基于透性胶体的点胶检测方法、系统及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种基于透性胶体的点胶检测方法、系统及装置。其中，点胶检测方法包括如下步骤：基于通过对胶体及其中器件以及二者所在背板进行空间扫描，得到的胶体底面和表面的坐标数据、器件的坐标数据以及背板平面的坐标数据，计算胶体的实际厚度数据、胶体在背板平面上涂覆的区域的半径数据、胶体底面和表面的中心坐标数据、器件的中心坐标数据；根据实际厚度数据，判断胶体的厚度是否满足要求；根据半径数据，判断胶体的半径是否满足要求；根据中心坐标数据，判断胶体中心与器件的中心是否保持同轴；输出可视化的判断结果。本发明专利技术的基于透性胶体的点胶检测方法可替代人工观察检验，保证检验准确性，提高检验效率。提高检验效率。提高检验效率。

【技术实现步骤摘要】
基于透性胶体的点胶检测方法、系统及装置


[0001]本专利技术涉及发光背板生产
，尤其涉及一种基于透性胶体的点胶检测方法、系统及装置。

技术介绍

[0002]发光背板包括：背板本体、焊接于背板本体上的LED芯片。其中，为了对LED芯片进行保护，需要在其上涂覆一层透明且高透光的保护胶体。该保护胶体呈穹顶形密封，以保护其内部的芯片，进而有利于提升发光背板产品的温湿度环境适应性、提升产品质量、延长产品寿命。
[0003]然而，现有的保护胶涂覆工艺质量验证多数依靠人工肉眼检验外观和上电发光检验，无法非常精准地筛查出保护胶涂覆是否存在问题，出现发光不良品只能整板报废，难以判定问题所在的具体工艺环节，导致整体工艺无法优化，良品率难以提升。因此，针对上述问题，有必要提出进一步地解决方案。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在提供一种基于透性胶体的点胶检测方法、系统及装置，以克服现有技术中存在的不足。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是：
[0006]一种基于透性胶体的点胶检测方法，透性胶体用于对设置于背板平面上的器件进行封装保护，该胶体具有表面和底面；所述点胶检测方法包括如下步骤：
[0007]基于通过对所述胶体及其中器件以及二者所在背板进行空间扫描，得到的胶体底面和表面的坐标数据、器件的坐标数据以及背板平面的坐标数据，计算所述胶体的实际厚度数据、所述胶体在所述背板平面上涂覆的区域的半径数据、所述胶体底面和表面的中心坐标数据、所述器件的中心坐标数据；r/>[0008]根据所述实际厚度数据，判断所述胶体的厚度是否满足要求；根据所述半径数据，判断所述胶体的半径是否满足要求；根据所述中心坐标数据，判断所述胶体中心与器件的中心是否保持同轴；输出可视化的判断结果。
[0009]作为本专利技术基于透性胶体的点胶检测方法的改进，利用3D共焦线扫传感器发射光线进行空间扫描，利用接收器对反射光线进行接收，并根据反射光线计算出相应的坐标数据。
[0010]作为本专利技术基于透性胶体的点胶检测方法的改进，根据所述胶体、器件以及背板材质导致的反射强度差异，分离出所述胶体底面和表面的坐标数据、器件的坐标数据以及背板平面的坐标数据。
[0011]作为本专利技术基于透性胶体的点胶检测方法的改进，所述实际厚度数据为所述胶体表面的坐标值减去所述背板平面的相应坐标值。
[0012]作为本专利技术基于透性胶体的点胶检测方法的改进，通过比较实际厚度数据是否满
足相应的厚度阈值，判断所述胶体的厚度是否满足要求。
[0013]作为本专利技术基于透性胶体的点胶检测方法的改进，通过比较半径数据是否满足相应的半径阈值，判断所述胶体在所述背板平面上所覆盖的区域面积是否满足要求。
[0014]作为本专利技术基于透性胶体的点胶检测方法的改进，根据所述中心坐标数据，判断所述胶体中心与器件的中心是否同轴设置包括：
[0015]根据所述胶体表面的中心坐标数据和器件的中心坐标数据，判断所述胶体表面的中心与器件的中心是否保持同轴；
[0016]如保持同轴则根据所述胶体底面和表面的坐标数据，判断所述胶体的表面中心与底面中心是否保持同轴，如保持同轴则胶体的中心度满足要求；
[0017]如不保持同轴则根据所述胶体底面和表面的坐标数据，判断所述胶体的表面中心与底面中心是否保持同轴，如保持同轴则胶体发生偏位，否则胶体发生偏心。
[0018]作为本专利技术基于透性胶体的点胶检测方法的改进，所述点胶检测方法还包括：根据胶体表层残缺数据和底面折射形变特性反向推算胶厚，补全胶体表层四周边缘缺失数据的步骤；
[0019]该步骤包括：
[0020]对根据胶体底面和表面的中心坐标数据，得到胶体的观测厚度数据，根据观测厚度数据和实际厚度数据，得到胶体的折射率；
[0021]根据胶体底面折射引起的形变量，反算出胶体表面四周边缘的厚度数据，根据厚度数据，补全胶体表面四周边缘的坐标数据；
[0022]根据补全后的坐标数据，得到所述胶体表面法向量的散度。
[0023]作为本专利技术基于透性胶体的点胶检测方法的改进，所述点胶检测方法还包括：对胶体的丰度进行检测；
[0024]该步骤包括：根据胶体的有效表面积和/或胶体表面法向量的散度，得到胶体的相对丰度数据，根据相对丰度数据，判断胶体的丰度是否满足要求；
[0025]判断胶体的丰度是否满足要求时，设置一丰度阈值，通过比较相对丰度数据是否满足相应的丰度阈值，判断胶体的丰度是否满足要求。
[0026]为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是：
[0027]一种基于透性胶体的点胶检测系统，其包括：
[0028]存储器，其用于存储可执行指令；以及
[0029]处理器，其用于与所述存储器连接以执行所述可执行指令从而执行如上所述的点胶检测方法。
[0030]为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是：
[0031]一种基于透性胶体的点胶检测装置，透性胶体用于对设置于背板平面上的器件进行封装保护，该胶体具有表面和底面；所述点胶检测装置包括：运动模块、3D扫描模块以及测量模块；
[0032]所述3D扫描模块由所述运动模块驱动，对所述胶体及其中器件以及二者所在背板进行空间扫描，并反馈胶体底面和表面的坐标数据、器件的坐标数据以及背板平面的坐标数据给所述测量模块；
[0033]所述测量模块包括计算单元和判断单元；
[0034]所述计算单元根据反馈数据，计算所述胶体的实际厚度数据、所述胶体在所述背板平面上涂覆的区域的半径数据、所述胶体底面和表面的中心坐标数据、所述器件的中心坐标数据；
[0035]所述判断单元根据所述实际厚度数据，判断所述胶体的厚度是否满足要求；根据所述半径数据，判断所述胶体的半径是否满足要求；根据所述中心坐标数据，判断所述胶体中心与器件的中心是否保持同轴；输出可视化的判断结果。
[0036]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0037]本专利技术的基于透性胶体的点胶检测方法可替代人工观察检验，保证检验准确性，提高检验效率。
[0038]本专利技术的基于透性胶体的点胶检测方法可准确获取透明胶体表面和底面的两组数据，并利用透明胶对结构光的折射作用造成胶体底部的“折射变形误差”特性创新地解决3D线扫原理上存在的反射角度缺陷，解决3D线扫从原理上无法完整扫描穹顶形胶体带来的测量问题，从而解决3D线扫对异形透明保护胶适应性较差的问题。
[0039]本专利技术的基于透性胶体的点胶检测方法利用透明胶体表面和底面的两组数据及折射特性，得到胶体的折射率，再通过胶体底面数据的折射量反推出胶体涂覆的半径、底面中心位置、最高点中心位置、胶体的丰度等信息，从而实现胶体厚度NG、半径NG、偏心NG、偏位NG、丰度NG的检测。
[0040]本专利技术的基于透性胶体的点胶检测方法通过对胶体厚度NG、半径NG、偏心NG、偏位NG、丰度NG的检测，可多方位地精准判定保护胶工艺本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于透性胶体的点胶检测方法，透性胶体用于对设置于背板平面上的器件进行封装保护，该胶体具有表面和底面；其特征在于，所述点胶检测方法包括如下步骤：基于通过对所述胶体及其中器件以及二者所在背板进行空间扫描，得到的胶体底面和表面的坐标数据、器件的坐标数据以及背板平面的坐标数据，计算所述胶体的实际厚度数据、所述胶体在所述背板平面上涂覆的区域的半径数据、所述胶体底面和表面的中心坐标数据、所述器件的中心坐标数据；根据所述实际厚度数据，判断所述胶体的厚度是否满足要求；根据所述半径数据，判断所述胶体的半径是否满足要求；根据所述中心坐标数据，判断所述胶体中心与器件的中心是否保持同轴；输出可视化的判断结果。2.根据权利要求1所述的基于透性胶体的点胶检测方法，其特征在于，利用3D共焦线扫传感器发射光线进行空间扫描，利用接收器对反射光线进行接收，并根据反射光线计算出相应的坐标数据。3.根据权利要求2所述的基于透性胶体的点胶检测方法，其特征在于，根据所述胶体、器件以及背板材质导致的反射强度差异，分离出所述胶体底面和表面的坐标数据、器件的坐标数据以及背板平面的坐标数据。4.根据权利要求1所述的基于透性胶体的点胶检测方法，其特征在于，所述实际厚度数据为所述胶体表面的坐标值减去所述背板平面的相应坐标值。5.根据权利要求1或4所述的基于透性胶体的点胶检测方法，其特征在于，通过比较实际厚度数据是否满足相应的厚度阈值，判断所述胶体的厚度是否满足要求。6.根据权利要求1所述的基于透性胶体的点胶检测方法，其特征在于，通过比较半径数据是否满足相应的半径阈值，判断所述胶体在所述背板平面上所覆盖的区域面积是否满足要求。7.根据权利要求1所述的基于透性胶体的点胶检测方法，其特征在于，根据所述中心坐标数据，判断所述胶体中心与器件的中心是否同轴设置包括：根据所述胶体表面的中心坐标数据和器件的中心坐标数据，判断所述胶体表面的中心与器件的中心是否保持同轴；如保持同轴则根据所述胶体底面和表面的坐标数据，判断所述胶体的表面中心与底面中心是否保持同轴，如保持同轴则胶体的中心度满足要求；如不保持同轴则根据所述胶体底面和表面的坐标数据，判断所述胶体的表面中心与底面中心是否保持...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨沛，张建强，殷强，顾昕程，
申请(专利权)人：苏州小蜂视觉科技有限公司，
类型：发明
国别省市：