一种用于测量差分阻抗的FPC制造技术

本申请提供了一种用于测量差分阻抗的FPC，包括FPC主体，FPC主体内设置有若干个MIPI线路，FPC主体与MIPI线路之间设置有测量机构，测量机构包括设置在FPC主体一侧的承载部，承载部上设置有多个测量部。本申请通过将一部分的MIPI线路引出至设置的测量机构上，且引出后的MIPI线路的一端设置有焊盘，且突出板上开设有与焊盘位置对应的开窗，开窗的设置使得焊盘露出，在使用差分阻抗的金属探针对MIPI线路进行测量时，直接将探头压在开窗位置，就可以测量MIPI线路的差分阻抗，本实用新型专利技术巧妙地将MIPI线路引出，设计了符合金属探针测量要求的结构，使得MIPI线路差分阻抗测量简单、有效，不需要设计专门的测量夹具，大大节约了开发成本。本。本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量差分阻抗的FPC


[0001]本技术涉及FPC
，具体而言，涉及一种用于测量差分阻抗的FPC。

技术介绍

[0002]FPC即柔性电路板，是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有高度可靠性，绝佳的可挠性印刷电路板，具有配线密度高、重量轻、厚度薄、弯折性好的特点，FPC常用于显示模组中，如我国专利：CN202122171532.X一种易于检测FPC凸出的显示模组；
[0003]手机类显示模组的FPC，其MIPI线路有差分阻抗要求，FPC上的MIPI线路，是通过绑定位金手指连通到显示玻璃、手机主机上的，由于FPC绑定位金手指Pitch值极小，一般金手指宽0.06mm，测量差分阻抗的金属探针无法直接测量MIPI线路所对应的金手指。因此我们对此做出改进，提出一种用于测量差分阻抗的FPC。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于：针对目前存在的FPC绑定位金手指Pitch值极小，一般金手指宽0.06mm，测量差分阻抗的金属探针无法直接测量MIPI线路所对应的金手指的问题。
[0005]为了实现上述技术目的，本技术提供了以下技术方案：
[0006]用于测量差分阻抗的FPC，以改善上述问题。
[0007]本申请具体是这样的：
[0008]包括FPC主体，所述FPC主体内设置有若干个MIPI线路，所述FPC主体与MIPI线路之间设置有测量机构，所述测量机构包括设置在FPC主体一侧的承载部，所述承载部上设置有多个测量部，其中一部分所述MIPI线路的端部延伸至承载部内，且延伸至承载部上的MIPI线路的端部与测量部连接。
[0009]作为本申请优选的技术方案，所述承载部包括突出板，所述突出板固定设置在FPC主体的一侧。
[0010]作为本申请优选的技术方案，所述测量部包括焊盘，所述焊盘设置在突出板内，且焊盘与延伸至承载部上的MIPI线路的端部连接。
[0011]作为本申请优选的技术方案，所述测量部还包括开窗，所述开窗开设在突出板上，且开窗的位置与焊盘的位置相对应。
[0012]作为本申请优选的技术方案，还包括冲切线，所述冲切线设置在FPC主体上，且冲切线的位置靠近承载部。
[0013]作为本申请优选的技术方案，还包括防护机构，所述防护机构的数量为两个。
[0014]作为本申请优选的技术方案，所述防护机构用于对FPC主体以及测量机构进行防护。
[0015]作为本申请优选的技术方案，所述防护机构包括连接部，所述连接部与测量机构以及FPC主体配套插接。
[0016]作为本申请优选的技术方案，所述防护机构还包括防护部，所述连接部设置在防
护部上，防护部用于对FPC主体以及测量机构进行防护。
[0017]作为本申请优选的技术方案，所述防护部包括防护条，所述连接部包括卡槽，所述卡槽的内壁与测量机构以及FPC主体配套插接。
[0018]与现有技术相比，本技术的有益效果：
[0019]在本申请的方案中：
[0020]1.通过将一部分的MIPI线路引出至设置的测量机构上，且引出后的MIPI线路的一端设置有焊盘，且突出板上开设有与焊盘位置对应的开窗，开窗的设置使得焊盘露出，在使用差分阻抗的金属探针对MIPI线路进行测量时，直接将探头压在开窗位置，就可以测量MIPI线路的差分阻抗，本技术巧妙地将MIPI线路引出，设计了符合金属探针测量要求的结构，使得MIPI线路差分阻抗测量简单、有效，不需要设计专门的测量夹具，大大节约了开发成本；
[0021]2.通过设置的防护机构，防护机构中的防护条与卡槽相互配合能够对FPC主体以及测量机构进行防护，减少运输或携带过程中FPC主体以及测量机构出现损坏的情况，在使用时防护条可以从FPC主体和测量机构上取下，在FPC主体弯折时，防护条能够通过卡槽安装在FPC主体折弯部位的侧面，这样设置的好处是能够对FPC主体转弯处进行防护以及支撑，降低FPC主体折弯处损坏的情况。
附图说明
[0022]图1为本申请提供的用于测量差分阻抗的FPC的结构示意图；
[0023]图2为本申请提供的用于测量差分阻抗的FPC的冲切线的结构示意图；
[0024]图3为本申请提供的用于测量差分阻抗的FPC的结构示意图；
[0025]图4为本申请提供的用于测量差分阻抗的FPC的防护条的正视结构示意图；
[0026]图5为本申请提供的用于测量差分阻抗的FPC的防护条的剖视结构示意图；
[0027]图6为本申请提供的用于测量差分阻抗的FPC的防护条对FPC主体折弯区进行防护时的结构示意图；
[0028]图7为本申请提供的用于测量差分阻抗的FPC的防护条的立体结构示意图。
[0029]图中标示：
[0030]1、FPC主体；
[0031]2、测量机构；201、突出板；202、焊盘；203、开窗；
[0032]3、MIPI线路；
[0033]4、冲切线；
[0034]5、防护机构；501、防护条；502、卡槽。
具体实施方式
[0035]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0036]因此，以下对本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的部分实施例。基于本技术中的实施例，本领域普
通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0037]需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征和技术方案可以相互组合。
[0038]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0039]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，这类术语仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0040]实施例1：
[0041]如图1所示，本实施方式提出一种用于测量差分阻抗的FPC，包括FPC主体1，FPC主体1内设置有若干个MIPI线路3，FPC主体1与MIPI线路3之间设置有测量机构2，测量机构2包括设置在FPC主体1一侧的承载部，承载部上设置有多个测量部，其中一部分MIPI线路3的端部延伸至承载部内，且延伸至承载部上的M本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测量差分阻抗的FPC，包括FPC主体(1)，所述FPC主体(1)内设置有若干个MIPI线路(3)，其特征在于，所述FPC主体(1)与MIPI线路(3)之间设置有测量机构(2)，所述测量机构(2)包括设置在FPC主体(1)一侧的承载部，所述承载部上设置有多个测量部，其中一部分所述MIPI线路(3)的端部延伸至承载部内，且延伸至承载部上的MIPI线路(3)的端部与测量部连接。2.根据权利要求1所述的一种用于测量差分阻抗的FPC，其特征在于，所述承载部包括突出板(201)，所述突出板(201)固定设置在FPC主体(1)的一侧。3.根据权利要求2所述的一种用于测量差分阻抗的FPC，其特征在于，所述测量部包括焊盘(202)，所述焊盘(202)设置在突出板(201)内，且焊盘(202)与延伸至承载部上的MIPI线路(3)的端部连接。4.根据权利要求3所述的一种用于测量差分阻抗的FPC，其特征在于，所述测量部还包括开窗(203)，所述开窗(203)开设在突出板(201)上，且开窗(203)的位置与焊盘(202)的位置相对应。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：林荣利，陈宏桂，樊劼，郑怀玺，
申请(专利权)人：信利光电仁寿有限公司，
类型：新型
国别省市：