本发明专利技术公开了一种用地气与X荧光异常推断伟晶岩稀有金属矿延深方法，可以判断伟晶岩矿脉的延深深度与矿脉的延长长度。包括如下步骤：S1：基于该方法完成目标区域土壤样品中各元素含量测量，完成具有工作价值的异常区域判定；S2：针对异常区域的工作剖面，向地下倾覆方向一侧进行地气法测量，获取伟晶岩脉倾覆一侧的深部岩脉上方的地气信息，划分出剖面图上异常位置；S3：判断地气异常物质是否来自深部伟晶岩稀有金属矿矿体，若是，则进入S4；S4：基于目标区域前期地质与工程资料确定伟晶岩矿脉倾角，并基于目标区域地形图编制包括地气异常与X荧光异常的综合剖面图；S5：基于获得的综合剖面图完成伟晶岩稀有金属矿脉的延长长度与埋深深度推断。埋深深度推断。埋深深度推断。
【技术实现步骤摘要】
一种地气与X荧光异常推断伟晶岩稀有金属矿延深方法
[0001]本专利技术属于伟晶岩稀有金属矿勘查
，尤其涉及一种可以推断伟晶岩是否为矿化体，以及含矿伟晶岩脉向地下的延深深度与延长长度的方法。
技术介绍
[0002]一般情况下，在一个伟晶岩稀有金属矿勘查区找矿时我们会面对数量众多的伟晶岩脉，但含矿的伟晶岩脉比例甚少，找矿的主要工作就是要判断哪些伟晶岩脉具有矿化，以及矿化体向深部的延长长度与埋深深度，据此评判被评价伟晶岩脉是否具有找矿价值。对隐伏伟晶岩脉，则需要确认矿脉顶部在地表投影位置以及深部含矿性。
[0003]目前伟晶岩稀有金属矿勘查技术主要是传统化探法，普通物探虽有一定应用，但效果大都不佳。传统化探法通过面积或剖面取样后做化学分析获取矿体元素和共（伴）生元素（这些元素称之为找矿指示元素）含量，捕获这些元素在地表形成的指示元素异常，指导找矿。但该法无法判断地表以下深部的伟晶岩脉的含矿性，且成本较高。基于电、磁、重力、地震的普通物探，虽然可以获得深部地质体的电、磁、重力、地震波等物性信息，但这些物性均是间接找矿信息，无法对深部伟晶岩含矿性做出定性判别，加之伟晶岩脉产于花岗岩中，伟晶岩矿脉的物性参数与花岗岩的物性参数差异小，导致普通物探在高成本投入后只能提供一些辅助的间接找矿信息。在伟晶岩稀有金属矿勘查领域，目前，仅地气测量可以直接获取埋深50～1000m左右各类伟晶岩稀有金属矿的矿体元素的含量信息，定性确定深部伟晶岩脉的含矿性。但地气测量对地表矿化信息不敏感，难以通过地气测量准确捕获伟晶岩稀有金属矿在地表形成的矿化异常。
[0004]目前市场上广泛应用的是基于Si
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PIN或SDD探测器的商品化手持式X荧光仪，这类X荧光仪器可以在野外现场或野外驻地完成类似于化探的土壤X荧光测量，直接测定Nb、Ta等原子序数较高的伟晶岩稀有金属矿的矿体元素含量，实现对矿异常的捕获。对Li、Be等原子序数较低的伟晶岩稀有金属矿，虽不能直接测量矿体元素含量，但可以测量同属稀有金属簇的Nb、Ta、Rb、Y等元素的含量，用这些在地质理论与实践中已经证实与Li、Be具有密切共生关系的元素作为找矿指示元素，捕获这些元素在土壤中形成的异常，结合来自同一伟晶岩脉深部的Li、Be的地气含量信息是否有异常显示，进而可靠做出所捕获的X荧光指示元素异常是否是矿异常的结论。
[0005]单独以地气、或X荧光测量来勘查伟晶岩稀有金属矿虽有一定效果，但均存在技术缺陷，难以满足伟晶岩稀有金属矿勘查的要求。
[0006]地气测量勘查伟晶岩稀有金属矿存在两个方面问题：1）无法准确获取地表矿（化）形成的地气异常。因为地气物质的迁移动力是地壳内部存在的压力差与温度差，地表的压力差与温度差可以近视认为等于0，由于没有地气迁移动力，地表矿（化）物质无法形成明显的地气异常。
[0007]2）虽然知道地气异常反应的是来自深部的矿化信息，但无法知道产生异常的信息源（矿化体）究竟埋藏多深，也无法知晓作为脉状矿体的伟晶岩稀有金属矿延深深度与延伸
长度为多少。
[0008]X荧光测量勘查伟晶岩稀有金属矿也存在两个问题：1）只能捕获近地表矿（化）形成的异常，对伟晶岩脉深部矿化情况无法做出判断。
[0009]2）对Li、Be等低原子序数伟晶岩稀有金属矿，X荧光测量无法直接获得矿体元素异常信息。
技术实现思路
[0010]本专利技术的目的在于，为克服现有技术缺陷，提供了一种用地气与X荧光异常推断伟晶岩稀有金属矿延深方法，本专利技术将地气与X荧光测量结合，并借助本专利技术专门针对伟晶岩稀有金属矿建立的数据处理与解释方法，使两种方法相互弥补各自的技术缺陷，获取伟晶岩稀有金属矿勘查需要的地表到深部的找矿信息，平面上实现确定伟晶岩稀有金属矿脉顶部位置、以及走向；深部则实现了对矿脉延长长度及埋深深度的大致确定。
[0011]本专利技术目的通过下述技术方案来实现：一种用地气与X荧光异常推断伟晶岩稀有金属矿延深方法，所述推断伟晶岩矿脉延深方法至少包括如下步骤：S1：基于X荧光方法完成目标区域土壤样品中各特征荧光元素含量测量，基于测量结果中各元素异常情况，完成具有进一步工作价值的异常区域判定；S2：针对异常区域的工作剖面，在伟晶岩脉向地下倾覆方向一侧进行地气法测量，获取伟晶岩脉倾覆一侧的深部伟晶岩脉上方的地气信息，并基于地气信息获得的各地气元素含量完成相应元素的剖面图，划分出剖面图上异常位置；S3：判断地气异常物质是否来自深部伟晶岩稀有金属矿矿体，若是，则进入S4；S4：基于目标区域前期地质与工程资料确定伟晶岩稀有金属矿脉倾角α，并基于目标区域地形图编制包括地气异常与X荧光异常的综合剖面图；S5：基于S4获得的综合剖面图完成伟晶岩脉的延长长度与埋深深度推断。
[0012]根据一个优选的实施方式，步骤S4中获得综合剖面图中还包括：伟晶岩矿脉顶部在地表的投影位置A点和矿脉延深最大深度边界点在地表的投影位置B点，其中A点为基于步骤S1利用X荧光异常获得；B点为基于步骤S2利用地气法在矿脉倾覆一侧的测得的异常边界确定。
[0013]根据一个优选的实施方式，步骤S5具体包括：基于A点和B点位置，获得A点和B点的水平距离L0；基于目标区域地形图获得B点相对于A点的高度差h1；则伟晶岩矿脉的延深长度l= L0/cosα；矿脉延深最大深度边界点相对于A点的深度h2= L0*tanα，则矿脉延深最大深度边界点的埋藏深度h =（h1+h2）。
[0014]根据一个优选的实施方式，所述步骤S1具体包括：S11：于目标区域，按照基本垂直于区内已知伟晶岩脉走向方向布设X荧光测线或测区；S12：对测线或测区内采集的土壤样品，在保证土壤不结块的前提下，自然风干土壤样品；S13：将步骤S12获得风干土壤样品过筛，保留成功过筛的土壤作为待测样品；
S14：通过X荧光仪器完成待测样品中荧光元素Nb、Ta、Rb、Y、Zr的含量测量；S15：基于步骤S4测得各元素含量获得若干成图参数，并基于各成图参数分别编制剖面图或平面剖面图；并在平面剖面图基础上编制平面等值图；当确认X荧光异常为伟晶岩稀有金属矿矿异常时，所述平面等值图中各剖面确认的异常位置则反应了伟晶岩矿脉或其顶部在地表的投影位置；S16：针对剖面或面积测量时，若发现各成图参数存在异常，且各参数的异常位置一致，则判定异常为具有进一步工作价值的异常，或判定异常区域为具有进一步工作价值的区域。
[0015]根据一个优选的实施方式，步骤S13具体为：将步骤S12获得风干土壤样品过80目筛，保留小于80目的土壤作为待测样品。
[0016]根据一个优选的实施方式，所述成图参数为：Nb/Zr、Ta/Zr、Rb/Zr和Y/Zr的元素含量比值；或者为Nb、Ta、Rb、Y元素含量；当单元素或元素比形成的异常不显著时，，所述成图参数为：（Nb+Ta+Rb）/Zr、（Nb+Rb+Y）/Zr的元素含量比值；或者为Nb+Ta+Rb、Nb+ Rb+Y的元素含量。
[0017]根据一个优选的实施方式，所述步骤S2本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用地气与X荧光异常推断伟晶岩稀有金属矿延深方法，其特征在于，所述伟晶岩稀有金属矿脉的延长长度与埋深深度推断至少包括如下步骤：S1：基于X荧光方法完成目标区域土壤样品中各荧光特征指示元素含量测量，基于测量结果中各元素异常情况，完成具有进一步工作价值的异常区域判定；S2：针对异常区域的工作剖面，在伟晶岩脉向地下倾覆方向一侧进行地气法测量，获取伟晶岩脉倾覆一侧的深部伟晶岩脉上方的地气信息，并基于地气信息获得的各地气特征指示元素含量完成相应元素的剖面图，划分出剖面图上异常位置；S3：判断地气异常物质是否来自深部伟晶岩稀有金属矿矿体，若是，则进入S4；S4：基于目标区域前期地质与工程资料确定伟晶岩矿脉倾角α，并基于目标区域地形图编制包括地气异常与X荧光异常的综合剖面图；S5：基于S4获得的综合剖面图完成伟晶岩稀有金属矿脉的延长长度与埋深深度推断。2.如权利要求1所述的推断伟晶岩稀有金属矿脉延深的方法，其特征在于，步骤S4中获得综合剖面图中还包括：伟晶岩矿脉顶部在地表的投影位置A点和矿脉延深最大深度边界点在地表的投影位置B点，其中A点为基于步骤S1利用X荧光异常获得；B点为基于步骤S2利用地气法在矿脉倾覆一侧测得的异常边界确定。3.如权利要求2所述的推断伟晶岩稀有金属矿脉延深的方法，其特征在于，步骤S5具体包括：基于A点和B点位置，获得A点和B点的水平距离L0；基于目标区域地形图获得B点相对于A点的高度差h1；则伟晶岩矿脉的延长长度l= L0/cosα；矿脉延深最大深度边界点相对于A点的深度h2= L0*tanα，则矿脉延深最大深度边界点的埋深深度h =（h1+h2）。4.如权利要求1所述的推断伟晶岩稀有金属矿脉延深的的方法，其特征在于，所述步骤S1具体包括：S11：于目标区域，按照基本垂直于区内已知伟晶岩脉走向方向布设X荧光测线或测区；S12：对测线或测区内采集的土壤样品，在保证土壤不结块的前提下，自然风干土壤样品；S13：将步骤S12获得风干土壤样品过筛，保留成功过筛的土壤作为待测样品；S...
【专利技术属性】
技术研发人员：周四春，刘晓辉，王登红，
申请(专利权)人：中国地质科学院矿产资源研究所，
类型：发明
国别省市：
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