磁盘装置制造方法及图纸

实施方式提供能够提高读性能的磁盘装置。本实施方式涉及的磁盘装置具备：盘，其具有包含第1奇偶校验扇区的第1磁道和包含第2奇偶校验扇区的第2磁道；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；以及控制器，其将对所述第1磁道和所述第2磁道各自所包含的第1扇区组进行XOR运算而得到的第3奇偶校验扇区写入到所述第1奇偶校验扇区，将对所述第1磁道和所述第2磁道各自所包含的与所述第1扇区组不同的第2扇区组进行XOR运算而得到的第4奇偶校验扇区写入到所述第2奇偶校验扇区。写入到所述第2奇偶校验扇区。写入到所述第2奇偶校验扇区。

【技术实现步骤摘要】
磁盘装置
[0001]本申请享受以日本特许申请2021－37475号(申请日：2021年3月9日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。


[0002]本专利技术的实施方式涉及磁盘装置。

技术介绍

[0003]磁盘装置具有包含对各扇区进行异或(Exclusive OR：XOR)运算而而得到的奇偶校验扇区的磁道。磁盘装置在该磁道的预定扇区检测到错误的情况下，执行基于与该磁道对应的奇偶校验扇区来通过纠错码(Error Correction Code)对错误进行纠正的纠错处理(以下有时也称为磁道ECC处理)。

技术实现思路

[0004]本专利技术的实施方式提供能够提高读性能的磁盘装置。
[0005]本实施方式涉及的磁盘装置具备：盘，其具有包含第1奇偶校验扇区的第1磁道和包含第2奇偶校验扇区的第2磁道；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；以及控制器，其将对所述第1磁道和所述第2磁道各自所包含的第1扇区组进行XOR运算而得到的第3奇偶校验扇区写入到所述第1奇偶校验扇区，将对所述第1磁道和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁盘装置，具备：盘，其具有包含第1奇偶校验扇区的第1磁道和包含第2奇偶校验扇区的第2磁道；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；以及控制器，其将对所述第1磁道和所述第2磁道各自所包含的第1扇区组进行XOR运算而得到的第3奇偶校验扇区写入到所述第1奇偶校验扇区，将对所述第1磁道和所述第2磁道各自所包含的与所述第1扇区组不同的第2扇区组进行XOR运算而得到的第4奇偶校验扇区写入到所述第2奇偶校验扇区。2.根据权利要求1所述的磁盘装置，所述控制器在空闲时算出所述第3奇偶校验扇区和所述第4奇偶校验扇区，将所述第3奇偶校验扇区写入到所述第1奇偶校验扇区，将所述第4奇偶校验扇区写入到所述第2奇偶校验扇区。3.根据权利要求1或者2所述的磁盘装置，所述控制器对所述第1磁道和所述第2磁道进行读取，在所述第1磁道和所述第2磁道的除所述第1奇偶校验扇区和所述第2奇偶校验扇区以外的全部扇区中选择从所述第1磁道的第一个第1扇区起每隔数个扇区而配置的所述第1扇区组，对所述第1扇区组进行交叉处理，对进行了交叉处理的所述第1扇区组进行XOR运算来算出所述第3奇偶校验扇区，在所述第1磁道和所述第2磁道的除所述第1奇偶校验扇区和所述第2奇偶校验扇区以外的全部扇区中选择从所述第1磁道的与所述第1扇区在所述盘的圆周方向上相邻的第2扇区起每隔数个扇区而配置的所述第2扇区组，对所述第2扇区组进行交叉处理，对进行了交叉处理的所述第2扇区组进行XOR运算来算出所述第4奇偶校验扇区。4.根据权利要求1或者2所述的磁盘装置，所述控制器对所述第1磁道和所述第2磁道进行读...

【专利技术属性】
技术研发人员：大坪纯，
申请(专利权)人：东芝电子元件及存储装置株式会社，
类型：发明
国别省市：