触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质制造方法及图纸

技术编号:34636221 阅读:14 留言:0更新日期:2022-08-24 15:09
本发明专利技术公开了一种触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质,采用三个互质的采样频率对触摸按键的触摸数据进行采集,得到第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据;从第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据中选取出与触摸按键的触摸基准值最接近的一个,作为最接近采样数据;根据最接近采样数据和触摸基准值,计算出触摸按键的触摸有效值;当触摸有效值与触摸按键的预设触发阈值之和小于触摸基准值,触摸按键的有效触发次数加一;当有效触发次数大于预设触发次数,确定触摸按键被按下。能够提高对触摸按键的触摸检测的可靠性。的可靠性。的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及按键控制
,尤其涉及一种触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质。

技术介绍

[0002]目前基于MCU实现触摸按键的功能,需要在MCU设计方面增加许多抗干扰及控制温飘等可靠性电路,这使得触摸MCU成本大幅增加,且不同厂家的触摸MCU设计侧重点不同,无法适配十分复杂的应用环境,导致触摸按键的触摸检测不够可靠,经常实现误触发或者不触发,可靠性不足。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质,能够提高对触摸按键的触摸检测的可靠性。
[0004]第一方面,本专利技术实施例提供一种触摸按键的触摸检测方法,包括:
[0005]采用三个互质的采样频率对触摸按键的触摸数据进行采集,得到第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据;
[0006]从所述第一采样数据、所述第二采样数据和所述第三采样数据中选取出与所述触摸按键的触摸基准值最接近的一个,作为最接近采样数据;
[0007]根据所述最接近采样数据和所述触摸基准值,计算出所述触摸按键的触摸有效值;
[0008]当所述触摸有效值与所述触摸按键的预设触发阈值之和小于所述触摸基准值,所述触摸按键的有效触发次数加一;当所述触摸有效值与所述触摸按键的预设触发阈值之和大于或者等于所述触摸基准值,所述有效触发次数清零;所述有效触发次数的初始值为零;
[0009]当所述有效触发次数大于预设触发次数,确定所述触摸按键被按下。
[0010]根据本专利技术实施例提供的触摸按键的触摸检测方法,至少具有如下有益效果:通过采用三个互质的采样频率对触摸按键的触摸数据进行采集,即使其中一个采样频率收到干扰,其余两个采样频率由于互质,受到的干扰很少甚至不受干扰,可以使得采样的数据更为可靠;将三个采样数据中与触摸基准值的差值最小的作为最接近采样数据,并计算出触摸有效值,在将触摸有效值于触摸基准值进行比较,当触摸有效值与触摸按键的预设触发阈值之和小于触摸基准值,也即触摸有效值与触摸基准值之间的差值大于预设触发阈值,可以初步认定为该触摸按键被按下,触摸按键的有效触发次数加一;最后当有效触发次数大于预设触发次数,满足消抖条件,从而可以确定触摸按键被稳定按下;采用本专利技术实施例提供的触摸检测方法,能够提高对触摸按键的触摸检测的可靠性。
[0011]在上述的触摸按键的触摸检测方法中,所述触摸有效值采用以下方式计算得出:
[0012]当|D

B|>2Y且D>B,E=D

(D

B);
[0013]当|D

B|>2Y且D<B,E=D+(D

B);
[0014]当|D

B|≤2Y,E=D;
[0015]其中,E为触摸有效值,D为最接近采样数据,B为触摸基准值,Y为预设触发阈值。
[0016]在上述的触摸按键的触摸检测方法中,所述方法还包括:
[0017]当触摸有效值与预设触发阈值之和小于触摸基准值的触摸按键的数量超过所有触摸按键的总数的一半,将所有触摸按键的触摸基准值清零;其中,最大响应按键数小于所有触摸按键的总数的一半,所述最大响应按键数为允许同时响应的触摸按键的数量。
[0018]在上述的触摸按键的触摸检测方法中,所述方法还包括:
[0019]当有效触发次数不为零的触摸按键的数量大于最大响应按键数,将所有所述有效触发次数清零;其中,所述最大响应按键数为允许同时响应的触摸按键的数量。
[0020]在上述的触摸按键的触摸检测方法中,当被确定为被按下的触摸按键的数量超过最大响应按键数,将所有被确定为被按下的触摸按键的触摸基准值清零;其中,所述最大响应按键数为允许同时响应的触摸按键的数量。
[0021]在上述的触摸按键的触摸检测方法中,当满足以下情况之一且持续时间达到第一预设时间,将当前的触摸有效值赋值给所述触摸基准值;
[0022]情况一:没有触摸按键被按下;
[0023]情况二:所述第一采样数据、所述第二采样数据和所述第三采样数据中的最大值与最小值之差小于预设噪声阈值;
[0024]情况三:所述第一采样数据、所述第二采样数据和所述第三采样数据中的最大值与最小值的平均值与当前的触摸基准值之差小于预设噪声阈值的一半。
[0025]在上述的触摸按键的触摸检测方法中,还包括:对所述三个互质的采样频率,在预设的范围内,以2%步进幅度进行频率循环调整。
[0026]第二方面,本专利技术实施例还提供一种运行控制装置,包括至少一个控制处理器和用于与所述至少一个控制处理器通信连接的存储器;所述存储器存储有可被所述至少一个控制处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个控制处理器执行,以使所述至少一个控制处理器能够执行如上第一方面实施例所述的触摸按键的触摸检测方法。
[0027]第三方面,本专利技术实施例还提供一种电子设备,包括如上第二方面实施例所述的运行控制装置。
[0028]第四方面,本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于使计算机执行如上第一方面实施例所述的触摸按键的触摸检测方法。
[0029]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0030]附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案,并不构成对本专利技术技术方案的限制。
[0031]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步地说明;
[0032]图1是本专利技术实施例提供的一种触摸按键的触摸检测方法的流程图;
[0033]图2是本专利技术另一实施例提供的一种触摸按键的触摸检测方法的流程图;
[0034]图3是本专利技术实施例提供的运行控制装置的结构示意图。
具体实施方式
[0035]本部分将详细描述本专利技术的具体实施例,本专利技术之较佳实施例在附图中示出,附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述,使人能够直观地、形象地理解本专利技术的每个技术特征和整体技术方案,但其不能理解为对本专利技术保护范围的限制。
[0036]在本专利技术的描述中,如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0037]本专利技术的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本专利技术中的具体含义。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触摸按键的触摸检测方法,其特征在于,包括:采用三个互质的采样频率对触摸按键的触摸数据进行采集,得到第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据;从所述第一采样数据、所述第二采样数据和所述第三采样数据中选取出与所述触摸按键的触摸基准值最接近的一个,作为最接近采样数据;根据所述最接近采样数据和所述触摸基准值,计算出所述触摸按键的触摸有效值;当所述触摸有效值与所述触摸按键的预设触发阈值之和小于所述触摸基准值,所述触摸按键的有效触发次数加一;当所述触摸有效值与所述触摸按键的预设触发阈值之和大于或者等于所述触摸基准值,所述有效触发次数清零;所述有效触发次数的初始值为零;当所述有效触发次数大于预设触发次数,确定所述触摸按键被按下。2.根据权利要求1所述的触摸按键的触摸检测方法,其特征在于,所述触摸有效值采用以下方式计算得出:当|D

B|>2Y且D>B,E=D

1/2(D

B);当|D

B|>2Y且D<B,E=D+(D

B);当|D

B|≤2Y,E=D;其中,E为触摸有效值,D为最接近采样数据,B为触摸基准值,Y为预设触发阈值。3.根据权利要求1所述的触摸按键的触摸检测方法,其特征在于,所述方法还包括:当触摸有效值与预设触发阈值之和小于触摸基准值的触摸按键的数量超过所有触摸按键的总数的一半,将所有触摸按键的触摸基准值清零;其中,最大响应按键数小于所有触摸按键的总数的一半,所述最大响应按键数为允许同时响应的触摸按键的数量。4.根据权利要求1所述的触摸按键的触摸检测方法,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:汪军胡子扬方桦金旭
申请(专利权)人:广东瑞德智能科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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