【技术实现步骤摘要】
一种p
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GaN欧姆接触电极及其制备方法与应用
[0001]本专利技术涉及半导体材料与器件
,尤其涉及一种p
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GaN欧姆接触电极及其制备方法与应用
技术介绍
[0002]GaN材料的研究与应用是目前全球半导体研究的前沿和热点,是研制微电子器件、光电子器件的新型半导体材料,并与SIC、金刚石等半导体材料一起,被誉为第三代半导体材料。它具有宽的直接带隙、强的原子键、高的热导率、化学稳定性好等性质和强的抗辐照能力,在光电子、高温大功率器件和高频微波器件应用方面有着广阔的前景。虽然GaN基器件在近年来取得了相当大的进展,但是其较难实现低阻的p型GaN欧姆接触,使得GaN基高温大功率器件的研制一直受到限制。
[0003]实现p
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GaN欧姆接触的难点有以下几个方面:
[0004](1)p
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GaN载流子浓度不高;(2)缺少一种合适的接触金属,另外金属化工艺条件也会影响p
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GaN接触电阻;(3)GaN表面具有化学活性,容易 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种p
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GaN欧姆接触电极的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:提供GaN基外延片,所述GaN基外延片的最上层为p型GaN层,对所述p型GaN层进行激活处理,得到第一GaN基外延片;在所述第一GaN基外延片的p型GaN层上刻蚀,制备出欧姆接触区域,得到第二GaN基外延片;利用热磷酸溶液对所述第二GaN基外延片进行湿法腐蚀处理,清洗后得到第三GaN基外延片;在所述第三GaN基外延片的欧姆接触区域积淀金属,并通过退火工艺对金属进行合金处理,完成p
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GaN欧姆接触电极的制备。2.一种p
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GaN欧姆接触电极的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:提供GaN基外延片,所述GaN基外延片的最上层为p型GaN层,对所述p型GaN层进行激活处理,得到GaN基外延片A;利用热磷酸溶液对所述GaN基外延片A进行湿法腐蚀处理,清洗后得到GaN基外延片B;在所述GaN基外延片B的p型GaN层上光刻,制备出欧姆接触区域,得到GaN基外延片C;在所述GaN基外延片C的欧姆接触区域积淀金属,并通过退火工艺对金属进行合金处理,完成p
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GaN欧姆接触电极的制备。3.如权利要求1或2所述的p
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GaN欧姆接触电极的制备方法,其特征在于,利用热磷酸溶液进行湿法腐蚀处理过程中,腐蚀时间为2
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6h,溶液温度为60
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100℃。4.如权利要求3所述的p
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GaN欧姆接触电极的制备方法,其特征在于,利用热磷酸溶液进行湿法腐蚀处理过程中,腐蚀时间为3
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4h,溶液温度为70
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90℃。5.如权利要求1或2所述的p
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GaN欧姆接触电极的制备方法,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:袁旭,于国浩,王哲明,赵德胜,张宝顺,
申请(专利权)人:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所,
类型:发明
国别省市:
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