一种基于线扫成像系统的光源校准方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及光源校准技术领域，公开了一种基于线扫成像系统的光源校准方法及系统，提供一校准装置，校准装置包括与光源的类型一一对应的校准区域；校准方法包括：确定待校准光源的光源类型，根据光源类型从校准装置中确定目标校准区；调整校准装置的位置，使目标校准区位于成像区域内；获取线扫成像系统采集的检测图像，基于检测图像校准待校准光源。本发明专利技术通过设置位置可调节的校准装置，在需要对光源进行校准时，使校准装置中对应于待校准光源的目标校准区位于成像区域内，从而能够以线扫成像系统所采集的检测图像作为校准依据以校准待校准光源；基于此，本发明专利技术有效提高了光源的校准精度，从而能够确保视觉检测系统的检测效果。果。果。

【技术实现步骤摘要】
一种基于线扫成像系统的光源校准方法及系统


[0001]本专利技术涉及光源校准
，尤其涉及一种基于线扫成像系统的光源校准方法及系统。

技术介绍

[0002]视觉检测能够利用机器代替人眼来对产品进行测量，以判断产品是否存在缺陷，而随着视觉检测技术的普及和应用，如今大尺寸高精度检测应用逐渐增加。
[0003]为达到大尺寸高精度的检测要求，视觉检测系统所包含的照明光源类型也越来越多，例如，在一套视觉检测系统中同时设置同轴光源、高角度光源和低角度光源。
[0004]随着大尺寸高精度检测应用的增多，在一个机器视觉成像模组中包含多种照明角度的情况也越来越多，例如：申请号为201821511046.X，名称为用于检测透明基板缺陷的图像采集系统的专利，该系统集成了上三组光源与下三组光源，三组光源中的任何一组照明光源的发散角及照明角的变化，对于高精度检测来说都影响巨大，现有技术中通过肉眼进行光源的调试，难以实现对光源的精确控制，导致检测效果难以达到预期。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的不足，本专利技术提供一种基于线扫成像系统的光源校准方法及系统，解决现有技术中通过肉眼进行光源的调试，难以实现对光源的精确控制，导致检测效果难以达到预期的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供以下的技术方案：
[0007]一种基于线扫成像系统的光源校准方法，用于对光源进行校准，所述光源照射于所述线扫成像系统的成像区域中；提供一校准装置，所述校准装置包括与所述光源的类型一一对应的校准区域；所述校准方法包括：
[0008]确定待校准光源的光源类型，根据所述光源类型从所述校准装置中确定目标校准区；
[0009]调整所述校准装置的位置，使所述目标校准区位于所述成像区域内；
[0010]获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源。
[0011]可选地，所述获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源，包括：
[0012]获取所述检测图像中的光斑分布情况；
[0013]基于所述光斑分布情况校准所述待校准光源的照射角度，直至所述检测图像中的光斑呈现正弦分布。
[0014]可选地，所述光源包括多个照射区域；
[0015]所述获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源，包括：
[0016]获取所述检测图像的亮度分布情况；
[0017]基于所述亮度分布情况，对所述光源进行分区调整，直至所述检测图像的亮度呈均匀分布。
[0018]可选地，所述获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源，包括：
[0019]获取所述检测图像的灰度值区域；
[0020]将所述灰度值区域与预设的标准区域范围进行比对，根据比对结果校准所述待校准光源的第一角度参数，直至所述检测图像的灰度值区域与预设的标准区域范围相符。
[0021]可选地，所述获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源，包括：
[0022]获取所述检测图像的灰度值分布情况；
[0023]基于灰度值分布情况校准所述待校准光源的第二角度参数，直至所述检测图像的灰度分布呈现高斯分布。
[0024]可选地，所述光源包括同轴光源，所述校准装置包括对应于所述同轴光源的同轴校准区域；
[0025]所述同轴校准区域内设有呈长条状的弧形凸起，所述弧形凸起的横截面为弧形曲面。
[0026]可选地，所述光源还包括第一倾斜光源和第二倾斜光源，所述第二倾斜光源的出射光线与水平线的夹角，大于所述第一倾斜光源的出射光线与水平线的夹角；
[0027]所述校准装置包括对应于所述第一倾斜光源的第一角度校准区域，以及对应于所述第二倾斜光源的第二角度校准区域，所述第一角度校准区域和所述第二角度校准区域分别包括至少一个弧形基底件，所述弧形基底件呈长条状；
[0028]所述弧形基底件包括两个弧形侧部，所述两个弧形侧部呈对称设置，且所述弧形侧部的横截面为弧形曲面。
[0029]可选地，所述第一角度校准区域中，所述弧形侧部的弧形基底与水平线的夹角与所述第一倾斜光源的目标照明角呈正相关；
[0030]所述第二角度校准区域中，所述弧形侧部的弧形基底与水平线的夹角与所述第二倾斜光源的目标照明角呈正相关。
[0031]本专利技术还提供了一种基于线扫成像系统的光源校准系统，用于实现如上任一项所述的基于线扫成像系统的光源校准方法，以实现对光源进行校准；所述校准系统包括：
[0032]线扫成像系统，所述光源照射于所述线扫成像系统的成像区域中；
[0033]校准装置，所述校准装置包括与线扫成像系统中光源的类型一一对应的校准区域；
[0034]确定单元，用于确定待校准光源的光源类型，并根据所述光源类型从所述校准装置中确定目标校准区；
[0035]调整单元，用于调整所述校准装置的位置，使所述目标校准区位于所述成像区域内；
[0036]执行单元，用于获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源。
[0037]可选地，所述光源包括同轴光源、第一倾斜光源和第二倾斜光源，所述第二倾斜光源的出射光线与水平线的夹角，大于所述第一倾斜光源的出射光线与水平线的夹角；
[0038]所述校准装置包括对应于所述同轴光源的同轴校准区域、对应于所述第一倾斜光源的第一角度校准区域，以及对应于所述第二倾斜光源的第二角度校准区域；
[0039]所述同轴校准区域内设有呈长条状的弧形凸起，所述弧形凸起的横截面为弧形曲面；
[0040]所述第一角度校准区域和所述第二角度校准区域分别包括至少一个弧形基底件，所述弧形基底件呈长条状；所述弧形基底件包括两个弧形侧部，所述两个弧形侧部呈对称设置，且所述弧形侧部的横截面为弧形曲面；
[0041]所述第一角度校准区域中，所述弧形侧部的弧形基底与水平线的夹角与所述第一倾斜光源的目标照明角呈正相关；所述第二角度校准区域中，所述弧形侧部的弧形基底与水平线的夹角与所述第二倾斜光源的目标照明角呈正相关。
[0042]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：
[0043]本专利技术提供了一种基于线扫成像系统的光源校准方法及系统，通过设置位置可调节的校准装置，在需要对光源进行校准时，使校准装置中对应于待校准光源的目标校准区位于成像区域内，从而能够以线扫成像系统所采集的检测图像作为校准依据以校准待校准光源；基于此，本专利技术有效提高了光源的校准精度，从而能够确保视觉检测系统的检测效果。
附图说明
[0044]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于线扫成像系统的光源校准方法，用于对光源进行校准，所述光源照射于所述线扫成像系统的成像区域中；其特征在于，提供一校准装置，所述校准装置包括与所述光源的类型一一对应的校准区域；所述校准方法包括：确定待校准光源的光源类型，根据所述光源类型从所述校准装置中确定目标校准区；调整所述校准装置的位置，使所述目标校准区位于所述成像区域内；获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源。2.根据权利要求1所述的基于线扫成像系统的光源校准方法，其特征在于，所述获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源，包括：获取所述检测图像中的光斑分布情况；基于所述光斑分布情况校准所述待校准光源的照射角度，直至所述检测图像中的光斑呈现正弦分布。3.根据权利要求1所述的基于线扫成像系统的光源校准方法，其特征在于，所述光源包括多个照射区域；所述获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源，包括：获取所述检测图像的亮度分布情况；基于所述亮度分布情况，对所述光源进行分区调整，直至所述检测图像的亮度呈均匀分布。4.根据权利要求1所述的基于线扫成像系统的光源校准方法，其特征在于，所述获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源，包括：获取所述检测图像的灰度值区域；将所述灰度值区域与预设的标准区域范围进行比对，根据比对结果校准所述待校准光源的第一角度参数，直至所述检测图像的灰度值区域与预设的标准区域范围相符。5.根据权利要求1所述的基于线扫成像系统的光源校准方法，其特征在于，所述获取所述线扫成像系统采集的检测图像，基于所述检测图像校准所述待校准光源，包括：获取所述检测图像的灰度值分布情况；基于灰度值分布情况校准所述待校准光源的第二角度参数，直至所述检测图像的灰度分布呈现高斯分布。6.根据权利要求1所述的基于线扫成像系统的光源校准方法，其特征在于，所述光源包括同轴光源，所述校准装置包括对应于所述同轴光源的同轴校准区域；所述同轴校准区域内设有呈长条状的弧形凸起，所述弧形凸起的横截面为弧形曲面。7.根据权利要求1所述的基于线扫成像系统的光源校准方法，其特征在于，所述光源还包括第一倾斜光源和第二倾斜光源，所述第二倾斜光源的出射光线与水平线的夹角，大于所述第一倾斜光源的...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹波，李文强，
申请(专利权)人：东莞市沃德普自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：