构。为了简化本技术的公开,下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外,本技术可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的,其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意,在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本技术省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本技术。
[0031]实施例1
[0032]本技术实施例1提出了一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置,通过物理拔插,使盘片位移,产生断电,能够真实模拟出固态硬盘使用场景,测试盘片热拔插下电的备电功能、SSD连接器耐久性等。通过小型控制系统,控制步进电机进行转动,带动硬盘支架向里、向外移动,模拟盘片拔出、插入动作,通过控制步进电机转速,能够调节插入速度及力度,模拟真实使用场景。
[0033]其中,SSD:Solid State Drive固态硬盘;
[0034]NAND:存储芯片闪存;
[0035]U.2:固态硬盘接口;
[0036]PCIE:peripheral component inte本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置,其特征在于,包括控制单元(10)、执行单元和硬盘(6);所述控制单元(10)包括单片机和电机驱动器;所述执行单元包括步进电机(8)、齿轮转盘(7)和硬盘支架(5);所述硬盘支架(5)的底部设置齿轮凹槽;所述齿轮转盘(7)和齿轮凹槽转动连接;所述硬盘(6)与硬盘支架(5)固定连接;所述单片机的输出端连接电机驱动器的输入端;所述电机驱动器的输出端连接至步进电机(8)的输入端;步进电机(8)的输出端与齿轮转盘(7)连接。2.根据权利要求1所述的一种固态硬盘物理拔插式耐久性测试装置,其特征在于,所述装置还包括机箱单元;所述机箱单元包括机箱外壳(2)、硬盘限位板(3)和步进电机固定板;所述控制单元、执行单元和硬盘(6)均位于机箱外壳(2)内;且所述硬盘支架(5)插入硬盘限位板(3);所述步进电机固定板与步进电机(8)固定连接。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏程
申请(专利权)人:苏州浪潮智能科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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