本发明专利技术提供一种工件加工状态的检测方法、装置和电子设备，涉及电火花加工技术领域。该方法包括：在检测工件对应的加工状态时，可以先获取工件加工过程中加工设备的目标参考信号；其中，目标参考信号包括目标电流信号、目标电压信号或者目标声音信号中的至少两种；并根据目标参考信号，确定工件对应的目标加工状态；其中，目标加工状态包括临界穿透状态或已穿透状态，从而提高了检测结果的准确度。从而提高了检测结果的准确度。从而提高了检测结果的准确度。
【技术实现步骤摘要】
工件加工状态的检测方法、装置和电子设备
[0001]本专利技术涉及电火花加工
，尤其涉及一种工件加工状态的检测方法、装置和电子设备。
技术介绍
[0002]随着工业技术的不断发展，对微小孔的加工要求也变得越来越高。以航空发动机涡轮叶片的气膜孔为例，目前，主要采用电火花小孔机对涡轮叶片的气膜孔进行加工。
[0003]采用电火花小孔机对涡轮叶片的气膜孔进行加工时，通常是按照实际需要，在涡轮叶片的目标位置进行电极穿透操作，形成气膜孔。但是，若电极穿透操作时间过长，则会损伤涡轮叶片中流道结构和叶身的背面，为了避免损伤涡轮叶片中流道结构和叶身的背面，可以考虑对涡轮叶片的加工状态进行检测，从而提高气膜孔加工过程中涡轮叶片的安全性。
[0004]因此，如何准确地检测涡轮叶片的加工状态，是本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供一种工件加工状态的检测方法、装置和电子设备，在检测工件加工状态时，可以有效地提高检测结果的准确度。
[0006]本专利技术提供一种工件加工状态的检测方法，包括：
[0007]获取工件加工过程中加工设备的目标参考信号；其中，所述目标参考信号包括目标电流信号、目标电压信号或者目标声音信号中的至少两种，所述加工设备用于加工所述工件。
[0008]根据所述目标参考信号，确定所述工件对应的目标加工状态；其中，所述目标加工状态包括临界穿透状态或已穿透状态。
[0009]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测方法，所述目标参考信号包括目标电流信号、目标电压信号和目标声音信号，所述根据所述目标参考信号，确定所述工件对应的目标加工状态，包括：
[0010]获取电流信号、电压信号、声音信号分别与加工状态之间的对应关系。
[0011]根据所述目标电流信号和所述对应关系，确定所述目标电流信号对应的第一加工状态、根据所述目标电压信号和所述对应关系，确定所述目标电压信号对应的第二加工状态、以及根据所述目标声音信号和所述对应关系，确定所述目标声音信号对应的第三加工状态。
[0012]根据所述第一加工状态、所述第二加工状态以及所述第三加工状态，确定所述工件对应的目标加工状态。
[0013]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测方法，所述根据所述第一加工状态、所述第二加工状态以及所述第三加工状态，确定所述工件对应的目标加工状态，包括：
[0014]判断所述第一加工状态、所述第二加工状态以及所述第三加工状态是否为相同。
[0015]在至少两个加工状态相同的情况下，将相同的状态确定为所述工件对应的目标加工状态。
[0016]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测方法，所述获取工件加工过程中加工设备的目标参考信号，包括：
[0017]获取所述工件加工过程中所述加工设备的原始参考信号。
[0018]对所述原始参考信号进行处理，得到所述目标参考信号；其中，所述处理包括低通滤波处理、降采样处理、希尔伯特变换处理或者中值滤波处理中的至少一种。
[0019]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测方法，所述获取所述工件加工过程中所述加工设备的原始参考信号，包括：
[0020]采集所述工件加工过程中所述加工设备的模拟参考信号。
[0021]对所述模拟信号信号进行转换处理，得到数字参考信号，所述数字参考信号为所述原始参考信号。
[0022]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测方法，所述根据所述目标参考信号，确定所述工件对应的目标加工状态，包括：
[0023]获取所述加工设备监测的所述工件的状态信息。
[0024]在所述状态信息指示所述工件的状态为修丝状态或者加工状态的情况下，根据所述目标参考信号，确定所述工件对应的目标加工状态。
[0025]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测方法，所述获取电流信号、电压信号、声音信号分别与加工状态之间的对应关系，包括：
[0026]获取多个样本工件中，各样本工件加工过程中加工设备的样本电流信号、样本电压信号、样本声音信号，以及所述样本工件的加工状态。
[0027]根据所述各样本工件加工过程中加工设备的样本电流信号、样本电压信号、样本声音信号以及所述样本工件的加工状态，建立所述对应关系。
[0028]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测方法，所述根据所述各样本工件加工过程中加工设备的样本电流信号、样本电压信号、样本声音信号以及所述样本工件的加工状态，建立所述对应关系，包括：
[0029]针对各所述加工状态，确定所述各样本工件在所述加工状态下对应的所述样本电流信号的平均电流信号、所述样本电压信号的平均电压信号、以及所述样本声音信号的平均声音信号。
[0030]将所述平均电流信号、平均电压信号、平均声音信号分别与所述加工状态之间的对应关系，确定为所述对应关系。
[0031]本专利技术还提供一种工件加工状态的检测装置，包括：
[0032]获取单元，用于获取工件加工过程中加工设备的目标参考信号；其中，所述目标参考信号包括目标电流信号、目标电压信号或者目标声音信号中的至少两种，所述加工设备用于加工所述工件。
[0033]处理单元，用于根据所述目标参考信号，确定所述工件对应的目标加工状态；其中，所述目标加工状态包括临界穿透状态或已穿透状态。
[0034]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测装置，所述目标参考信号包括目标电流信号、目标电压信号和目标声音信号。
[0035]所述处理单元，具体用于获取电流信号、电压信号、声音信号分别与加工状态之间的对应关系；根据所述目标电流信号和所述对应关系，确定所述目标电流信号对应的第一加工状态、根据所述目标电压信号和所述对应关系，确定所述目标电压信号对应的第二加工状态、以及根据所述目标声音信号和所述对应关系，确定所述目标声音信号对应的第三加工状态；根据所述第一加工状态、所述第二加工状态以及所述第三加工状态，确定所述工件对应的目标加工状态。
[0036]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测装置，所述处理单元，具体用于判断所述第一加工状态、所述第二加工状态以及所述第三加工状态是否为相同；在至少两个加工状态相同的情况下，将相同的状态确定为所述工件对应的目标加工状态。
[0037]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测装置，所述获取单元，具体用于获取所述工件加工过程中所述加工设备的原始参考信号；对所述原始参考信号进行处理，得到所述目标参考信号；其中，所述处理包括低通滤波处理、降采样处理、希尔伯特变换处理或者中值滤波处理中的至少一种。
[0038]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测装置，所述获取单元，具体用于采集所述工件加工过程中所述加工设备的模拟参考信号；对所述模拟信号信号进行转换处理，得到数字参考信号，所述数字参考信号为所述原始参考信号。
[0039]根据本专利技术提供的一种工件加工状态的检测装置，所述处理单元，具体用本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种工件加工状态的检测方法，其特征在于，包括：获取工件加工过程中加工设备的目标参考信号；其中，所述目标参考信号包括目标电流信号、目标电压信号或者目标声音信号中的至少两种，所述加工设备用于加工所述工件；根据所述目标参考信号，确定所述工件对应的目标加工状态；其中，所述目标加工状态包括临界穿透状态或已穿透状态。2.根据权利要求1所述的工件加工状态的检测方法，其特征在于，所述目标参考信号包括目标电流信号、目标电压信号和目标声音信号，所述根据所述目标参考信号，确定所述工件对应的目标加工状态，包括：获取电流信号、电压信号、声音信号分别与加工状态之间的对应关系；根据所述目标电流信号和所述对应关系，确定所述目标电流信号对应的第一加工状态、根据所述目标电压信号和所述对应关系，确定所述目标电压信号对应的第二加工状态、以及根据所述目标声音信号和所述对应关系，确定所述目标声音信号对应的第三加工状态；根据所述第一加工状态、所述第二加工状态以及所述第三加工状态，确定所述工件对应的目标加工状态。3.根据权利要求2所述的工件加工状态的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一加工状态、所述第二加工状态以及所述第三加工状态，确定所述工件对应的目标加工状态，包括：判断所述第一加工状态、所述第二加工状态以及所述第三加工状态是否为相同；在至少两个加工状态相同的情况下，将相同的状态确定为所述工件对应的目标加工状态。4.根据权利要求1
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3任一项所述的工件加工状态的检测方法，其特征在于，所述获取工件加工过程中加工设备的目标参考信号，包括：获取所述工件加工过程中所述加工设备的原始参考信号；对所述原始参考信号进行处理，得到所述目标参考信号；其中，所述处理包括低通滤波处理、降采样处理、希尔伯特变换处理或者中值滤波处理中的至少一种。5.根据权利要求4所述的工件加工状态的检测方法，其特征在于，所述获取所述工件加工过程中所述加工设备的原始参考信号，包括：采集所述工件加工过程中所述加工设备的模拟参考信号；对所述模拟信号信号进行转换处理，得到数字参考信号，所述数字参考信号为所述原始参考信号。6.根据权利要求1
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3任一项所述的工件加工状态的检测方法，其特征在于，所述根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：仇星，刘金鹏，郭建梅，何虎，张凯，吴磊，赵望，安跃峰，
申请(专利权)人：北京市电加工研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：
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