【技术实现步骤摘要】
天线阵面定位、校验方法、装置、系统和存储介质
[0001]本专利技术涉及天线阵面测试
，具体涉及一种天线阵面定位、校验方法、装置、系统和存储介质。
技术介绍
[0002]现有的相控阵天线阵面的扫描校准大都采用将已知的定位标准件所提供的确定位置作为天线阵面所在的位置，对天线阵面进行拍照成像后进行修正分析，将得到的数据与定位标准件的位置数据进行比较修正，以得到天线阵面的准确坐标数据。
[0003]上述定位方法对标准件的制作要求较高，一旦定位标准件存在误差对天线阵面的修正将产生较大的影响，并且需要较大的拍照成像设备操作起来非常的不便。
技术实现思路
[0004]为了解决现有技术存在的误差大、制作要求高的问题，本专利技术提供了一种天线阵面定位、校验方法、装置、设备和存储介质，其具有误差更小、精度更高、操作更加便利等特点。
[0005]根据本专利技术具体实施方式提供的一种天线阵面定位方法，包括：
[0006]获取待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识，其中至少一个校准点与其他校准点不在同...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种天线阵面定位方法，其特征在于，包括：获取待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识，其中至少一个校准点与其他校准点不在同一直线上；基于所述待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识和激光测距机器人获取的每个所述校准点的三维坐标，确定所述待测天线阵面上天线安装位的位置标识与所述激光测距机器人的坐标系上坐标的变换关系，将该变换关系作为坐标变换关系，所述激光测距机器人通过对准每个所述校准点以获取每个校准点的三维坐标；获取所述待测天线阵面上的两个测试点的位置标识，所述两个测试点位于所述待测天线阵面上与地面相平行的行；基于待测天线阵面上的两个测试点的位置标识和所述激光测距机器人获取的所述两个测试点的三维坐标，确定所述待测天线阵面所在平面和所述激光测距机器人的坐标系在旋转方向上的位置关系，将该位置关系作为方位角变换关系，其中所述校准点和所述测试点均位于所述待测天线阵面上的天线安装位，所述位置标识包括所述天线安装位所在的行数和列数，所述激光测距机器人通过对准每个所述测试点以获取每个所述测试点的三维坐标；基于所述坐标变换关系和所述方位角变换关系确定所述待测天线阵面的坐标系和所述激光测距机器人的坐标系的变换关系。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述坐标变换关系包括：XZ轴平面坐标变换关系，所述基于所述待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识和激光测距机器人获取的每个所述校准点的三维坐标，确定所述待测天线阵面上天线安装位的位置标识与所述激光测距机器人的坐标系上坐标的变换关系，包括：将所述激光测距机器人所在平面作为XZ轴平面，基于每个所述校准点的三维坐标的中的XZ轴坐标，确定所述待测天线阵面坐标系上的位置标识和所述激光测距机器人在所述XZ轴平面上的XZ轴平面坐标变换关系。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述坐标变换关系还包括：Y轴坐标变换关系，所述基于所述待测天线阵面上的至少三个校准点的位置标识和激光测距机器人获取的每个所述校准点的三维坐标，确定所述待测天线阵面上天线安装位的位置标识与所述激光测距机器人的坐标系上坐标的变换关系，还包括：基于每个所述校准点的三维坐标的中的Y轴坐标，确定所述待测天线阵面与所述XZ轴平面的夹角，将所述夹角作为所述Y轴坐标变换关系。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于待测天线阵面上的两个测试点的位置标识和所述激光测距机器人获取的所述两个测试点的三维坐标，确定所述待测天线阵面所在平面和所述激光测距机器人的坐标系在旋转方向上的位置关系，包括：基于每个所述测试点的三维坐标中的X轴坐标，确定所述待测天线阵面与所述XZ轴平面的方向角，将所述方向角作为所述方位角变换关系。5.一种天线阵面定位校验方法，其特征在于，包括：获取待测天线阵面上的目标天线安装位的位置...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨淑红，
申请(专利权)人：北京润科通用技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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