一种射频标签测试装置及系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种射频标签测试装置及系统，属于电力行业技术领域，本实用新型专利技术中包括主控制装置、探针卡、温度传感器、射频阅读器、加热设备、降温设备、数据显示装置、数据存储装置、无线通信装置；所述主控制装置分别与所述探针卡、温度传感器、射频阅读器、加热设备、降温设备、数据显示装置、数据存储装置、无线通信装置连接；增加了将射频标签测试数据进行可视化的设计，利于相关测试工作人员进行快速实时地测试观察；同时，对于射频标签测试数据也设计了相关的数据存储部分，利于射频标签测试数据的存储和备份；同时，对于数据传输也有相关设计，满足数据远程传输条件。满足数据远程传输条件。满足数据远程传输条件。

【技术实现步骤摘要】
一种射频标签测试装置及系统


[0001]本技术属于射频标签测试
，具体涉及一种射频标签测试装置及系统。

技术介绍

[0002]RFID标签包括RFID标签芯片和射频天线，RFID标签在使用时，RFID标签芯片会控制射频天线以一定功率发射射频信号，但利用RFID标签进行温度监测时，RFID标签的射频天线在高温或低温的影响下，其性能会受到影响，使得发射功率受到影响而改变，造成不便。现有一种RFID标签，其为避免射频天线的发射灵敏度受到温度影响，在标签外部设置隔热层，但这样会导致RFID标签体积过大，使用不便。
[0003]现有提供一种RFID标签测试系统，包括测试机、探针卡、温度传感器、射频阅读器、加热设备和降温设备，所述测试机分别连接探针卡、温度传感器和射频阅读器，所述探针卡用于放置被测标签的射频标签芯片，所述温度传感器、加热设备和降温设备都设在靠近探针卡的边缘处。在完成了射频标签芯片的测试和温度影响数据写入后，被测标签在实际运用时，其射频标签芯片向射频天线输入射频电流以使得射频天线能向外界发出射频信号，在射频天线的发射功率在受到温本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频标签测试装置，其特征在于，包括主控制装置、探针卡、温度传感器、射频阅读器、加热设备、降温设备、数据显示装置、数据存储装置、无线通信装置；所述主控制装置分别与所述探针卡、温度传感器、射频阅读器、加热设备、降温设备、数据显示装置、数据存储装置、无线通信装置连接；所述温度传感器为非接触式温度传感器；所述主控制装置通过所述无线通信装置分别与云端服务器和智能终端网络连接。2.如权利要求1所述的一种射频标签测试装置，其特征在于，所述数据显示装置为LCD液晶显示屏。3.如权利要求1所述的一种射频标签测试装置，其特征在于，所述数据存储装置为SD卡。4.如权利要求1所述的一种射频标签测试装置，其特征在于，所述无线通信装置为5G通信。5.如权利要求1所述的一种射频标签测试装置，其特征在于，所述加热设备包括电加热器和电加热器驱动电路；所述主控制装置、电加热器驱动电路、电加热器依次连接。6.如权利要求1所述的一种射频标签测试装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：马治国，吕根立，
申请(专利权)人：成都空网智联科技有限公司，
类型：新型
国别省市：