风机叶片缺陷检测的方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:34643214 阅读:13 留言:0更新日期:2022-08-24 15:19
本申请属于图像处理技术领域,公开了风机叶片缺陷检测的方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括,从待检测图像中,分割出风机叶片局部图像;将风机叶片局部图像输入到图像复原模型中,获得风机叶片复原图像,图像复原模型用于填充风机叶片的缺失部分;确定风机叶片局部图像以及风机叶片复原图像之间的结构相似性;根据结构相似性,确定风机叶片缺陷检测结果。这样,简化了检测的繁琐步骤,减少了耗费的人力成本和时间成本,提高了检测效率和准确度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
风机叶片缺陷检测的方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及图像处理
,具体而言,涉及风机叶片缺陷检测的方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]传统的风电叶片故障巡检方式主要为目测检查方式,主要分为高倍望远镜检查、高空绕行下降目测检查、叶片维修平台检查,存在检测时间长、费用高、操作步骤繁杂以及效率低等特点,不适合进行日常巡检。
[0003]由此,需要一种风机叶片缺陷检测的方法,以降低风机叶片检测的复杂度以及成本,提高检测效率。

技术实现思路

[0004]本申请实施例的目的在于提供风机叶片缺陷检测的方法、装置、电子设备及存储介质,用以在进行风机叶片检测时,可以降低风机叶片检测的复杂度以及成本,提高检测效率。
[0005]一方面,提供一种风机叶片缺陷检测的方法,包括:
[0006]从待检测图像中,分割出风机叶片局部图像;
[0007]将风机叶片局部图像输入到图像复原模型中,获得风机叶片复原图像,图像复原模型用于填充风机叶片的缺失部分;
[0008]确定风机叶片局部图像以及风机叶片复原图像之间的结构相似性;
[0009]根据结构相似性,确定风机叶片缺陷检测结果。
[0010]在上述实现过程中,通过图像复原模型获得风机叶片复原图像,以及通过图像之间的结构相似性,获得检测结果,简化了检测的繁琐步骤,减少了耗费的人力成本和时间成本,提高了检测效率和准确度。
[0011]一种实施方式中,从待检测图像中,分割出风机叶片局部图像,包括:
[0012]基于待检测图像中各像素与目标位置之间的距离,生成待检测图像的前景深度图;
[0013]从前景深度图中,低于距离阈值的距离调整为设定距离,获得背景深度图;
[0014]基于待检测图像的背景中各像素与目标位置之间的距离,生成待检测图像的背景深度图;
[0015]基于背景深度图与前景深度图之间的差值,获得减法图像;
[0016]基于减法图像,提取风机叶片局部图像。
[0017]在上述实现过程中,通过深度图,提取风机叶片的局部图像,减少了检测的数据处理量。
[0018]一种实施方式中,基于减法图像,提取风机叶片局部图像,包括:
[0019]对减法图像进行二值化,获得二值化图像;
[0020]从二值化图像中,分割出风机叶片局部图像。
[0021]在上述实现过程中,通过二值化,优化了边缘提取效果。
[0022]一种实施方式中,从二值化图像中,分割出风机叶片局部图像,包括:
[0023]采用粒子滤波,对二值化图像进行粒子过滤,获得过滤图像;
[0024]从过滤图像中分割出风机叶片局部图像。
[0025]在上述实现过程中,通过粒子滤波,可以填充部分粒子和去除干扰。
[0026]一种实施方式中,确定风机叶片局部图像以及风机叶片复原图像之间的结构相似性,包括:
[0027]确定风机叶片局部图像中各像素的第一像素值的第一均值以及第一方差;
[0028]确定风机叶片复原图像中各像素的第二像素值的第二均值以及第二方差;
[0029]确定各第一像素值和各第二像素值之间的协方差;
[0030]确定第一均值与第二均值之间的乘积,获得均值乘积;
[0031]基于均值乘积、协方差,第一方差、第二方差、第一均值以及第二均值,获得结构相似性,结构相似性与均值乘积以及协方差均呈正相关,与第一方差、第二方差、第一均值的平方以及第二均值的平方均呈负相关。
[0032]在上述实现过程中,可以通过风机叶片的结构,确定图像之间的相似性。
[0033]一种实施方式中,根据结构相似性,确定风机叶片缺陷检测结果,包括:
[0034]若确定结构相似性高于结构相似性阈值,则获得表征风机叶片正常的风机叶片缺陷检测结果;
[0035]若确定结构相似性不高于结构相似性阈值,则获得表征风机叶片存在缺陷的风机叶片缺陷检测结果。
[0036]在上述实现过程中,通过图像之间的结构相似性,判断是否存在缺陷,提高了检测准确度。
[0037]一种实施方式中,方法还包括:
[0038]若基于风机叶片缺陷检测结果确定风机叶片存在缺陷,则将风机叶片局部图像与风机叶片复原图像进行比对,获得风机叶片的缺陷区域。
[0039]在上述实现过程中,可以获得准确的缺陷区域。
[0040]一方面,提供一种风机叶片缺陷检测的装置,包括:
[0041]分割单元,用于从待检测图像中,分割出风机叶片局部图像;
[0042]复原单元,用于将风机叶片局部图像输入到图像复原模型中,获得风机叶片复原图像,图像复原模型用于填充风机叶片的缺失部分;
[0043]匹配单元,用于确定风机叶片局部图像以及风机叶片复原图像之间的结构相似性;
[0044]检测单元,用于根据结构相似性,确定风机叶片缺陷检测结果。
[0045]一种实施方式中,分割单元用于:
[0046]基于待检测图像中各像素与目标位置之间的距离,生成待检测图像的前景深度图;
[0047]从前景深度图中,低于距离阈值的距离调整为设定距离,获得背景深度图;
[0048]基于待检测图像的背景中各像素与目标位置之间的距离,生成待检测图像的背景
深度图;
[0049]基于背景深度图与前景深度图之间的差值,获得减法图像;
[0050]基于减法图像,提取风机叶片局部图像。
[0051]一种实施方式中,分割单元用于:
[0052]对减法图像进行二值化,获得二值化图像;
[0053]从二值化图像中,分割出风机叶片局部图像。
[0054]一种实施方式中,分割单元用于:
[0055]采用粒子滤波,对二值化图像进行粒子过滤,获得过滤图像;
[0056]从过滤图像中分割出风机叶片局部图像。
[0057]一种实施方式中,匹配单元用于:
[0058]确定风机叶片局部图像中各像素的第一像素值的第一均值以及第一方差;
[0059]确定风机叶片复原图像中各像素的第二像素值的第二均值以及第二方差;
[0060]确定各第一像素值和各第二像素值之间的协方差;
[0061]确定第一均值与第二均值之间的乘积,获得均值乘积;
[0062]基于均值乘积、协方差,第一方差、第二方差、第一均值以及第二均值,获得结构相似性,结构相似性与均值乘积以及协方差均呈正相关,与第一方差、第二方差、第一均值的平方以及第二均值的平方均呈负相关。
[0063]一种实施方式中,检测单元用于:
[0064]若确定结构相似性高于结构相似性阈值,则获得表征风机叶片正常的风机叶片缺陷检测结果;
[0065]若确定结构相似性不高于结构相似性阈值,则获得表征风机叶片存在缺陷的风机叶片缺陷检测结果。
[0066]一种实施本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种风机叶片缺陷检测的方法,其特征在于,包括:从待检测图像中,分割出风机叶片局部图像;将所述风机叶片局部图像输入到图像复原模型中,获得风机叶片复原图像,所述图像复原模型用于填充风机叶片的缺失部分;确定所述风机叶片局部图像以及所述风机叶片复原图像之间的结构相似性;根据所述结构相似性,确定风机叶片缺陷检测结果。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述待检测图像中,分割出风机叶片局部图像,包括:基于所述待检测图像中各像素与目标位置之间的距离,生成所述待检测图像的前景深度图;从所述前景深度图中,低于距离阈值的距离调整为设定距离,获得背景深度图;基于所述待检测图像的背景中各像素与目标位置之间的距离,生成所述待检测图像的背景深度图;基于所述背景深度图与所述前景深度图之间的差值,获得减法图像;基于所述减法图像,提取所述风机叶片局部图像。3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述减法图像,提取所述风机叶片局部图像,包括:对所述减法图像进行二值化,获得二值化图像;从所述二值化图像中,分割出所述风机叶片局部图像。4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述从所述二值化图像中,分割出所述风机叶片局部图像,包括:采用粒子滤波,对所述二值化图像进行粒子过滤,获得过滤图像;从所述过滤图像中分割出所述风机叶片局部图像。5.如权利要求1

4任一项所述的方法,其特征在于,所述确定所述风机叶片局部图像以及所述风机叶片复原图像之间的结构相似性,包括:确定所述风机叶片局部图像中各像素的第一像素值的第一均值以及第一方差;确定所述风机叶片复原图像中各像素的第二像素值的第二均值以及第二方差;确定各第一像素值和各第二像素值之间的协方差;确定所述第一均值与第二均值之间的乘积,获得均值乘积;基于所述均值乘积、所述协方差,所述第一方差、所述第二方差、所述第一均值以及所述第二均值,获得所述结构相似性,所述结构相似性与所述均值乘积以及所述协方差均呈正相关,与所述第一方差、所述第二方差、所述第一均值的平方以及所述第二均值的平方均呈负相关。6.如权利要求1

4任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述结构相似性,确定风机叶片缺陷检测结果,包括:若确定所述结构相似性高于结构相似性阈值,则获得表征风机叶片正常的风机叶片缺陷检测结果;若确定所述结构相似性不高于结构相似性阈值,则获得表征风机叶片存在缺陷的风机叶片缺陷检测结果。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:若基于所述风机叶片缺陷检测结果确定所述风机叶片存在缺陷,则将所述风机叶片局部图像与所述风机叶片复原图像进行比对,获得所述风机叶片的缺陷区域。8.一种风机...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘海莹
申请(专利权)人:创新奇智上海科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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