一种用于模拟电路的软故障诊断方法技术

一种用于模拟电路的软故障诊断方法，它属于模拟电路故障诊断领域。本发明专利技术解决了采用现有方法对模拟电路进行软故障诊断时所获得的准确率低的问题。本发明专利技术为了最大限度的排出信号中的干扰信息，大幅度减少模态混叠的影响，对于原始信号采取了VMD分解；为了避免分形维数估计的不稳定，本发明专利技术采用基于数学形态学的分形维数计算方法；最后将经过KPCA降维处理过的数据输送到支持向量机中建模分类。本发明专利技术方法可以应用于模拟电路的软故障诊断和分类。法可以应用于模拟电路的软故障诊断和分类。法可以应用于模拟电路的软故障诊断和分类。

【技术实现步骤摘要】
一种用于模拟电路的软故障诊断方法


[0001]本专利技术属于模拟电路故障诊断领域，具体涉及一种用于模拟电路的软故障诊断方法。

技术介绍

[0002]日常生活生产中可将电路划分成两类，一类是模拟电路，一类是数字电路，虽然模拟电路一般占电路组成成分的不到百分之20，但是有百分之80的故障是模拟电路造成的(F.Li and P.Y.Woo,"Fault detection for linear analog IC
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the method of short
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circuit admittance parameters,"IEEE Trans.Circuits Syst.I:Fundam.lTheor.Appl.,vol.49,no.1,pp.105
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108,Jan.2002.)。根据模拟电路的故障类型又可以分为软故障和硬故障。硬故障指在电子电路中，出现的断路，短路等灾难性故障，易于识别。软故障表示元器件的数值发生变化，数值偏差值超过了允许范围(Analog Circuit Incipient Fa本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于模拟电路的软故障诊断方法，其特征在于，所述方法具体包括以下步骤：步骤一、对采集的电路故障信号进行变分模态分解，得到K个不同中心频率的本征模态函数信号；步骤二、分别对获得的每个本征模态函数信号进行分形维数计算，提取出每个本征模态函数信号中的信号特征；步骤三、分别对每个本征模态函数信号中的信号特征进行降维，得到每个本征模态函数信号所对应的降维后特征；步骤四、将各个本征模态函数信号所对应的降维后特征输入分类器，获得故障诊断结果。2.根据权利要求1所述的一种用于模拟电路的软故障诊断方法，其特征在于，所述步骤一的具体过程为：将对采集的电路故障信号进行变分模态分解的问题转化为如下的无束优化问题：其中，L({u
k
}，{ω
k
}，λ)为增广拉格朗日函数，u
k
(t)为第k个本征模态函数，α为二次惩罚因子，为求时间t的偏导，δ(t)为单位脉冲函数，j为虚数单位；||
·
||2表示L2‑
范数，e为自然对数的底数，ω
k
(t)为第k个本征模态函数的中心频率，K为本征模态函数的总个数，λ(t)为Lagrange算子，<
·
>为内积运算；对增广拉格朗日函数的鞍点进行求解，采用乘子交替方向法交替迭代更新各个本征模态函数、本征模态函数中心频率以及Lagrange算子，直至满足迭代停止条件时停止迭代，获得K个本征模态函数，其中，ε为设置的迭代精度。3.根据权利要求2所述的一种用于模拟电路的软故障诊断方法，其特征在于，所述本征模态函数的频域更新方式为：...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕鑫淼，卢子寒，吴琼，王佳绪，杨存芳，魏于涵，庄全胜，王宇婷，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：发明
国别省市：