一种MCU芯片振荡器频率测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种MCU芯片振荡器频率测试电路，其结构设计简单合理，可实现振荡器频率测试，可提高测试效率，其包括顺次连接的模式识别模块、频率控制模块，模式识别模块的输入端包括：第一输入端、第二输入端，第一输入端用于输入时钟信号，第二输入端用于输入数字信号，模式识别模块用于对数字信号、时钟信号进行识别，振荡器根据识别结果进入相应的工作模式，频率控制模块用于根据数字信号、时钟信号使振荡器工作于相应的工作频率、分频值，并使振荡器加载相应的修调值对工作频率进行调整，振荡器的输出端与测试机连接，振荡器的输出端输出配置后的频率，测试机用于对配置后的频率进行测试。频率进行测试。频率进行测试。

【技术实现步骤摘要】
一种MCU芯片振荡器频率测试电路


[0001]本技术涉及集成电路
，具体为一种MCU芯片振荡器频率测试电路。

技术介绍

[0002]MCU芯片又称微控制器或单片机，是一种将内存、计数器、USB接口、A/D转换、PLC等接口以及LCD驱动电路整合在同一芯片中的逻辑控制芯片。MCU芯片在工作时，读取存储在ROM区(只读存储区)的指令，对指令译码后执行相应的操作，指令的执行周期与振荡器的频率相关，因此，在MCU芯片设计或生产阶段，需对MCU芯片中振荡器的频率进行测试。
[0003]目前常用的振荡器频率测试方式是：通过设置定时器的时钟源及定时时间实现对振荡器频率的间接测试，测试前需首先设计定时程序，并将定时程序烧录至芯片中，再运行定时程序实现间接测试，但通过该方式对振荡器模块的功能进行测试存在局限性、滞后性，无法在流片后的第一时间对电路功能进行测试，严重影响了测试效率。
[0004]目前常用的MCU芯片振荡器频率测试方式是：通过设置定时器的时钟源及定时时间实现对振荡器频率的间接测试，测试前需首先设计定时程序，确定计数器时钟源、分频比、定时时间，并将定时程序烧录至芯片中。芯片运行定时程序，内部计数器根据设置的时钟信号执行计数操作，并在设定的定时时间输出状态。由于定时时间、时钟源、分频比已知，可以倒推出时钟频率，以实现间接的测量振荡器频率。通过该方式对振荡器模块的频率进行测试时，只有在到达定时时间时才能执行下一步程序或输出频率，增加了测试过程中的时间间隔，从而增加了整体测试时间，影响了测试效率，并且烧录定时程序的方式无法根据实际需求灵活选择振荡器的工作频率，降低了测试灵活性。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中存在上述的问题，本技术提供了一种MCU芯片振荡器频率测试电路，其结构设计简单合理，可实现振荡器频率测试，可提高测试效率和测试灵活性。
[0006]为实现上述目的，本技术采用如下技术方案：
[0007]一种MCU芯片振荡器频率测试电路，其特征在于，其包括顺次连接的模式识别模块、频率控制模块，所述模式识别模块的输入端包括：第一输入端、第二输入端，所述第一输入端用于输入时钟信号，所述第二输入端用于输入数字信号，所述模式识别模块用于：对所述数字信号、时钟信号进行识别，振荡器根据识别结果进入相应的工作模式；
[0008]所述频率控制模块用于：根据所述数字信号、时钟信号使所述振荡器工作于相应的工作频率、分频值，并使所述振荡器加载相应的修调值对所述工作频率进行调整；
[0009]所述振荡器的输出端与测试机连接，所述振荡器的输出端输出配置后的频率，所述测试机用于对配置后的所述频率进行测试。
[0010]其进一步特征在于，
[0011]所述模式识别模块包括依次连接的：若干串联的第一触发器、第一译码器、若干并联的第二触发器、第二译码器，第一触发器输入端为所述第一输入端，用于输入时钟信号，
所述时钟信号包括第一时钟信号，所述第一触发器依据输入的所述第一时钟信号触发，并输出第一触发信号；所述第一译码器用于对所述第一触发器输出的所述第一触发信号进行译码，并输出第一译码信号；所述第二触发器的输入端为所述第二输入端，用于输入数字信号，所述数字信号包括第一数字信号，所述第二触发器依据输入的所述第一译码信号、第一数字信号触发，所述第二触发器的输出端输出第二触发信号，所述第二译码器对所述第二触发信号译码，第二译码器输出端为所述模式识别模块的输出端，用于输出所述识别结果，所述第一触发器、第二触发器的第一控制端口为系统预热端；
[0012]进一步的，所述频率控制模块包括依次连接的：若干串联的第三触发器、第三译码器、若干并联的第四触发器、第一多路选择器，第三触发器输入端为所述第一输入端，用于输入时钟信号，所述时钟信号包括第二时钟信号，所述第三触发器、第四触发器的第一控制端口连接所述模式识别模块中的所述第二译码器的输出端，第三触发器输出端依据所述第一时钟信号触发，并输出第三触发信号，所述第三译码器对输入的所述第三触发信号译码，并输出第三译码信号，所述第四触发器的输入端输入所述第三译码信号，所述第四触发器的输入端所述第二输入端，用于输入数字信号，所述数字信号包括第二数字信号，所述第四触发器依据所述第三译码信号、第二数字信号触发，并输出第四触发信号，所述第一多路选择器根据所述第四触发信号选择相应的所述工作频率、分频值、修调值，并发送给所述振荡器，使所述振荡器在相应的所述工作频率、分频值条件下工作，并通过相应的所述修调值对所述工作频率进行调整；
[0013]进一步的，所述频率控制模块包括：第五触发器、第六触发器、第五译码器、第七触发器、第六译码器、第八触发器、第二多路选择器，所述第五触发器的第二控制端口、输入端均连接所述模式识别模块中的所述第二译码器的输出端，所述第五触发器的第三控制端口入第四时钟信号，所述第五触发器的输出端分别连接所述六触发器的第一控制端口、第七触发器与第八触发器的第一控制端口，所述第六触发器的第二控制端口输入第四钟信号，所述第六触发器的输出端连接所述第五译码器的输入端，所述第五译码器的输出端分别连接所述第七触发器、第八触发器的输入端，所述第七触发器、第八触发器的输入端分别输入第四数字信号，所述第七触发器的输出端连接所述第六译码器的输入端，所述第六译码器的输出端、第八触发器的输出端分别连接第二多路选择器，所述第二多路选择器根据所述第六译码器输出的第六译码信号、第八触发器输出的第八触发信号选择相应的所述工作频率、分频值、修调值，并发送给所述振荡器，使所述振荡器在相应的所述工作频率、分频值条件下工作，并通过相应的所述修调值对所述工作频率进行调整。
[0014]采用本技术上述结构可以达到如下有益效果：该测试电路用于对MCU芯片振荡器频率进行测试，测试过程中，首先通过模式识别模块对MCU芯片振荡器的工作模式进行选择，MCU芯片振荡器的工作模式一般分为：测试模式、正常工作模式，当模式识别模块的识别结果为测试模式时，MCU芯片振荡器中的频率控制模块工作，频率控制模块的作用是：根据数字信号、时钟信号使振荡器工作于相应的工作频率、分频值，并使振荡器加载相应的修调值对工作频率进行调整，从而使振荡器在测试模式下输出相应频率，然后再通过测试机对输出的相应频率进行判断，测试过程中，只需在模式识别模块的第一输入端、第二输入端输入相应的时钟信号、数字信号即可实现测试，测试操作方便快捷。
[0015]该振荡器测试电路配合相应的使能信号(数字信号、时钟信号)即可实现振荡器频
译码器，第二译码器4为8
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1译码器，4
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8译码器的输入数据为四位，输出数据为八位，8
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1译码器的输入数据为八位，输出数据为一位。具体连接关系为：触发器一F1的第二控制端口输入第一时钟信号，触发器一F1输出端分别连接触发器二F2的第二控制端口、第一译码器2的1管脚，触发器二F2输出端分别连接触发器三F3的第二控制端口、第一译码器2的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MCU芯片振荡器频率测试电路，其特征在于，其包括顺次连接的模式识别模块、频率控制模块，所述模式识别模块的输入端包括：第一输入端、第二输入端，所述第一输入端用于输入时钟信号，所述第二输入端用于输入数字信号，所述模式识别模块用于：对所述数字信号、时钟信号进行识别，振荡器根据识别结果进入相应的工作模式；所述频率控制模块通过多路选择器与所述振荡器连接，所述频率控制模块用于：根据所述数字信号、时钟信号使所述振荡器工作于相应的工作频率、分频值，并使所述振荡器加载相应的修调值对所述工作频率进行调整；所述振荡器的输出端与测试机连接，所述振荡器的输出端输出配置后的频率，所述测试机用于对配置后的所述频率进行测试。2.根据权利要求1所述的MCU芯片振荡器频率测试电路，其特征在于，所述模式识别模块包括依次连接的：若干串联的第一触发器、第一译码器、若干并联的第二触发器、第二译码器，第一触发器的第二控制端口为所述第一输入端，用于输入时钟信号，所述时钟信号包括第一时钟信号，所述第一触发器依据输入的所述第一时钟信号触发，并输出第一触发信号；所述第一译码器用于对所述第一触发器输出的所述第一触发信号进行译码，并输出第一译码信号；所述第二触发器的输入端为所述第二输入端，用于输入数字信号，所述数字信号包括第一数字信号，所述第二触发器依据输入的所述第一译码信号、第一数字信号触发，所述第二触发器的输出端输出第二触发信号，所述第二译码器对所述第二触发信号译码，第二译码器输出端为所述模式识别模块的输出端，用于输出所述识别结果，所述第一触发器、第二触发器的第一控制端口为系统预热端。3.根据权利要求2所述的MCU芯片振荡器频率测试电路，其特征在于，所述第一触发器包括四个：触发器一～触发器四，所述第二触发器包括八个：触发器五～触发器十二，所述第一译码器为4
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8译码器，所述第二译码器为8
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1译码器，所述4
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8译码器的输入数据为四位，输出数据为八位，所述8
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1译码器的输入数据为八位，输出数据为一位；所述触发器一的第二控制端口输入所述第一时钟信号，触发器一输出端分别连接触发器二的第二控制端口、所述第一译码器的1管脚，触发器二输出端分别连接触发器三的第二控制端口、所述第一译码器的2管脚，触发器三输出端分别连接触发器四的第二控制端口，所述第一译码器的3脚，触发器四输出端连接所述第一译码器的4管脚；第一译码器输出端分别连接所述触发器五～触发器十二的输入端，且所述触发器五～触发器十二的输入端输入所述第一数字信号，所述触发器五～触发器十二的输出端连接所述第二译码器的输入端，所述第二译码器的输出端连接所述频率控制模块。4.根据权利要求3所述的MCU芯片振荡器频率测试电路，其特征在于，所述频率控制模块包括依次连接的：若干串联的第三触发器、第三译码器、若干并联的第四触发器、第一多路选择器，第三触发器的第一控制端为所述第一输入端，用于输入时钟信号，所述时钟信号包括第二时钟信号，所述第三触发器、第四触发器的第一控制端口连接所述模式识别模块中的所述第二译码器的输出端，第三触发器输出端依据所述第二时钟信号触发，并输出第三触发信号，所述第三译码器对输入的所述第三触发信号译码，并输出第三译码信号，所述第四触发器的第二控制端口输入所述第三译码信号，所述第四触发器的输入端为所述第二输入端，用于输入数字信号，所述数字信号包括第二数字信号，所述第四触发器依据所述第三译码信号、第二数字信号触发，并输出第四触发信号，所述第一多路选择器根...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱宗民，
申请(专利权)人：无锡矽杰微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：