【技术实现步骤摘要】
一种基于模拟退火算法的FPGA布局方法
[0001]本专利技术涉及FPGA
,尤其是一种基于模拟退火算法的FPGA布局方法。
技术介绍
[0002]现场可编程逻辑门阵列(Field
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Programmable Gate Array,FPGA)是一种在日用家电、大型机械乃至航空航天都有广泛使用的芯片。随着FPGA芯片规模的扩大,芯片的布局愈发显得关键和重要,直接影响着芯片的面积、频率等性能。因此在芯片布局上需要综合考虑多方面的代价,在满足多种约束的条件下,如何通过芯片布局的优化来保证芯片的性能和可布性成为保证芯片质量的关键。
[0003]模拟退火算法是目前FPGA的布局优化过程中常用的算法,模拟退火算法是一种启发式的迭代搜索算法,它由Metropolis于1953年提出,其设计原理来自于真实的物理退火过程。
[0004]模拟退火算法用于解决FPGA的布局问题时的流程请参考图1所示的流程图,首先随机形成一个FPGA上的全局初始布局结果,全局初始布局结果包括所有元件实例的初始的布局位置,并初 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于模拟退火算法的FPGA布局方法,其特征在于,所述方法包括:按照用户网表对FPGA进行全局的随机初始布局,得到未达到布局目标的布局结果;根据初始布局得到的布局结果初始化待优化实例集合,所述待优化实例集合包括若干个待优化实例,待优化实例是所述用户网表中在当前的布局结果下的性能指标差于预设阈值的元件实例;在初始布局得到的布局结果的基础上,利用模拟退火算法从所述待优化实例集合中迭代选取待优化实例对布局结果进行优化,并迭代更新待优化实例集合,直至得到FPGA全局的达到布局目标的布局结果。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,用户网表中的元件实例的性能指标与元件实例在当前的布局结果下的时延参数和/或所在区域的拥挤度相关,元件实例在当前的布局结果下的时延越大、所在区域的拥挤度越高、所述元件实例的性能指标越差。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待优化实例集合中包括至少两种不同布局关键度的待优化实例,待优化实例的布局关键度与所述待优化实例的性能指标相关;在一个退火温度下从待优化实例集合中迭代选取待优化实例时,待优化实例集合中每个待优化实例的选取频次与所述待优化实例的布局关键度对应。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,待优化实例的性能指标越差、布局关键度越高、对应的选取频次越高。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述待优化实例集合按照布局关键度划分为若干个互不相交的子集合,每个子集合对应一个布局关键...
【专利技术属性】
技术研发人员:王新晨,惠锋,虞健,
申请(专利权)人:无锡中微亿芯有限公司,
类型:发明
国别省市:
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