一种多用途测试治具和一种智能终端制造技术

本实用新型专利技术提出了一种多用途测试治具和一种智能终端，该测试治具包括接口模块、切换模块和待切换接口；接口模块插接在中央处理器的主板上；接口模块的金手指连接切换模块的第一端口；所述切换模块的第二端口链接待切换接口。多用途测试治具包还包括对称处理器；待切换接口还通过相对应的接收线路和发送线路连接至对称处理器。对称处理器还连接至示波器。基于一种多用途测试治具，本实用新型专利技术还提出了一种智能终端。本实用新型专利技术将根据测试信号的不同需要，通过切换模块切换接口模块的PCIE、SATA、USB三种信号，达到可以在一块治具板上测量多种信号的目的，进而提升了接口测试的效率，降低了测试成本。降低了测试成本。降低了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种多用途测试治具和一种智能终端


[0001]本技术属于测试治具设计
，特别设计一种多用途测试治具和一种智能终端。

技术介绍

[0002]M.2接口也叫NGFF，英文全称Next Generation Form Factor，是Intel推出的一种替代MSATA新的接口规范。由于速度更快，体积更小，现在大部分电脑里都是采用这种硬盘。除此之外，M.2接口是一种新的主机接口方案，可以兼容多种通信协议，如sata、PCIe、USB、HSIC、UART、SMBus等。在电脑使用M.2接口进行CPU与硬盘数据传输之前，需要对M.2接口进行信号测试，目的是检测 M.2接口是否符合规范。如果不符合，需要更改通信协议来满足用户需求。随着大部分电脑基于M.2接口的应用，M.2接口检测问题也越来越面临挑战，需要通过针对M.2接口设计一种测试治具来满足测试要求。传统的测试治具仅能检测 M.2接口的一种通信协议。在实际信号测试中，经常需要测试M.2不同通信协议下的信号，使用传统的测试治具需要使设备断电更换治具达到测试不同通信协议下的信号，如SATA、PCIE和USB,测试上述三种信号需要进行多次通断电以及多个M.2接口测试治具，整个测试过程繁琐费时。
[0003]如图1为现有技术中M.2测试治具的连接示意图，M.2测试治具通过插在 M.2接口(M.2Interfave)上M.2金手指(M.2Goldfinger)通过PCIE协议将M.2 接口上PCIE的RX和TX信号连接到SMP上，之后通过SMP连接线作用到示波器上达到测试M.2接口PCIE的RX和TX信号的目的。现有技术方案如果要测试M.2 接口的PCIE、SATA、USB信号，需要更换不同的测试治具来实现，具体的，需要断电并需要三块治具板，更换不同协议下的治具板依次来实现，费时费力，增加了测试周期和测试成本。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本技术提出了一种多用途测试治具和一种智能终端，可以在同一测试治具下测试多种通信协议下信号的效果。
[0005]为实现上述目的，本技术采用以下技术方案：
[0006]一种多用途测试治具，包括接口模块、切换模块和待切换接口；
[0007]所述接口模块插接在中央处理器的主板上；
[0008]所述接口模块的金手指连接切换模块的第一端口；所述切换模块的第二端口链接待切换接口。
[0009]进一步的，所述多用途测试治具包还包括对称处理器；所述待切换接口还通过相对应的接收线路和发送线路连接至对称处理器。
[0010]进一步的，所述对称处理器还连接至示波器。
[0011]进一步的，所述接口模块包括M.2接口、MXM接口、OCP接口和WLAN接口。
[0012]进一步的，所述切换模块包括拨码开关和PCIE Switch芯片。
[0013]进一步的，所述待切换接口包括PCIE、USB和SATA。
[0014]进一步的，所述拨码开关的型号为DSIC08THGET。
[0015]本技术还提出了一种智能终端，包括一种多用途测试治具。
[0016]
技术实现思路
中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是专利技术所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：
[0017]本技术提出了一种多用途测试治具和一种智能终端，该测试治具包括接口模块、切换模块和待切换接口；接口模块插接在中央处理器的主板上；接口模块的金手指连接切换模块的第一端口；所述切换模块的第二端口链接待切换接口。多用途测试治具包还包括对称处理器；待切换接口还通过相对应的接收线路和发送线路连接至对称处理器。对称处理器还连接至示波器。基于一种多用途测试治具，本技术还提出了一种智能终端。本技术将根据测试信号的不同需要，通过切换模块切换接口模块的PCIE、SATA、USB三种信号，达到可以在一块治具板上测量多种信号的目的，进而提升了接口测试的效率，降低了测试成本。
附图说明
[0018]如图1为现有技术中M.2测试治具的连接示意图；
[0019]如图2为本技术实施例1一种多用途测试治具的结构连接示意图；
[0020]如图3为本技术实施例1一种多用途测试治具与示波器连接的示意图。
具体实施方式
[0021]为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本技术进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本技术的不同结构。为了简化本技术的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本技术可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本技术省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本技术。
[0022]实施例1
[0023]本技术实施例1提出了一种多用途测试治具，为了解决现有技术中如果需要测试不同的信号，需要更换不同协议下的治具板依次来实现，费时费力，增加了测试周期和测试成本。
[0024]该测试治具包括接口模块、切换模块和待切换接口；接口模块插接在中央处理器的主板上；接口模块的金手指连接切换模块的第一端口；切换模块的第二端口链接待切换接口。多用途测试治具包还包括对称处理器；待切换接口还通过相对应的接收线路和发送线路连接至对称处理器。
[0025]如图2为本技术实施例1一种多用途测试治具的结构连接示意图。本技术采用M.2接口进行详细说明。
[0026]CPU：Central Processing Unit；中央处理器
[0027]M.2：Next Generation Form Factor；固态硬盘接
金手指(M.2Goldfinger)与CPU(FT
‑
2000)连接。
[0048]根据测试信号的不同需要，通过拨码开关(DSIC08THGET)切换PCIE、SATA、 USB三种信号，如需测试M.2接口上的SATA信号，仅需将拨码开关切换到SATA 信号模式，然后将M.2金手指上的RX(PERP0_SATA_BN、PERP0_SATA_BP)和TX (PERP0_SATA_AN、PERP0_SATA_AP)信号引到SMP上。
[0049]将M.2接口上PCIE、SATA、USB的RX和TX信号连接到SMP上。
[0050]通过SMP连接线作用到示波器上达到测试M.2接口PCIE、SATA、USB的不同信号的目的。
[0051]本技术实施例2提出的一种智能终端，根据测试信号的不同需要，通过切换模块切换接口模块的PCIE、SATA、USB三种信号，达到可以在一块治具板上测量多种信号的目的，进而提升了接口测试的效率，降低了测试成本。
[0052]需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多用途测试治具，其特征在于，包括接口模块、切换模块和待切换接口；所述接口模块插接在中央处理器的主板上；所述接口模块的金手指连接切换模块的第一端口；所述切换模块的第二端口链接待切换接口。2.根据权利要求1所述的一种多用途测试治具，其特征在于，所述多用途测试治具包还包括对称处理器；所述待切换接口还通过相对应的接收线路和发送线路连接至对称处理器。3.根据权利要求2所述的一种多用途测试治具，其特征在于，所述对称处理器还连接至示波器。4.根据权利要求1所述的一种多用途测试治具，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕德稳，李岩，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：