液相色谱仪及分析方法技术

本发明专利技术的课题在于能够安装填充柱的第一安装部与能够安装在基板上具有作为分离柱发挥功能的流路的芯片柱的第二安装部被收容于柱温箱。柱温箱的温度的指定由指定温度受理部受理。当在第二安装部未安装芯片柱时，柱温箱的上限温度由设定部设定为第一温度。另外，当在第二安装部安装有芯片柱时，柱温箱的上限温度由设定部设定为比第一温度低的第二温度。在由指定温度受理部受理到的温度为由设定部设定的上限温度以下的情况下，由温度调整部将柱温箱的温度调整为受理到的温度。温箱的温度调整为受理到的温度。温箱的温度调整为受理到的温度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】液相色谱仪及分析方法


[0001]本专利技术涉及一种液相色谱仪及分析方法。

技术介绍

[0002]在液相色谱仪中，分析对象的试样与流动相一起被供给至分离柱。导入至分离柱的试样根据化学性质或组成的不同，按照成分进行分离，与流动相一起被导入至检测器。在检测器中，对由分离柱分离的试样进行检测。基于由检测器所得的检测结果，生成液相色谱图。
[0003]专利文献1：日本专利特表2007
‑
523351号公报
[0004]专利文献2：日本专利特开2015
‑
172586号公报

技术实现思路

[0005]专利技术所要解决的问题
[0006]近年来，有时将形成于基板上的流路的一部分用作分离柱(例如参照专利文献1、专利文献2)。然而，具有在基板上形成有流路的结构的分离柱(以下，称为芯片柱)的耐热性比较低，因此当在高温的状况下进行试样的分析时，有时芯片柱破损。因此，为了防止芯片柱的破损，要求适当地进行液相色谱仪的温度管理。
[0007]本专利技术的目的在于提供一种能够适当地进行温度管理的液相色谱仪及分析方法。
[0008]解决问题的技术手段
[0009]本专利技术的一形态涉及一种液相色谱仪，包括第一安装部，能够安装填充柱；第二安装部，能够安装在基板上具有作为分离柱发挥功能的流路的芯片柱；柱温箱，收容所述第一安装部及所述第二安装部；指定温度受理部，受理所述柱温箱的温度的指定；设定部，当在所述第二安装部未安装所述芯片柱时，将所述柱温箱的上限温度设定为第一温度，当在所述第二安装部安装有所述芯片柱时，将所述柱温箱的上限温度设定为比所述第一温度低的第二温度；以及温度调整部，在由所述指定温度受理部受理到的温度为由所述设定部设定的上限温度以下的情况下，将所述柱温箱的温度调整为由所述指定温度受理部受理到的温度。
[0010]本专利技术的另一形态涉及一种分析方法，是利用液相色谱仪的分析方法，其中，能够安装填充柱的第一安装部与能够安装在基板上具有作为分离柱发挥功能的流路的芯片柱的第二安装部被收容于柱温箱，所述分析方法包含：受理所述柱温箱的温度的指定的步骤；当在所述第二安装部未安装所述芯片柱时，将所述柱温箱的上限温度设定为第一温度，当在所述第二安装部安装有所述芯片柱时，将所述柱温箱的上限温度设定为比所述第一温度低的第二温度的步骤；以及在受理到的温度为所设定的上限温度以下的情况下，将所述柱温箱的温度调整为受理到的温度的步骤。
[0011]专利技术的效果
[0012]根据本专利技术，可适当地进行液相色谱仪的温度管理。
附图说明
[0013][图1]图1是表示本专利技术的一实施方式的液相色谱仪的结构的示意图。
[0014][图2]图2是表示处理装置的结构的框图。
[0015][图3]图3是表示由图2的处理装置执行的温度控制处理的算法的一例的流程图。
[0016][图4]图4是表示由图2的处理装置执行的温度控制处理的算法的一例的流程图。
[0017][图5]图5是表示上限温度的设定例的表。
[0018][图6]图6是表示上限温度的设定例的表。
具体实施方式
[0019]以下，使用附图对本专利技术的实施方式的液相色谱仪及分析方法进行详细说明。在以下的说明中，将具有填充有粒子状的填充剂(固定相)的流路的分离柱称为填充柱。将在基板上具有流路的分离柱称为芯片柱。基板例如包括半导体芯片或陶瓷芯片。在芯片柱中，基板上的流路作为分离柱发挥功能。
[0020](1)液相色谱仪的结构
[0021]图1是表示本专利技术的一实施方式的液相色谱仪的结构的示意图。如图1所示，液相色谱仪100包括：流动相容器10、送液部20、试样供给部30、流路切换部40、柱温箱50、三通接头60、检测器70及处理装置80。
[0022]流动相容器10贮留水溶液或有机溶剂等流动相。送液部20例如是泵，通过对流动相容器10所贮留的流动相进行压送而导入至流路切换部40。试样供给部30例如是样品喷射器，向通过送液部20压送的流动相供给分析对象的试样。流路切换部40例如是具有导入口41及导出口42、导出口43的阀，将导入至导入口41的流动相(包含试样。以下也相同)从导出口42或导出口43选择性地导出。
[0023]柱温箱50收容安装部51、安装部52。安装部51、安装部52分别是第一安装部及第二安装部的例子。安装部51构成为能够安装填充柱1。具体而言，使用者通过使用扳手等工具将螺母等固定器具紧固，可将填充柱1安装于安装部51。另外，使用者通过使用工具将固定器具松开，可从安装部51拆卸填充柱1。
[0024]安装部52构成为能够安装芯片柱2。具体而言，使用者通过从设置于安装部52的未图示的插入口插入芯片柱2，可在安装部52安装芯片柱2。另外，使用者通过对设置于安装部52的未图示的排出按钮进行操作，可从安装部52拆卸芯片柱2。因此，芯片柱2在更换或维护等作业性方面比填充柱1优异。
[0025]在安装部52安装判定部53。判定部53例如包括光电传感器或微动开关等传感器，对是否在安装部52安装有芯片柱2进行判定。另外，判定部53将判定结果给予至处理装置80。
[0026]三通接头60具有导入口61、导入口62及导出口63。从流路切换部40的导出口42导出的流动相穿过柱温箱50的安装部51所安装的填充柱1而被导入至三通接头60的导入口61。填充柱1依存于通过的流动相中的试样的各成分与所述填充柱1及流动相的亲和性，以不同的时间保持试样的成分。
[0027]从流路切换部40的导出口43导出的流动相穿过柱温箱50的安装部52所安装的芯片柱2而被引导至三通接头60的导入口62。芯片柱2依存于通过的流动相中的试样的各成分
与所述芯片柱2及流动相的亲和性，以不同的时间保持试样的成分。三通接头60将被导入至导入口61或导入口62的流动相从导出口63导出。
[0028]检测器70例如包括吸光度检测器或折射率(Refractive Index)检测器，依次对从三通接头60的导出口63导出的流动相中的试样的成分进行检测。处理装置80包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)或微型计算机，对送液部20、试样供给部30、流路切换部40、柱温箱50及检测器70的动作进行控制。另外，处理装置80通过对由检测器70所得的检测结果进行处理，生成表示各成分的保持时间与检测强度的关系的液相色谱图。关于处理装置80的详细情况，将在后面叙述。
[0029](2)处理装置
[0030]图2是表示处理装置80的结构的框图。如图2所示，处理装置80包括上限温度受理部81、上限温度受理部82、设定部83、指定温度受理部84、温度调整部85、阻碍部86及输出部87、输出部88作为功能部。通过处理装置80的CPU执行存储于未图示的存储器中的规定的程序来实现处理装置80的功能部。处理装置80的功能部的一部分或全部也可通过电子电路等硬件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种液相色谱仪，包括：第一安装部，能够安装填充柱；第二安装部，能够安装在基板上具有作为分离柱发挥功能的流路的芯片柱；柱温箱，收容所述第一安装部及所述第二安装部；指定温度受理部，受理所述柱温箱的温度的指定；设定部，当在所述第二安装部未安装所述芯片柱时，将所述柱温箱的上限温度设定为第一温度，当在所述第二安装部安装有所述芯片柱时，将所述柱温箱的上限温度设定为比所述第一温度低的第二温度；以及温度调整部，在由所述指定温度受理部受理到的温度为由所述设定部设定的上限温度以下的情况下，将所述柱温箱的温度调整为由所述指定温度受理部受理到的温度。2.根据权利要求1所述的液相色谱仪，还包括判定部，所述判定部对是否在所述第二安装部安装有所述芯片柱进行判定，所述设定部基于由所述判定部所得的判定结果，将所述柱温箱的上限温度设定为所述第一温度或所述第二温度。3.根据权利要求1或2所述的液相色谱仪，还包括上限温度受理部，所述上限温度受理部对应由所述设定部设定的所述第一温度及所述第二温度中的至少一者的指定进行受理。4.根据权利要求1或2所述的液相色谱仪，还包括阻碍部，所述阻碍部在由所述指定温度受理...

【专利技术属性】
技术研发人员：凑浩之，福嶋信满，马场荣里花，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：