本实用新型专利技术涉及石墨烯涂布生产技术领域，尤其涉及一种石墨烯涂布膜厚度测量装置。其包括：用于放置石墨烯涂布膜的模具，模具中部设有容纳空间，模具的两侧分别设有竖直导向柱；抵压块，设有与竖直导向柱相配合的导向孔，抵压块的一侧连接有移动块；用于测量移动块移动距离的测量单元。本实用新型专利技术可以测量出石墨烯涂布膜在低温处理阶段的厚度变化，整体结构简单，操作方便。操作方便。操作方便。
【技术实现步骤摘要】
一种石墨烯涂布膜厚度测量装置
[0001]本技术涉及石墨烯涂布生产
，尤其涉及一种石墨烯涂布膜厚度测量装置。
技术介绍
[0002]石墨烯涂布膜在进行热处理时，需要经历3个阶段，分别为：低温热处理、碳化、石墨化三个阶段，在低温热处理时，发现石墨烯涂布膜的厚度变化在热胀冷缩时并非线性变化；而是具有界点；该界点与石墨烯涂布膜的原料组分相关；由于在低温处理时，石墨烯涂布膜是集中进行处理，为了能够更加优化的放置更多的石墨烯涂布膜进行低温热处理；因此需要了解石墨烯涂布膜的厚度变化，以使得热处理模具能够与石墨烯涂布膜的数量匹配。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于针对现有技术的不足，提供一种石墨烯涂布膜厚度测量装置，该测量装置可以对石墨烯涂布膜在低温热处理阶段的厚度变化进行跟踪测量，整体结构简单易于实现。
[0004]一种石墨烯涂布膜厚度变化测量装置，其包括：
[0005]用于放置石墨烯涂布膜的模具，模具中部设有容纳空间，模具的两侧分别设有竖直导向柱；
[0006]抵压块，设有与竖直导向柱相配合的导向孔，抵压块的一侧连接有移动块；
[0007]用于测量移动块移动距离的测量单元。
[0008]进一步地，导向孔内设有竖直轴承，竖直轴承与竖直导向柱套接。
[0009]进一步地，所述测量单元包括测量尺或测距仪。
[0010]进一步地，测量单元包括旋转编码器，所述移动块的一侧设有齿条，编码器连接有齿轮，还包括支架，支架连接有固定轴，齿轮与固定轴转动连接，齿轮与齿条啮合。
[0011]进一步地，齿轮与固定轴之间设有轴承。
[0012]进一步地，所述旋转编码器连接有智能设备。
[0013]进一步地，智能设备包括：PLC、工控机或电脑。
[0014]本技术的有益效果：本技术可以测量出石墨烯涂布膜在低温处理阶段的厚度变化，整体结构简单，操作方便。
附图说明
[0015]图1为本实施例的一种结构示意图。
[0016]图2为本实施例的另一种结构示意图。
[0017]附图标记包括：
[0018]1——模具；2——竖直导向柱；3——竖直轴承；4——抵压块；5——移动块；6——
测量单元；7——容纳空间；8——齿条；9——齿轮；10——支架；11——旋转编码器；12——智能设备。
具体实施方式
[0019]以下结合附图对本技术进行详细的描述。如图1至图2所示。
[0020]实施例：参考图1，一种石墨烯涂布膜厚度变化测量装置，其包括：
[0021]用于放置石墨烯涂布膜的模具1，模具1中部设有容纳空间7，模具1的两侧分别设有竖直导向柱2；
[0022]抵压块4，设有与竖直导向柱2相配合的导向孔，抵压块4的一侧连接有移动块5；
[0023]用于测量移动块5移动距离的测量单元6。
[0024]本技术方案将石墨烯涂布膜厚度的变化转变成移动块5的上下位置变化，通过测量移动块5上下位置的变化量，从而获取石墨烯涂布膜的厚度变化量；在具体实施时，模具1形成有容纳空间7，石墨烯涂布膜堆积到容纳空间7内，如将200、300、400或500层石墨烯涂布膜的物品放置于容纳空间7内，或是将N个表面镀有石墨烯涂布膜的物品放置于容纳空间7内；该物品的厚度在低温处理阶段中的热胀冷缩变化率很低，相对石墨烯涂布膜的厚度变化可以忽略；其次，抵压块4的重量选择适当，避免或减少抵压块4的重量对石墨烯涂布膜厚度变化的影响。其次针对移动距离测距，可以采用多种简易的测量装置，如最直接的：直尺测量；移动块5附近放置直尺，移动块5的变化可以直接获取；也可以安装测距仪等，测试出移动块5的移动距离。
[0025]测量时，将模具1等一同放入一个加热装置中，如加热箱、烘烤箱等（此为现有技术），在加热箱内进行低温热处理，抵压块4放置于最上方石墨烯涂布膜的上方，然后进行低温热处理。在温度变化过程中，石墨烯涂布膜的厚度发生变化，该变化引起抵压块4以及移动块5高度的变化，测量机构对对移动块5的移动距离进行测距，最后测量出石墨烯涂布膜的厚度变化；测量时可以采用节点式、曲线式等多种方式，测量出在低温处理阶段各个温度节点上的厚度变化。温度节点可以选取每0.5度为一个节点。
[0026]进一步地，导向孔内设有竖直轴承3，竖直轴承与竖直导向柱2套接。
[0027]设置竖直轴承3，减少抵压块4上下移动的摩擦。
[0028]进一步地，所述测量单元6包括测量尺或测距仪。
[0029]测量尺可以读取，该测量方式适合于节点式，每隔一个温度节点读取一个位移数据。采用测距仪，可以将厚度变化的数值整体记录下来，适用于曲线式，变化数值形成曲线。测距仪可以采用激光、声呐等方式。
[0030]进一步地，测量单元6包括旋转编码器11，所述移动块5的一侧设有齿条8，编码器连接有齿轮9，还包括支架10，支架10连接有固定轴，齿轮9与固定轴转动连接，齿轮9与齿条8啮合。
[0031]为了提高测量精度，同时降低测量成本；本技术方案采用旋转编码器11测量的方式，移动块5在移动时，移动块5驱动齿轮9转动，旋转编码器11计算齿轮9转动的角度，从而计算出移动块5的移动距离，以及石墨烯涂布膜厚度的变化。旋转编码器11可以自带接口板，通过接口板的显示装置对移动距离数值进行显示。
[0032]进一步地，齿轮9与固定轴之间设有轴承。
[0033]为使得齿轮9旋转的阻力更小，增设轴承以减少摩擦力。
[0034]进一步地，所述旋转编码器11连接有智能设备12。
[0035]为方便获取移动块5的移动距离以及石墨烯涂布膜厚度的变化，将旋转编码器11与智能设备12连接，通过智能设备12计算出对应的数值。
[0036]进一步地，智能设备12包括：PLC、工控机或电脑。
[0037]以上内容仅为本技术的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。
本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种石墨烯涂布膜厚度测量装置，其特征在于：其包括：用于放置石墨烯涂布膜的模具，模具中部设有容纳空间，模具的两侧分别设有竖直导向柱；抵压块，设有与竖直导向柱相配合的导向孔，抵压块的一侧连接有移动块；用于测量移动块移动距离的测量单元。2.根据权利要求1所述的一种石墨烯涂布膜厚度测量装置，其特征在于：导向孔内设有竖直轴承，竖直轴承与竖直导向柱套接。3.根据权利要求1所述的一种石墨烯涂布膜厚度测量装置，其特征在于：所述测量单元包括测量尺或测距仪。4.根据权利要求1所述的一种石...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡金明，廖骏华，温清高，黄琳，王伟，
申请(专利权)人：云南云天墨睿科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。