一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置，包括：根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标，并对验证指标进行细化，以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系；基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目；为该验证项目确定对应的验证试验项目；基于所确定的验证试验项目执行试验验证，以获得验证结果。利用本发明专利技术的方法可以为多种国产电子元器件的通用质量特性验证项目提供指导，有针对性地开展验证工作，给出具体的验证方法，确保国产电子元器件在应用中的风险降至最低。险降至最低。险降至最低。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置


[0001]本专利技术涉及电子器件
，尤其涉及一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置。

技术介绍

[0002]随着国际形势的日益严峻，欧美发达国家对我国进行电子元器件出口限制，同时技术状态和生产过程具有不可控性，长期供应和售后得不到保障，严重制约着国家科技和信息化发展水平。随着我国电子元器件产业体系不断发展和完善，国产元器件的研制生产和质量保障能力得到了快速提升，产品系列更加完善。但已经完成研制的元器件在型号的推广应用过程中仍存在“不好用”“不敢用”“用不好”等问题。主要原因是元器件的鉴定试验方法和技术与实际应用情况存在一定的差距同时元器件研制与鉴定过程中所提供的信息及数据不能充分的代表其功能、性能、环境适应性、质量可靠性，这就使得用户更加趋向于应用已有成功应用经历的进口“成熟”元器件，严重影响了国产电子元器件的发展。
[0003]因此，亟需对国产电子元器件开展通用质量特性应用验证，可以及时发现潜在的质量隐患和应用环境不适应等“不好用”问题，及早反馈给元器件研制单位进行改进完善，促进产品研制成熟；通过对元器件应用支持数据的充分获取和科学评价。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置，用以实现对国产元器件开展通用质量特性应用验证，保证国产电子元器件在应用中的风险降至最低。
[0005]本专利技术实施例提供一种电子元器件通用质量特性验证方法，包括：
[0006]根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标，并对验证指标进行细化，以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系；
[0007]基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目；
[0008]为该验证项目确定对应的验证试验项目；
[0009]基于所确定的验证试验项目执行试验验证，以获得验证结果。
[0010]在一些实施例中，设计的验证指标包括：可靠性指标、环境适应性指标以及保障性指标；
[0011]对验证指标进行细化包括：
[0012]为各验证指标设计对应的二级验证指标和三级验证指标，其中所述二级验证指标为验证项目类别，至少一个三级验证指标，所述三级验证指标包括具体的验证项目。
[0013]在一些实施例中，基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目包括：根据该电子元器件的元器件特点及应用需求确定验证项目。
[0014]在一些实施例中，为该验证项目确定对应的验证试验项目包括：
[0015]根据确定的多个验证项目建立验证试验项目逻辑关系，以验证工作效率和效益的最大化为目标，设计试验项目的串行、并行关系。
[0016]在一些实施例中，在该电子元器件为电连接器的情况下，基于所确定的验证试验项目执行试验验证，以获得验证结果包括：
[0017]进行基础级验证，包含结构分析、极限应力试验；
[0018]根据产品的后期使用状态进行板卡设计及产品组装，对组装后的板卡进行环境适应性、装联适应性验证，以确定的该电连接器的通用质量特性应用验证项目。
[0019]本申请实施例还提出一种电子元器件通用质量特性验证装置，包括处理器，其配置为：
[0020]根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标，并对验证指标进行细化，以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系；
[0021]基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目；
[0022]为该验证项目确定对应的验证试验项目；
[0023]基于所确定的验证试验项目执行试验验证，以获得验证结果。
[0024]本申请实施例还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现前述的方法的步骤。
[0025]利用本专利技术的方法可以为多种国产电子元器件的通用质量特性验证项目提供指导，有针对性地开展验证工作，给出具体的验证方法，确保国产电子元器件在应用中的风险降至最低。
[0026]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
附图说明
[0027]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
[0028]图1为本申请实施例电子元器件通用质量特性验证方法的基本流程图；
[0029]图2为本申请实施例的国产电子元器件通用质量特性应用验证方法的验证框架；
[0030]图3为本申请实施例的国产电连接器通用质量特性应用验证流程示例。
具体实施方式
[0031]下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0032]本专利技术实施例提供一种电子元器件通用质量特性验证方法，如图1所示，包括：
[0033]在步骤S101中，根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标，并对验证指标进行细化，以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系。具体的，本示例中可以根据国产电子元器件自身特性、验证需求及其应用环境条件分析的结果，可以选择相应的环境适应性、可靠性、保障性的验证内容，明确试验时需要监测和验证的参数。进一步还可以根据
所需验证内容，设计相应的测试电路、系统和环境，开展试验，同时记录试验过程中的相关数据。同时，为保障国产元器件的正常使用，需要提供相关保障资源。
[0034]在步骤S102中，基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目；
[0035]在步骤S103中，为该验证项目确定对应的验证试验项目；
[0036]在步骤S104中，基于所确定的验证试验项目执行试验验证，以获得验证结果。具体可以根据国产元器件验证需求以及相关标准中试验方法的判据，对国产元器件各通用质量特性的验证试验数据进行分析，给出通用质量特性各试验项目的验证结果。
[0037]在一些实施例中，设计的验证指标包括：可靠性指标、环境适应性指标以及保障性指标；
[0038]对验证指标进行细化包括：
[0039]为各验证指标设计对应的二级验证指标和三级验证指标，其中所述二级验证指标为验证项目类别，至少一个三级验证指标，所述三级验证指标包括具体的验证项目。
[0040]具体的说，例如可以将可靠性指标、环境适应性指标以及保障性指标作为一级指标，在对应的一级指标下，进一步设计二级指标，例如保障性指标相关的二级指标可以包括生产过程指标，应用指标等等，然后进一步在二级指标下设置三级验本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件通用质量特性验证方法，其特征在于，包括：根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标，并对验证指标进行细化，以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系；基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目；为该验证项目确定对应的验证试验项目；基于所确定的验证试验项目执行试验验证，以获得验证结果。2.如权利要求1所述的电子元器件通用质量特性验证方法，其特征在于，设计的验证指标包括：可靠性指标、环境适应性指标以及保障性指标；对验证指标进行细化包括：为各验证指标设计对应的二级验证指标和三级验证指标，其中所述二级验证指标为验证项目类别，至少一个三级验证指标，所述三级验证指标包括具体的验证项目。3.如权利要求1所述的电子元器件通用质量特性验证方法，其特征在于，基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目包括：根据该电子元器件的元器件特点及应用需求确定验证项目。4.如权利要求1所述的电子元器件通用质量特性验证方法，其特征在于，为该验证项目确定对应的验证试验项目包括：根据确定的多个验证项目建立验证试验...

【专利技术属性】
技术研发人员：李晓丹，田立冬，潘纯娣，王晶，肖保军，陈晓宇，谭丽明，包雷，吕梦琴，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十五研究所，
类型：发明
国别省市：