一种NVMeSSD的稳定性测试方法、系统和设备技术方案

本发明专利技术公开了一种NVMeSSD的稳定性测试方法、系统和设备。包括：对待测SSD进行参数修改操作，提高所述待测SSD工作温度阈值，其中所述待测SSD的数量为多个；同步对改造后的所述待测SSD循环进行性能测试，并记录性能测试数据，其中所述性能测试包括存储空间释放测试和格式化测试；获取测试时长和所述待测SSD的数量，并根据所述测试时长和所述待测SSD的数量计算等效测试时长；根据所述等效测试时长确定是否停止测试；停止测试后，根据所述性能测试数据确定稳定性测试结果。本发明专利技术能够在缩短测试时长的同时，更好地模拟实际的用户使用场景，加强测试的可靠性。强测试的可靠性。强测试的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种NVMe SSD的稳定性测试方法、系统和设备


[0001]本专利技术涉及固态硬盘的
，具体涉及一种NVMe SSD的稳定性测试方法、系统和设备。

技术介绍

[0002]随着信息技术的高速发展，数据呈爆炸式的增长，NVMe SSD(Non
‑
Volatile Memory express非易失性内存主机控制器接口规范，Solid State Disk固态硬盘)已成为主流的企业级数据存储载体，存储作为SSD的用途，在使用过程中SSD的稳定性非常重要，现有SSD的稳定性测试的测试时长过长，测试效率低，且测试不能有效模拟实际的用户使用场景，使得测试结果的可信度不高。

技术实现思路

[0003]为了解决上述
技术介绍
中提到的至少一个问题，本专利技术提供了一种NVMe SSD的稳定性测试方法、系统和设备，能够在缩短测试时长的同时，更好地模拟实际的用户使用场景，加强测试的可靠性。
[0004]本专利技术提供的具体技术方案如下：
[0005]第一方面，提供一种NVMe SSD的稳定性测试方法，包括：
[0006]对待测SSD进行参数修改操作，提高所述待测SSD工作温度阈值，其中所述待测SSD的数量为多个；
[0007]同步对改造后的所述待测SSD循环进行性能测试，并记录性能测试数据，其中所述性能测试包括存储空间释放测试和格式化测试；
[0008]获取测试时长和所述待测SSD的数量，并根据所述测试时长和所述待测SSD的数量计算等效测试时长；
[0009]根据所述等效测试时长确定是否停止测试；
[0010]停止测试后，根据所述性能测试数据确定稳定性测试结果。
[0011]作为上述方案的一种优选，所述存储空间释放测试包括：
[0012]删除所述待测SSD内的文件；
[0013]所述待测SSD根据所述删除文件释放存储空间以等待数据写入。
[0014]作为上述方案的一种优选，所述性能测试还包括上下电测试和所述上下电测试后的读写测试，所述上下电测试以及上下电测试后的读写测试位于所述存储空间释放测试和格式化测试之前。
[0015]作为上述方案的一种优选，所述读写测试包括读写数据校验，所述读写数据校验包括随机读数据校验和顺序读写数据校验。
[0016]作为上述方案的一种优选，所述性能测试还包括第一读写测试，所述第一读写测试包括顺序读数据校验和混合读写数据校验，所述第一读写测试位于所述上下电测试以及上下电测试后的读写测试之前。
[0017]作为上述方案的一种优选，所述根据所述测试时长和所述待测SSD的数量计算等效测试时长包括：
[0018]利用公式：(2*所述待测SSD的数量*所述测试时长*15.7)/4.0446，计算出所述等效测试时长。
[0019]作为上述方案的一种优选，所述根据所述等效测试时长确定是否停止测试包括：
[0020]若所述等效测试时长大于等于预设时长，则停止测试，否则继续测试。
[0021]作为上述方案的一种优选，所述性能测试数据包括所述待测SSD错误计数信息、所述待测SSD在位信息，所述根据所述性能测试数据确定稳定性测试结果包括：
[0022]若根据所述待测SSD错误计数信息确定所述待测SSD错误计数不增加、根据所述待测SSD在位信息确定所述待测SSD在位，则稳定性测试通过，否则不通过。
[0023]第二方面，提供一种NVMe SSD的稳定性测试系统，所述系统包括：
[0024]改造SSD模块：用于对待测SSD进行参数修改操作，提高所述待测SSD工作温度阈值，其中所述待测SSD的数量为多个；
[0025]性能测试模块：用于同步对改造后的所述待测SSD循环进行性能测试，并记录性能测试数据，其中所述性能测试包括存储空间释放测试和格式化测试；
[0026]计算模块：用于获取测试时长和所述待测SSD的数量，并根据所述测试时长和所述待测SSD的数量计算等效测试时长；
[0027]第一确定模块：用于根据所述等效测试时长确定是否停止测试；
[0028]第二确定模块：用于停止测试后，根据所述性能测试数据确定稳定性测试结果。
[0029]第三方面，提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0030]对待测SSD进行参数修改操作，提高所述待测SSD工作温度阈值，其中所述待测SSD的数量为多个；
[0031]同步对改造后的所述待测SSD循环进行性能测试，并记录性能测试数据，其中所述性能测试包括存储空间释放测试和格式化测试；
[0032]获取测试时长和所述待测SSD的数量，并根据所述测试时长和所述待测SSD的数量计算等效测试时长；
[0033]根据所述等效测试时长确定是否停止测试；
[0034]停止测试后，根据所述性能测试数据确定稳定性测试结果。
[0035]以上一种NVMe SSD的稳定性测试方法、系统和设备，通过对待测SSD进行参数修改操作，提高所述待测SSD工作温度阈值，其中所述待测SSD的数量为多个；同步对改造后的所述待测SSD循环进行性能测试，并记录性能测试数据，其中所述性能测试包括存储空间释放测试和格式化测试；获取测试时长和所述待测SSD的数量，并根据所述测试时长和所述待测SSD的数量计算等效测试时长；根据所述等效测试时长确定是否停止测试；停止测试后，根据所述性能测试数据确定稳定性测试结果，能有效缩短测试时长，且性能测试中的存储空间释放测试和格式化测试使得稳定性测试能够更好地模拟实际的用户使用场景，使得测试结果更具可信度，加强测试的可靠性。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1为本专利技术实施例一的方法流程图；
[0038]图2为本专利技术实施例二的方法流程图；
[0039]图3为本专利技术实施例三的方法流程图；
[0040]图4为本专利技术实施例四的方法流程图；
[0041]图5为本专利技术实施例五的系统结构示意图；
[0042]图6为本专利技术实施例六提供的计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0043]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0044]MTBF(Mean Time Between Failures，平均无故障时间)是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种NVMe SSD的稳定性测试方法，其特征在于，包括：对待测SSD进行参数修改操作，提高所述待测SSD工作温度阈值，其中所述待测SSD的数量为多个；同步对改造后的所述待测SSD循环进行性能测试，并记录性能测试数据，其中所述性能测试包括存储空间释放测试和格式化测试；获取测试时长和所述待测SSD的数量，并根据所述测试时长和所述待测SSD的数量计算等效测试时长；根据所述等效测试时长确定是否停止测试；停止测试后，根据所述性能测试数据确定稳定性测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储空间释放测试包括：删除所述待测SSD内的文件；所述待测SSD根据所述删除文件释放存储空间以等待数据写入。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能测试还包括上下电测试和所述上下电测试后的读写测试，所述上下电测试以及上下电测试后的读写测试位于所述存储空间释放测试和格式化测试之前。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述读写测试包括读写数据校验，所述读写数据校验包括随机读数据校验和顺序读写数据校验。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述性能测试还包括第一读写测试，所述第一读写测试包括顺序读数据校验和混合读写数据校验，所述第一读写测试位于所述上下电测试以及上下电测试后的读写测试之前。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试时长和所述待测SSD的数量计算等效测试时长包括：利用公式：(2*所述待测SSD的数量*所述测试时...

【专利技术属性】
技术研发人员：张琦，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：