一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版及其测试方法技术

本发明专利技术公开了一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版及其测试方法，所述测试网版包括硅片，硅片正面的中部标设十字线将其分隔为四个相同面积的印刷区域，四个所述印刷区域以两对角为一组分为两组，第一组两个印刷区域按对角排列两排竖栅线，第二组两个印刷区域按对角排列两排横栅线，每排竖栅线和横栅线均包括6条相同尺寸的栅线，栅线之间相互平行。本发明专利技术提供一种接触电阻测试的网版设计及测试方法，以更好的评估材料的性能，有效的提高电池片转化效率。此外，这种网版和测试方法能够满足两种不同的银电极印刷在同一张硅片上，有效的降低了不同硅片之间体电阻的差异，保证了接触电阻测试结果的准确性。触电阻测试结果的准确性。触电阻测试结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版及其测试方法


[0001]本专利技术公开了一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版及其测试方法。

技术介绍

[0002]太阳能电池电极的优化是提高电池片性能，降低生产成本的一个重要手段。电池片正面银浆通常由高纯度的银粉、玻璃体系、有机体系等组成。其中，银粉作为导电功能相，其优劣将直接影响到电极材料的体电阻、接触电阻等，进而影响光电转换效率；玻璃体系为高温粘接相，对银粉的烧结及银
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硅欧姆接触的形成有决定作用；有机体系作为承载银粉和玻璃体系的关键组成，对印刷性能、印刷质量有较大影响。因此，通过测试银浆中银硅之间接触电阻，能够有效的评判银粉、玻璃粉材料的可行性，从而更准确的筛选材料。
[0003]目前常用的接触电阻测试方法为TLM方法和Core Scan法，这两种方法都能够测试接触电阻的大小。然而，由于硅片片源之间的差异，若在不同的两张硅片上测试来评判银硅之间接触电阻的大小，即所得到的测量结果准确性就不能很好判断了。因此，为提高测试的准确性，降低实验成本，满足测试要求，需寻找一种方法在同一片源测试不同银电极接触电阻的方法。
[0004]另外，现有技术中电池片接触电阻测试设备有很多，但由于其价格昂贵，探针排易损坏，维修价格昂贵等问题，制约了电阻测试仪在筛选原材料制备银浆过程中的有效使用。此外，一些接触电阻测试方法在触压银电极的过程中，由于电池片副栅线太细，导致接触面积较小，操作时容易偏离银电极，导致测试结果的准确性偏离理论值，影响对原材料选择的判断。

技术实现思路

[0005]针对现有技术存在的上述技术问题，本专利技术的目的在于提供一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版及其测试方法。本专利技术提供一种接触电阻测试的网版设计及测试方法，以更好的评估材料的性能，有效的正对性提高电池片转化效率。此外，这种网版和测试方法能够满足两种不同的银电极印刷在同一张硅片上，有效的降低了不同硅片之间体电阻的差异，保证了接触电阻测试结果的准确性。
[0006]所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于所述测试网版包括硅片，硅片正面的中部标设十字线将其分隔为四个相同面积的印刷区域，四个所述印刷区域以两对角为一组分为两组，第一组两个印刷区域按对角排列两排竖栅线，第二组两个方向区域按对角排列两排横栅线，每排竖栅线和横栅线均包括6条相同尺寸的栅线，栅线之间相互平行。
[0007]所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于所述每条栅线的长度为15~25mm，优选为20mm。
[0008]所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于每排竖栅线的各条栅线的宽度相同，栅线的宽度在0.3~0.5mm。
[0009]所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于每排竖栅线或横栅线均是设置在相应印刷区域的中心区域位置。
[0010]所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于按照从左至右的方向，每排竖栅线的相邻两条栅线之间间隔由密至疏分布设置；同时按照从上至下的方向，每排横栅线的相邻两条栅线之间间隔由密至疏分布设置。
[0011]所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于每排6条栅线两相邻的栅线间隔分别是0.2mm，0.4mm，0.8mm，1.6mm，3.2mm。
[0012]所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于所述硅片的面积为166mm*166mm。
[0013]所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版的电阻测试方法，其特征在于包括以下步骤：硅片正面的中部标设十字线将其分隔为四个相同面积的印刷区域，将硅片正向放入印刷机印刷银电极，先放入第一种银浆料并在硅片的第一组两个印刷区域按对角印刷两排竖栅线，烘干后的将硅片旋转90
°
，然后放入第二种银浆料并在硅片的第二组两个印刷区域按对角印刷两排横栅线，烘干后将硅片统一放入链式烘干炉中进行烧结，烧结完成后取出硅片进行接触电阻测试，接触电阻测试是通过直流电桥装置上的两根触电笔分别接触硅片上的每排竖栅线或横栅线的相邻两根栅线，电阻测试结果在直流电桥装置的显示屏上显示，即检测完成。
[0014]本专利技术公开的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版的设计及测试方法，该网版在印刷过程中能够分次印刷多款浆料，并利用电桥装置测试出银硅之间接触电阻的大小。
[0015]本专利技术取得的有益效果是：本专利技术优化了接触电阻测试时栅线的长度和宽度，以及栅线之间的间隔，从而在测试结果上能够更准确的说明接触电阻的大小，同时所设计测试的方法能够同时将两种不同的浆料印刷在同一硅片上进行测试，降低了材料评估的复杂程度，在满足材料评估的基础上，进一步降低实验成本。
附图说明
[0016]图1为本申请实施例1中网版的竖栅线设计的结构示意图；图2为本申请竖栅线和横栅线在网版上排布的结构示意图；图3为本申请实施例1中根据表1测试结果绘制的标准曲线；图4为本申请实施例1中根据表2测试结果绘制的标准曲线；图5为本申请实施例1中根据表3测试结果绘制的标准曲线；图6为本申请实施例2中根据表4测试结果绘制的标准曲线；图7为本申请对照例1中根据表5测试结果绘制的标准曲线。
具体实施方式
[0017]下面结合具体实施例对本专利技术作进一步说明，但本专利技术的保护范围并不限于此。
[0018]实施例1：本实施例1中所设计的网版描述如图1所示，网版包括硅片，硅片正面的中部标设
十字线将其分隔为四个相同面积的印刷区域，四个所述印刷区域以两对角为一组分为两组，第一组两个印刷区域按对角排列两排竖栅线，第二组两个方向区域按对角排列两排横栅线。
[0019]两排竖栅线总计包括12条栅线，其中栅线之间相互平行，每6根栅线为一排，两排栅线相对设计。类似地，两排横栅线总计也包括12条栅线，栅线之间相互平行，每6根栅线为一排，两排栅线相对设计。
[0020]本实施例1中，两排竖栅线和两排横栅线分别在四个所述印刷区域的中间位置处，其长度均为20mm，每排6条栅线两相邻的栅线间隔由密至疏分布分别为0.2 mm，0.4 mm，0.8 mm，1.6 mm，3.2 mm。
[0021]进一步地，该网版匹配测试的电池片尺寸为166*166 mm。
[0022]本专利技术实施例1的网版印刷的方式和接触电阻测试方法为：首先将网版装入印刷机台，将硅片正向放入印刷机印刷银电极，硅片正面的中部标设十字线将其分隔为四个相同面积的印刷区域，将硅片正向放入印刷机印刷银电极，先放入第一种银浆料并在硅片的第一组两个印刷区域按对角印刷两排竖栅线，烘干后的将硅片旋转90
°
，然后放入第二种银浆料，印刷状态如图2所示，并在硅片的第二组两个印刷区域按对角印刷两排横栅线，烘干后将硅片统一放入链式烘干炉中进行烧结（750℃下快速烧结1min），烧结完成后取出硅片进行接触电阻测试，接触电阻测试是通过直流电桥装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于所述测试网版包括硅片，硅片正面的中部标设十字线将其分隔为四个相同面积的印刷区域，四个所述印刷区域以两对角为一组分为两组，第一组两个印刷区域按对角排列两排竖栅线，第二组两个印刷区域按对角排列两排横栅线，每排竖栅线和横栅线均包括6条相同尺寸的栅线，栅线之间相互平行。2.如权利要求1所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于所述每条栅线的长度为15~25mm，优选为20mm。3.如权利要求1所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于每排竖栅线的各条栅线的宽度相同，栅线的宽度在0.3~0.5mm。4.如权利要求1所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于每排竖栅线或横栅线均是设置在相应印刷区域的中心区域位置。5.如权利要求1所述的一种硅基光伏用浆料的银硅接触电阻测试网版，其特征在于按照从左至右的方向，每排竖栅线的相邻两条栅线之间间隔由密至疏分布设置；同时按照从上至下的方向，每排横栅线的相邻两条栅线之间间隔由密至...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚志远，裴雷煜，张成超，陈超，刘洁，
申请(专利权)人：上海银浆科技有限公司，
类型：发明
国别省市：