一种光伏硅片缺陷检测设备制造技术

技术编号:34626237 阅读:68 留言:0更新日期:2022-08-20 09:34
本实用新型专利技术公开了一种光伏硅片缺陷检测设备,包括检测组件和输送带,所述检测组件设置在输送带上方,所述检测组件包括光源面板、面阵相机、固定基座、外壳、防护玻璃、相机支架和光源面板方向调节组件,所述光源面板设置有多块,且多块光源面板活动安装在相机支架上,所述光源面板的另一端连接有限位杆,所述限位杆活动安装在光源面板方向调节组件上。本实用新型专利技术采用无接触式的检测方式,针对电池片内部的隐裂、沾污、发黑等缺陷下保证具备高质量的成像效果,同时不会造成二次隐裂的缺陷;利用电池片光致发光原理,配合能调整照射角度的频闪高亮补光灯照射电池片,同时使用面阵相机进行成像,适用于多种规格尺寸电池片缺陷检测。适用于多种规格尺寸电池片缺陷检测。适用于多种规格尺寸电池片缺陷检测。

【技术实现步骤摘要】
一种光伏硅片缺陷检测设备


[0001]本技术涉及光伏硅片检测
,具体为一种光伏硅片缺陷检测设备。

技术介绍

[0002]对于在太阳能电池板硅片中的很多缺陷,使用传统的成像系统是检测不到的。需要采用一种叫电致发光成像(EL)的检测方法—对太阳能电池板施加直流电。基于相机探测系统的光放射诊断和检测技术成为光伏产品检测的有效方法。目前EL检测技术,存在检测速度较慢,同时测试过程中需要整个在暗室中进行,并且可能会导致产品的二次隐裂的风险。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种光伏硅片缺陷检测设备,鉴于目前的EL检测技术缺陷,基于光致发光原理,方案中采用无接触式的检测方式,针对电池片内部的隐裂、沾污、发黑等缺陷下保证具备高质量的成像效果,同时不会造成二次隐裂的缺陷,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种光伏硅片缺陷检测设备,包括检测组件和输送带,所述检测组件设置在输送带上方,所述检测组件包括光源面板、面阵相机、固定基座、外壳、防护玻璃、相机支架和光源面板方向调节组本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光伏硅片缺陷检测设备,包括检测组件和输送带,所述检测组件设置在输送带上方,所述检测组件包括光源面板、面阵相机(5)、固定基座(6)、外壳(8)、防护玻璃(9)、相机支架(10)和光源面板方向调节组件,所述外壳(8)固定安装在固定基座(6)上,其特征在于:所述相机支架(10)安装在外壳(8)内中部,所述光源面板设置有多块,且多块光源面板活动安装在相机支架(10)上,所述光源面板的另一端连接有限位杆,所述限位杆活动安装在光源面板方向调节组件上,所述光源面板方向调节组件安装在外壳(8)的外壁上,所述相机支架(10)中心设置有通孔,所述面阵相机(5)的镜头设置在通孔内,所述面阵相机(5)的镜头上设置有防护玻璃(9)。2.根据权利要求1所述的一种光伏硅片缺陷检测设备,其特征在于:所述光源面板设置有四块,分别为第一光源面板(1)、第二光源面板(2)、第三光源面板(3)和第四光源面板(...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵飞官小宝姜俊
申请(专利权)人:苏州美力拓电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1