一种用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统，该系统置于闪烁晶体加工用手套箱中，包括能够组成筒体的上盖(1)、筒壁(2)和底座(3)，在箱体中设置有相互连接的光电倍增管(4)和管座多道(5)，待测试闪烁晶体(9)与光电倍增管(4)连接，使得待测试闪烁晶体(9)的性能能够在所述系统中检测。本实用新型专利技术公开的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统，能够避免闪烁晶体测试过程中受潮、污染。污染。污染。

【技术实现步骤摘要】
一种用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统


[0001]本技术涉及核辐射监测领域，具体涉及一种用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统。

技术介绍

[0002]闪烁计数器是测量射线、粒子的强度和能量的装置，主要由闪烁晶体、光收集系统和光探测元件三部分组成。
[0003]其中，闪烁晶体经高能射线激发后会产生光子，光子在闪烁体内按光学规律传播，经过光收集系统聚集后进入光探测元件，光探测元件(如光电倍增管)将光子转换成电信号，提供给后续的电子学系统进行分析。
[0004]由于多数闪烁晶体易潮解、易氧化，闪烁晶体加工过程一般在手套箱中进行，以保证干燥、无尘、无污染。但是闪烁晶体加工完毕后的测试过程中，却一般在室内环境中进行，此时闪烁晶体仅完成了初步封装，待测试合格后才将闪烁晶体和光电倍增管耦合装入外壳内进行完全封装。
[0005]在闪烁晶体测试阶段，初步封装的闪烁晶体仍然会受潮湿、污染等影响，影响其性能，有机率出现：晶体送至测试工装测试时性能完好，但在后期与光电倍增管耦合、封装入外壳期间晶体发生潮解或受污染，导致完全封装好的探测器性能不达标。
[0006]因此，有必要提出一种新的测试系统以解决上述问题。

技术实现思路

[0007]为了克服上述问题，本专利技术人进行了深入研究，设计出一种用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统，该系统置于闪烁晶体加工用手套箱中，包括能够组成筒体的上盖1、筒壁2和底座3，在箱体中设置有相互连接的光电倍增管4和管座多道5，待测试闪烁晶体9与光电倍增管4连接，使得待测试闪烁晶体9的性能能够在所述系统中检测。
[0008]在一个优选的实施方式中，在底座3上设置有上下贯穿的出线孔31，管座多道5的连接线穿过出线孔31，使得管座多道5能够连接到系统外部的计算机上。
[0009]在一个优选的实施方式中，在底座3底部还具有出线槽32，所述出线槽32为在底座3底部开设的槽体，连接出线孔31与底座边缘。
[0010]在一个优选的实施方式中，所述系统具有管座多道适配环6，管座多道适配环6的下端可拆卸的固定在底座3上，所述管座多道适配环6具有环形结构套设在夹持管座多道5的外侧。
[0011]在一个优选的实施方式中，所述系统具有固定夹板7，固定夹板7为平板状，其具有通孔，以套设在光电倍增管4的外侧，所述固定夹板7与管座多道适配环6或筒壁2可拆卸固定连接。
[0012]在一个优选的实施方式中，所述管座多道适配环6与底座3通过螺纹连接，固定夹板7与管座多道适配环6通过螺纹或螺栓连接。
[0013]在一个优选的实施方式中，所述筒壁2具有多个型号，不同型号的筒壁2的长度不同。
[0014]在一个优选的实施方式中，所述筒壁2的顶端和底端具有环形的凸台或凹槽，在上盖1、和底座3上设置有对应的凹槽或凸台，使得筒壁2与上盖1、底座3连接位置相互嵌套，从而使得光线不能从筒壁2与上盖1、底座3连接位置透射入筒体中。
[0015]在一个优选的实施方式中，在筒体的外表面涂抹有吸光涂料层。
[0016]在一个优选的实施方式中，在上盖1顶端设置有把手11。
[0017]本技术所提供的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统，有以下有益效果：
[0018](1)能够置入手套箱中，在手套箱中完成闪烁晶体性能的测试，避免闪烁晶体测试过程中受潮、污染；
[0019](2)可适应不同型号的闪烁晶体。
附图说明
[0020]图1示出根据本技术一种优选实施方式的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统结构示意图；
[0021]图2示出根据本技术一种优选实施方式的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统底座仰视图；
[0022]图3示出根据本技术一种优选实施方式的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统管座多道适配环结构示意图；
[0023]图4示出根据本技术一种优选实施方式的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统管座多道适配环正视图；
[0024]图5示出根据本技术一种优选实施方式的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统筒壁结构示意图；
[0025]图6示出根据本技术一种优选实施方式的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统上盖结构俯视图。
[0026]附图标号说明：
[0027]1‑
上盖；
[0028]2‑
筒壁；
[0029]3‑
底座；
[0030]4‑
光电倍增管；
[0031]5‑
管座多道；
[0032]6‑
管座多道适配环；
[0033]7‑
固定夹板；
[0034]9‑
待测试闪烁晶体；
[0035]11
‑
把手；
[0036]31
‑
出线孔；
[0037]32
‑
出线槽；
[0038]61
‑
螺纹段。
具体实施方式
[0039]下面通过附图和实施方式对本技术进一步详细说明。通过这些说明，本技术的特点和优点将变得更为清楚明确。
[0040]其中，尽管在附图中示出了实施方式的各种方面，但是除非特别指出，不必按比例绘制附图。
[0041]本技术提供了一种用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统，该系统置于闪烁晶体加工用手套箱中，包括能够组成筒体的上盖1、筒壁2和底座3，在箱体中设置有相互连接的光电倍增管4和管座多道5，待测试闪烁晶体9与光电倍增管4连接，使得待测试闪烁晶体9的性能能够在所述系统中检测，如图1所示。
[0042]在本技术中，所述光电倍增管、管座多道是闪烁晶体性能检测中常用的检测用构建，对其具体结构不做赘述。
[0043]在本技术中，通过设置将测试系统直接设置在闪烁晶体加工用手套箱内，使得晶体的封装、测试等流程均得以在手套箱中进行，避免晶体取出手套箱在做测试过程受潮、污染。
[0044]在一个优选的实施方式中，在底座3上设置有上下贯穿的出线孔31，管座多道5的连接线穿过出线孔31，使得管座多道5能够连接到系统外部的计算机上。
[0045]在一个优选的实施方式中，在底座3底部还具有出线槽32，所述出线槽32为在底座3底部开设的槽体，连接出线孔31与底座边缘，使得管座多道5的连接线从底座下部导出后，系统仍然能够保持直立状况，如图2所示。
[0046]在一个优选的实施方式中，所述系统具有管座多道适配环6，管座多道适配环6的下端可拆卸的固定在底座3上，所述管座多道适配环6具有环形结构套设在夹持管座多道5外侧。
[0047]在本技术中，所述系统需要对不同的闪烁晶体进行测试，因此，需要使用不同型号的管座多道和光电倍增管，而不同型号的管座多道的尺寸不同，在本技术中，通过更换不同尺寸环本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统，其特征在于，该系统置于闪烁晶体加工用手套箱中，包括能够组成筒体的上盖(1)、筒壁(2)和底座(3)，在箱体中设置有相互连接的光电倍增管(4)和管座多道(5)，待测试闪烁晶体(9)与光电倍增管(4)连接，使得待测试闪烁晶体(9)的性能能够在所述系统中检测。2.根据权利要求1所述的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统，其特征在于，在底座(3)上设置有上下贯穿的出线孔(31)，管座多道(5)的连接线穿过出线孔(31)，使得管座多道(5)能够连接到系统外部的计算机上。3.根据权利要求2所述的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统，其特征在于，在底座(3)底部还具有出线槽(32)，所述出线槽(32)为在底座(3)底部开设的槽体，连接出线孔(31)与底座边缘。4.根据权利要求1所述的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统，其特征在于，所述系统具有管座多道适配环(6)，管座多道适配环(6)的下端可拆卸的固定在底座(3)上，所述管座多道适配环(6)具有环形结构套设在夹持管座多道(5)的外侧。5.根据权利要求4所述的用于手套箱闪烁晶体性能测试的多功能测试系统，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑宇量，梁卫平，史志兰，陈小猛，
申请(专利权)人：北京超分科技有限公司，
类型：新型
国别省市：