一种高精度光栅式测微计制造技术

一种高精度光栅式测微计，包括数显表和光栅测微计，数显表一侧通过导线电性连接光栅测微计，光栅测微计内设置有外壳，外壳一固定连接有测杆，测杆插接有测头，外壳上套接有固定框且固定框底侧设置有底座，比于电感测微仪，本发明专利技术拥有更大的测量范围，在许多应用场合，可直接对被检对象进行直接测量，非常直观方便，相比于通过量块和电感测位仪来进行相对比较测量，再进行示值误差计算，对检测人员要求极低，效率高，排除测量的人为不确定因素；使用计量光栅尺系统，提供高精度的位移显示值，且误差小；能够在许多应用领域替代进口同类产品，替代量块和电感测微仪的一些应用场合，使用更方便，更直接，读数直观。读数直观。读数直观。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度光栅式测微计


[0001]本技术涉及测微计
，具体涉及一种高精度光栅式测微计。

技术介绍

[0002]光栅测微计是一种特殊的光感单元，主要是用于检测产品是否符合规定要求，主要包括相互分离且相对的发射单元与受光单元。
[0003]现阶段的光栅式测微计的测量范围窄，测量精度低，且功能性不足，读数不够直观，影响测量效率。

技术实现思路

[0004]本技术要解决的技术问题：现阶段的光栅式测微计的测量范围窄，测量精度低，且功能性不足，读数不够直观，影响测量效率的问题，因此提出一种高精度光栅式测微计。
[0005]本技术解决技术问题采用的技术方案是：一种高精度光栅式测微计，包括数显表和光栅测微计，所述数显表一侧通过导线电性连接光栅测微计，所述光栅测微计内设置有外壳，所述外壳一固定连接有测杆，所述测杆插接有测头。
[0006]作为本技术的一种优选的技术方案，所述外壳上套接有固定框且固定框底侧设置有底座，所述底座上固定连接有导轨，所述导轨上螺纹连接有间距调节单元，所述导轨上滑动连接有滑块，所述滑块上固定连接有光栅尺座，方便调节。
[0007]作为本技术的一种优选的技术方案，所述光栅尺座的侧壁固定连接有拉簧，所述光栅尺座上插接有光栅尺带，所述光栅尺带上设置有光栅读数头，所述光栅读数头位于光栅尺带上方一毫米处，方便检测。
[0008]本技术具有以下优点：比于电感测微仪，本专利技术拥有更大的测量范围，在许多应用场合，可直接对被检对象进行直接测量，非常直观方便，相比于通过量块和电感测位仪来进行相对比较测量，再进行示值误差计算，对检测人员要求极低，效率高，排除测量的人为不确定因素；使用计量光栅尺系统，提供高精度的位移显示值，分辨率可高，且误差小，能够在许多应用领域替代进口同类产品，替代量块和电感测微仪的一些应用场合，使用更方便，更直接，读数直观。
附图说明
[0009]图1是本技术一优选实施例的一种高精度光栅式测微计的三维立体结构示意图；
[0010]图2是本技术一优选实施例的一种高精度光栅式测微计的三维立体结构剖视结构示意图；
[0011]图3是本技术一优选实施例的一种高精度光栅式测微计的信号处理流程示意图。
[0012]附图标记说明：1、数显表；2、导线；3、光栅测微计；4、外壳；5、测杆；6、测头；7、底座；8、导轨；9、滑块；10、光栅尺座；11、拉簧；12、光栅尺带；13、光栅读数头。
具体实施方式
[0013]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相正对地重要性。
[0014]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0015]下面结合附图对本技术作进一步说明。
[0016]请结合参阅图1
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3所示的一种高精度光栅式测微计，包括数显表1和光栅测微计3，数显表1一侧通过导线2电性连接光栅测微计3，光栅测微计3内设置有外壳4，能够对装置进行保护，外壳4一固定连接有测杆5，测杆5插接有测头6，光栅测微计3上的测头6产生位移时，光栅读数头在13在滑动过程中形成大致按正弦规律分布的明暗相间的叠栅条纹。
[0017]其中，光栅尺座10固定连接有滑块9，滑块9滑动连接在导轨8上，调节单元螺纹连接在导轨8上，导轨8的间距可通过侧面的调节螺丝孔进行调节，导轨8固定连接底座7，底座7位于固定框底侧，固定框套接在外壳4上，滑块9可以沿着导轨8移动。
[0018]其中，光栅尺带12位于光栅读数头13的底侧一毫米处，光栅读数头13位于光栅尺带12上，光栅尺带12插接在光栅尺座10上，拉簧11固定连接光栅尺座10的侧壁，当测头6产生位移时，光栅读数头13在装置滑动过程中形成大致按正弦规律分布的明暗相间的叠栅条纹且可以被光电单元所感知。
[0019]具体的，导轨8固定连接在底座7上，其中，这对导轨8的间距可通过侧面的调节单元进行调节，光栅尺带12安装在光栅尺座10上，光栅尺座10固定在滑块9上，滑块9滑动连接导轨8，可以沿着导轨8前后移动。光栅尺座10通过拉簧11，拉簧11的作用是使得整个装置的测杆5有自动回弹能力。光栅读数头13安装在支架上，位于光栅尺带12上方一毫米处，当光栅测微计3的测头6产生位移时，光栅读数头13在装置滑动过程中形成大致按正弦规律分布的明暗相间的叠栅条纹，这些条纹以光栅的相对运动速度移动，并直接照射到光电元件上。导线2传递正弦规律电信号到数显表1，数显表1内部电路对输入的光栅信号经过信号放大、整形、辨向和计数系统产生数字信号输出，直接显示被测的位移量。
[0020]以上仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。
[0021]本技术中其他未详述部分均属于现有技术，故在此不再赘述。
[0022]最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精度光栅式测微计，包括数显表(1)和光栅测微计(3)，其特征在于，所述数显表(1)一侧通过导线(2)电性连接光栅测微计(3)，所述光栅测微计(3)内设置有外壳(4)，所述外壳(4)一固定连接有测杆(5)，所述测杆(5)插接有测头(6)。2.如权利要求1所述的一种高精度光栅式测微计，其特征在于，所述外壳(4)上套接有固定框且固定框底侧设置有底座(7)，所述底座(7)上固定连接有导轨(8...

【专利技术属性】
技术研发人员：华明，
申请(专利权)人：无锡市景达智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：