触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质，采用三个互质的采样频率对触摸按键的触摸数据进行采集，得到第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据；从第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据中选取出与触摸按键的触摸基准值最接近的一个，作为最接近采样数据；根据最接近采样数据和触摸基准值，计算出触摸按键的触摸有效值；当触摸有效值与触摸按键的预设触发阈值之和小于触摸基准值，触摸按键的有效触发次数加一；当有效触发次数大于预设触发次数，确定触摸按键被按下。能够提高对触摸按键的触摸检测的可靠性。的可靠性。的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及按键控制
，尤其涉及一种触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质。

技术介绍

[0002]目前基于MCU实现触摸按键的功能，需要在MCU设计方面增加许多抗干扰及控制温飘等可靠性电路，这使得触摸MCU成本大幅增加，且不同厂家的触摸MCU设计侧重点不同，无法适配十分复杂的应用环境，导致触摸按键的触摸检测不够可靠，经常实现误触发或者不触发，可靠性不足。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质，能够提高对触摸按键的触摸检测的可靠性。
[0004]第一方面，本专利技术实施例提供一种触摸按键的触摸检测方法，包括：
[0005]采用三个互质的采样频率对触摸按键的触摸数据进行采集，得到第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据；
[0006]从所述第一采样数据、所述第二采样数据和所述第三采样数据中选取出与所述触摸按键的触摸基准值最接近的一个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触摸按键的触摸检测方法，其特征在于，包括：采用三个互质的采样频率对触摸按键的触摸数据进行采集，得到第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据；从所述第一采样数据、所述第二采样数据和所述第三采样数据中选取出与所述触摸按键的触摸基准值最接近的一个，作为最接近采样数据；根据所述最接近采样数据和所述触摸基准值，计算出所述触摸按键的触摸有效值；当所述触摸有效值与所述触摸按键的预设触发阈值之和小于所述触摸基准值，所述触摸按键的有效触发次数加一；当所述触摸有效值与所述触摸按键的预设触发阈值之和大于或者等于所述触摸基准值，所述有效触发次数清零；所述有效触发次数的初始值为零；当所述有效触发次数大于预设触发次数，确定所述触摸按键被按下。2.根据权利要求1所述的触摸按键的触摸检测方法，其特征在于，所述触摸有效值采用以下方式计算得出：当|D
‑
B|>2Y且D＞B，E＝D
‑
1/2(D
‑
B)；当|D
‑
B|>2Y且D＜B，E＝D+(D
‑
B)；当|D
‑
B|≤2Y，E＝D；其中，E为触摸有效值，D为最接近采样数据，B为触摸基准值，Y为预设触发阈值。3.根据权利要求1所述的触摸按键的触摸检测方法，其特征在于，所述方法还包括：当触摸有效值与预设触发阈值之和小于触摸基准值的触摸按键的数量超过所有触摸按键的总数的一半，将所有触摸按键的触摸基准值清零；其中，最大响应按键数小于所有触摸按键的总数的一半，所述最大响应按键数为允许同时响应的触摸按键的数量。4.根据权利要求1所述的触摸按键的触摸检测方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪军，胡子扬，方桦，金旭，
申请(专利权)人：广东瑞德智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：