【技术实现步骤摘要】
一种基于DIC的岩体界面剪切蠕变测试系统及测试方法
[0001]本专利技术涉及一种基于DIC的岩体界面剪切蠕变测试系统及测试方法,属于岩土力学测试
技术介绍
[0002]随着人们环保意识的提高和人们对能源需求的不断增长,越来越多的核电站被建成启用,在核电站的运营过程中,不可避免地会产生高放射性核废料。目前针对高放射性核废料,多采用深层地质处置的方案。高放核废料的地质处置必须要考虑长期安全性,因为大量的工程实践表明:在许多情况下,岩石工程的失稳和破坏,并不是在开挖完成或工程完工后立即发生的,而是要滞后一段时期。这涉及到岩体的蠕变行为。地下洞室周围,通常由于挖掘扰动的原因产生一些裂缝,这些裂缝的存在导致岩体结构的抗剪强度远小于完整岩体,会大大降低地下洞室的稳定性。为了考虑地下洞室的长期稳定性,除了了解完整岩石本身的蠕变特性之外,还需要了解岩体界面的剪切蠕变特性。
[0003]目前岩石界面剪切蠕变研究都是借助岩石剪切流变试验装置进行,这种方法针对带节理岩石进行剪切蠕变研究,需要使用的试样为天然带裂隙岩样,其试样制 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于DIC的岩体界面剪切蠕变测试系统,其特征在于:包括支架、垂直加载模块、水平加载模块、水平位移传感器一、水平位移传感器二、应变片、数据采集模块、DIC系统、主机一;所述的支架内布置垂直加载模块及水平加载模块;垂直加载模块及水平加载模块之间放置岩体试样,岩体试样的两侧分别设有水平位移传感器一,水平位移传感器二;岩体试样外侧表面布置应变片;垂直加载模块、水平加载模块、水平位移传感器一、水平位移传感器二、应变片通过数据线与数据采集模块相连,数据采集模块与主机一相连;位于支架的外侧布置DIC系统。2.根据权利要求1所述的基于DIC的岩体界面剪切蠕变测试系统,其特征在于:所述DIC系统包括DIC支座、DIC底座,万向节,X轴向平滑块,Y轴向平移滑块,Z轴向平移滑块、高分辨率相机、照明光源、图像采集卡、主机二;所述高分辨率相机上设有照明光源;所述DIC底座上设有DIC支座,DIC支座上设有X轴向滑轨、Y轴向滑轨、Z轴向滑轨;所述Z轴向滑轨垂直于DIC底座,Z轴向平移滑块布置Z轴向滑轨上,Z轴向平移滑块上设有X轴向滑轨,X轴向滑轨上设有X轴向平滑块,X轴向平滑块上设有Y轴向滑轨,Y轴向滑轨上设有Y轴向平移滑块;Y轴向平移滑块的顶端通过万向节与高分辨率相机相连;所述高分辨率相机通过数据线与图像采集卡相连,图像采集卡与主机二相连。3.根据权利要求1所述的基于DIC的岩体界面剪切蠕变测试系统,其特征在于:所述垂直加载模块采用电控加载系统,控制加载速率并保持加载量在目标加载量
±
0.1KN范围内。4.根据权利要求1所述的基于DIC的岩体界面剪切蠕变测试系统,其特征在于:所述水平位移传感器一、水平位移传感器二分别固定在支架及水平加载模块,用于测量测试过程中岩体试样的左右两侧水平位移量,测量精度达到1E
‑5mm。5.据权利要求1所述的基于DIC的岩体界面剪切蠕变测试系统,其特征在于:应变片用于采集剪切蠕变过程中岩体的变形,应变测量精度达到1E
‑7。6.根据权利要求1所述的基于DIC的岩体界面剪切蠕变测试系统,其特征在于:所述的岩体试样分三层布置;上层岩体试样尺寸为:100mm*40mm*20mm;中层岩体试样尺寸为:102mm*40mm*40mm;下层岩体试样尺寸为:100mm*40mm*20mm。7.利用权利要求1至6任意一项所述的基于DIC的岩体界面剪切蠕变测试系统的测试方法,其特征在于:测试步骤如下:1)、将待测岩体试样切割成长方体,每次剪切蠕变测试中均需要使用上中下3块岩体试样;2)、将待测岩体试样按顺序安放在岩体剪切设备的支架上,上层、下层岩体试样的左侧受到支架的约束,中间岩体试样位于上...
【专利技术属性】
技术研发人员:邓永锋,李星圻,邓祖华,赵振平,孟俊宇,
申请(专利权)人:东南大学,
类型:发明
国别省市:
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