内窥镜再处理系统和方法技术方案

用于对气囊内窥镜进行再处理的方法，所述方法包括这样的步骤：在气囊内窥镜的临床使用之后将气囊内窥镜的气囊抽气至负压的状态，并且此后在对气囊内窥镜进行再处理的至少一部分过程中将气囊的内部维持在负压的状态中。分过程中将气囊的内部维持在负压的状态中。分过程中将气囊的内部维持在负压的状态中。

【技术实现步骤摘要】
内窥镜再处理系统和方法
[0001]本专利技术专利申请是于2014年5月21日提交的专利技术名称为“内窥镜再处理系统和方法”的中国专利技术专利申请CN201811316942.5的分案申请，其中中国专利技术专利申请CN201811316942.5进而是于2014年5月21日提交的专利技术名称为“内窥镜再处理系统和方法”的中国专利技术专利申请CN201480029252.5(国际申请号PCT/IL2014/000025)的分案申请。
[0002]相关申请参考
[0003]参照名称为“ENDOSCOPE REPROCESSING ASSEMBLY AND METHODS”、2013年5月21日递交的美国临时专利申请No.61/855,688以及名称为“ENDOSCOPIC REPROCESSING SYSTEM UTILIZING NEGATIVE AIR PRESSURE”、2013年11月6日递交的美国临时专利申请No.61/962,383，它们全文结合在此引作参考并且它们的优选权根据37CFR 1.78(a)(4)and(5)(i)而要求。
[0004]还参照申请人的以下的PCT专利申请，它们据信与本申请有关并且全文结合在此引作参考：
[0005]WO2005/074377；WO2007/017854；WO2007/135665；WO2008/004228；WO2008/142685；WO2009/122395；WO2010/046891；WO2010/137025；WO201 1/111040；以及WO2014/068569。


[0006]本专利技术涉及内窥镜再处理系统和方法。

技术介绍

[0007]多种内窥镜再处理系统和方法是已知的。

技术实现思路

[0008]本专利技术旨在提供改进的内窥镜再处理方法和系统。
[0009]根据本专利技术的一个优选实施例，因而提供了一种用于对气囊内窥镜进行再处理的方法，所述方法包括以下步骤：在气囊内窥镜的临床使用之后将气囊内窥镜的气囊抽气至负压状态；并且此后在对所述气囊内窥镜再处理的至少一部分的过程中将气囊的内部维持在负压的状态中。
[0010]优选地，所述再处理包括清洁；并且所述在对所述气囊内窥镜再处理的至少一部分的过程中将气囊的内部维持在负压的状态中包括在所述清洁的至少一部分过程中将气囊的内部维持在负压的状态中。附加地，所述清洁至少包括自动化清洁；并且所述在对所述气囊内窥镜再处理的至少一部分的过程中将气囊的内部维持在负压的状态中包括在所述自动化清洁的至少一部分过程中将气囊的内部维持在负压的状态中。
[0011]根据本专利技术的一个优选实施例，所述再处理包括消毒；并且所述在对所述气囊内窥镜再处理的至少一部分的过程中将气囊的内部维持在负压的状态中包括在所述消毒的至少一部分过程中将气囊的内部维持在负压的状态中。优选地，所述清洁至少包括自动化
消毒；并且所述在对所述气囊内窥镜再处理的至少一部分的过程中将气囊的内部维持在负压的状态中包括在所述自动化消毒的至少一部分过程中将气囊的内部维持在负压的状态中。
[0012]优选地，在气囊的所述内部与所述气囊内窥镜的内部体积之间存在流体连通；并且所述在对所述气囊内窥镜再处理的至少一部分的过程中将气囊的内部维持在负压的状态中包括在再处理的所述至少一部分的过程中将所述气囊内窥镜的所述内部体积维持在负压状态中。
[0013]根据本专利技术的一个优选实施例，常闭泄漏检测端口被设置，与所述气囊内窥镜流体连通；并且所述在再处理的所述至少一部分的过程中将所述气囊内窥镜的所述内部体积维持在负压状态中包括通过所述泄漏检测端口对所述气囊内窥镜的所述内部体积抽气。附加地，所述通过所述泄漏检测端口对所述气囊内窥镜的所述内部体积抽气包括：将负压装置连接至所述泄漏检测端口并操作所述负压装置以向所述内窥镜的所述内部体积施加真空；此后，将所述常闭泄漏检测端口从所述负压泵脱离连接；并且通过所述常闭泄漏检测端口维持所述气囊内窥镜的所述内部体积中的负压。
[0014]根据本专利技术的一个优选实施例，所述将气囊内窥镜的气囊抽气至负压状态包括将所述气囊抽气至尽管在所述再处理过程中遭受温度升高但足以维持所述气囊的抽气的负压。优选地，所述将气囊内窥镜的气囊抽气至负压状态包括将所述气囊抽气至
‑
5毫巴至
‑
300毫巴范围内的负压。更加优选地，所述将气囊内窥镜的气囊抽气至负压状态包括将所述气囊抽气至
‑
100毫巴至
‑
250毫巴范围内的负压。根据本专利技术的一个优选实施例，所述将气囊内窥镜的气囊抽气至负压状态包括将所述气囊抽气至低于
‑
150毫巴的负压。
[0015]优选地，所述将气囊内窥镜的气囊抽气至负压状态包括将所述气囊抽气至小于负压阈值的负压，所述负压阈值在再处理过程中随时间而变。附加地或替代性地，所述将气囊内窥镜的气囊抽气至负压状态包括将所述气囊抽气至小于负压阈值的负压，所述负压阈值在所述再处理过程中作为所述气囊内窥镜的温度的函数而变。附加地或替代性地，所述将气囊内窥镜的气囊抽气至负压状态包括将所述气囊抽气至小于负压阈值的负压，所述负压阈值作为在所述再处理之前或过程中的特定时间所述气囊内部的测量的负压的函数而变。
[0016]优选地，所述将气囊内窥镜的气囊抽气至负压状态包括将所述气囊抽气至小于负压阈值PT(t)的负压，其中：
[0017]PT(t)＝F(Tt,T0,P0)，
[0018]其中：
[0019]Tt是在时间t所述内窥镜的温度；
[0020]T0是在初始时间t0所述内窥镜的温度；并且
[0021]P0是在所述初始时间t0所述内窥镜的所述气囊的所述内部的压力。
[0022]根据本专利技术的一个优选实施例，所述将气囊内窥镜的气囊抽气至负压状态包括将所述气囊抽气至小于负压阈值PT(t)的负压，其中：
[0023]PT(t)＝F1(Tt,T0,P0)+F2(t
‑
t0)
[0024]其中：
[0025]Tt是在时间t所述内窥镜的温度；
[0026]T0是在初始时间t0所述内窥镜的温度；
[0027]P0是在所述初始时间t0所述内窥镜的所述气囊的所述内部的压力；并且
[0028]F2是从时间t0至t流逝的时间的函数。
[0029]根据本专利技术的一个优选实施例，，F1＝(Tt/T0)
·
P0，其中，Tt和T0以K氏温度被测量，P0以高于用于PT(t)的零压力的绝对压力单位被测量。附加地或替代性地，F2＝K
·
(t
‑
t0)，其中，K是常数，表示压力随时间的变化。优选地，K是在0.01至0.20毫巴每秒的范围内。更加优选地，K是在0.02至0.10毫巴每秒的范围内。
[0030]根据本专利技术的一个优选实施例，用于对气囊内窥镜进行再处理的方法在将所述气囊抽气至所述负压状态之前还包括以下步骤本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种气囊内窥镜再处理系统，包括：自动化气囊内窥镜再处理功能模块，用于接收气囊内窥镜以及用于对气囊内窥镜进行清洁和消毒中的至少一个；以及气囊抽气控制功能模块，其操作成在所述自动化气囊内窥镜再处理功能模块的操作的至少一部分过程中将气囊的内部体积维持在负压状态中。2.根据权利要求1所述的气囊内窥镜再处理系统，其特征在于，所述气囊抽气控制功能模块操作成在所述自动化气囊内窥镜再处理功能模块的所有操作的过程中将气囊的内部维持在负压的状态中。3.根据权利要求1或2所述的气囊内窥镜再处理系统，其特征在于，在气囊的所述内部与所述气囊内窥镜的内部体积之间存在流体连通；并且所述气囊内窥镜的所述内部体积在再处理的所述至少一部分的过程中通过所述气囊内窥镜再处理功能模块被维持在负压的状态中。4.根据权利要求3所述的气囊内窥镜再处理系统，其特征在于，所述阀包括与所述气囊内窥镜的所述内部体积流体连通的常闭的泄漏检测端口；并且所述气囊抽气控制功能模块在再处理的至少一部分的过程中通过以下方式将所述气囊内窥镜的所述内部体积维持在所述负压状态中，所述方式为通过所述泄漏检测端口对所述气囊内窥镜的所述内部体积进行抽气。5.根据权利要求3或4所述的气囊内窥镜再处理系统，其特征在于，所述气囊抽气...

【专利技术属性】
技术研发人员：G，
申请(专利权)人：智能医疗系统有限公司，
类型：发明
国别省市：