一种转盘走线结构及芯片检测设备制造技术

本发明专利技术提供了一种转盘走线结构及芯片检测设备，属于芯片检测技术领域，其中，转盘走线结构包括：转盘本体，转盘本体包括转盘上部和转盘下部；转盘上部的轴向伸出有至少一个第一连接端，所述转盘下部的轴向伸出有至少一个第二连接端；电线，所述电线沿转盘本体的轴向螺旋设置，且所述电线依次连接在所述第一连接端和第二连接端上。本发明专利技术提供的转盘走线结构，通过第一连接端和第二连接端对电线的固定，使得电线在跟随转盘上部旋转时，位于第一连接端和第二连接端之间的部分进行拉紧或放松，尽量避免电线和其他结构发生缠绕，将电线的部分节点固定在连接端上，缩短电线跟随转盘上部转动的可移动长度，保护线路不被磨损。保护线路不被磨损。保护线路不被磨损。

【技术实现步骤摘要】
一种转盘走线结构及芯片检测设备


[0001]本专利技术涉及芯片检测
，具体涉及一种转盘走线结构及芯片检测设备。

技术介绍

[0002]集成电路(Integrated Circuit，IC)，也称微芯片、晶片或芯片，是一种把电路(包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面。
[0003]随着半导体行业的发展，集成电路芯片的厚度越做越薄，芯片的加工和检测精度越来越高。在芯片检测过程中，为了提高检测效率，工作台转动安装在芯片检测设备上，并且在工作台上面放置有两个用于承载芯片的载片台，两个载片台相对设置，工作台的下方连接有转盘，通过转盘的转动带动工作台进行往复转动，工作台上两个载片台分别对应芯片检测设备上两个工作位置，分别为芯片上料位置和芯片检测位置，第一个载片台处于芯片上料位置时，第二个载片台处于芯片检测位置。
[0004]芯片检测过程中，当第一个载片台上好料之后，正向旋转工作台180度，使第一个载片台移动至芯片检测位置，第二个载片台移动至芯片上料位置；当芯片检测完成同时芯片上料完成后，控制工作台本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种转盘走线结构，其特征在于，包括：转盘本体，所述转盘本体包括转盘上部(1)和转盘下部(2)，所述转盘上部(1)的轴线和转盘下部(2)的轴线重合设置，且所述转盘上部(1)和转盘下部(2)间隔设置；所述转盘上部(1)转动安装在检测装置内，且所述转盘上部(1)适于支撑放置芯片的工作台，所述转盘下部(2)固定安装在检测装置内；所述转盘上部(1)朝向所述转盘下部(2)的侧面上沿所述转盘上部(1)的轴向伸出有至少一个第一连接端(3)，所述转盘下部(2)朝向所述转盘上部(1)的侧面上沿所述转盘下部(2)的轴向伸出有至少一个第二连接端(4)；电线(5)，所述电线(5)沿转盘本体的轴向螺旋设置，且所述电线(5)依次连接在所述第一连接端(3)和第二连接端(4)上。2.根据权利要求1所述的转盘走线结构，其特征在于，还包括驱动电机，所述驱动电机适于驱动所述转盘上部(1)转动，且所述电线(5)连接在转盘上部(1)的部分与所述驱动电机电连接。3.根据权利要求1所述的转盘走线结构，其特征在于，所述第一连接端(3)和第二连接端(4)上均开设有适于电线(5)通过的安装孔，所述电线(5)通过安装孔后通过紧固件固定在连接端上。4.根据权利要求3所述的转盘走线结构，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：程新伟，张华，陈丽芳，徐虎子，彭薪元，
申请(专利权)人：河北圣昊光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：