微波模拟信号源的ALC开环校准方法及装置制造方法及图纸

技术编号:34608573 阅读:69 留言:0更新日期:2022-08-20 09:13
本发明专利技术提供一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法及装置,方法包括设置当前频点;在信号源闭环工作模式下,得到所述当前频点的第一校准参数;在信号源开环工作模式下,得到所述当前频点的第二校准参数;根据所述当前频点的第一校准参数和第二校准参数得到当前频点的校准数据。本发明专利技术方法利用了信号源内部的资源进行了校准工作,并且利用了闭环情况下的检波电压进行采样比较,这样可以得到更精确的校准参数,保证了信号源在开环工作状态下依然有准确的信号输出功率。本发明专利技术可以高效地实现大功率动态的校准工作,减少了仪器设备以及人员的资源占用,整体提高了信号源的生产测试效率。整体提高了信号源的生产测试效率。整体提高了信号源的生产测试效率。

【技术实现步骤摘要】
微波模拟信号源的ALC开环校准方法及装置


[0001]本专利技术涉及测试
,尤其涉及一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法及装置。

技术介绍

[0002]微波模拟信号源通常要求可以输出功率可控且稳定的连续波信号或脉冲信号,ALC(自动电平控制,auto level control)环路可以保证微波信号源持续输出一个功率稳定的连续波信号。但是在微波信号源在雷达测试、电子对抗等领域中通常会使用脉冲调制信号,且信号脉宽非常小。ALC环路在这种要求快速响应的使用环境下往往不能正常工作,导致信号源的输出信号不能满足测试需求。因此,在微波信号源在输出脉冲信号时往往需要在关闭ALC环路下工作,在这种工作状态下需要对应的补偿校准数据来保证信号输出功率的准确。
[0003]信号源的校准流程上必须要针对开环的工作模式下进行输出功率的校准。常见的方法是使用内部的逻辑开关将ALC硬件环路断开,信号源增益控制的驱动级不变,即使用闭环下同样的控制电路。这种方法的优势是从电路设计最容易实现,软件上逻辑处理也非常简单,而且校准方法也和闭环完全一致。但是这种方法在实际校准中会发现一些问题:由于在开环下校准,为了保证不同频率下输出功率尽量准确,需要使用比开环模式下更小的频率步进校准,并且因为功率与电压之间的关系非线性也需要更精确的功率步进校准,所以会产生更大的数据量和增加了更多的校准时间,另外这种校准方法也会造成配套仪器设备的占用等。另外,在此基础上也存在一些自校准方法,这些方法通过读取检波得到的电压确定当前信号源输出的准确功率,然后通过设置特定的数模转换器(DAC)使开环检波电压与闭环时达到一致(或者处于置信区间),记录这个下DAC的设置参数,即为当前点的校准数据。但是现有的自校准方法虽然解决了设备占用的问题,但存在校准数据量大,校准时间长的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法及装置,用以解决现有技术中ALC开环校准流程校准功率范围小且校准时间长的缺陷,提高了校准效率。
[0005]本专利技术提供一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法,包括:
[0006]设置当前频点;
[0007]在信号源闭环工作模式下,设置所述当前频点的输出功率为第一输出功率并对所述当前频点在所述第一输出功率下的电压进行采样获得第一采样电压,根据所述第一输出功率和第一采样电压得到所述当前频点的第一校准参数;
[0008]在信号源开环工作模式下,设置所述当前频点的输出功率为第二输出功率并对所述当前频点在所述第二输出功率下的电压进行采样获得第二采样电压,根据所述第二输出功率和第二采样电压得到所述当前频点的第二校准参数;
[0009]根据所述当前频点的第一校准参数和第二校准参数得到当前频点的校准数据。
[0010]根据本专利技术提供的一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法,所述设置当前频点之前,还包括:
[0011]设置校准频率范围和对应所述校准频率范围的校准功率范围,建立线性采样曲线,所述线性采样曲线用于拟合第一校准参数、第一校准参数和电压的输出关系。
[0012]根据本专利技术提供的一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法,所述第一输出功率为所述校准功率范围的最小功率和最大功率,所述第二输出功率为所述校准功率范围的最小功率,所述第三输出功率为所述校准功率范围内满足线性度指标的功率。
[0013]根据本专利技术提供的一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法,所述根据所述第一输出功率和第一采样电压得到所述当前频点的第一校准参数,包括:
[0014]根据所述校准功率范围的最小功率和最大功率的差与所述校准功率范围的最小功率和最大功率对应的第一采样电压的差得到所述线性采样曲线的斜率;
[0015]根据所述线性采样曲线的斜率得到所述当前频点的第一校准参数。
[0016]根据本专利技术提供的一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法,所述根据所述第二输出功率和第二采样电压得到所述当前频点的第二校准参数,包括:
[0017]调节所述线性采样曲线的截距使得第二输出功率为校准功率范围的最小功率时,根据所述线性采样曲线的截距得到所述当前频点的第二校准参数。
[0018]根据本专利技术提供的一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法,所述根据所述当前频点的第一校准参数和第二校准参数得到当前频点的校准数据,之前还包括:
[0019]固定第一校准参数和第二校准参数,分别在信号源闭环工作模式和信号源开环工作模式下,获得相同第三输出功率对应的闭环采样电压和开环采样电压;
[0020]在所述闭环采样电压和开环采样电压的差值小于误差阈值的情况下,将所述当前频点的第一校准参数和第二校准参数输出。
[0021]根据本专利技术提供的一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法,在所述闭环采样电压和开环采样电压的差值大于等于误差阈值的情况下,利用二分法调整所述第一输出功率的范围,重新对所述第一输出功率下的电压进行采样。
[0022]本专利技术还提供一种微波模拟信号源的ALC开环校准装置,包括:
[0023]准备模块,用于设置当前频点;
[0024]校准模块,用于在信号源闭环工作模式下,设置所述当前频点的输出功率为第一输出功率并对所述当前频点在所述第一输出功率下的电压进行采样获得第一采样电压,根据所述第一输出功率和第一采样电压得到所述当前频点的第一校准参数;
[0025]还用于在信号源开环工作模式下,设置所述当前频点的输出功率为第二输出功率并对所述当前频点在所述第二输出功率下的电压进行采样获得第二采样电压,根据所述第二输出功率和第二采样电压得到所述当前频点的第二校准参数;
[0026]输出模块,用于根据所述当前频点的第一校准参数和第二校准参数得到当前频点的校准数据。
[0027]根据本专利技术提供的一种微波模拟信号源的ALC开环校准装置,所述当前频点的第一校准参数和第二校准参数分别为两个数模转换器的配置参数。
[0028]本专利技术还提供一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理
器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述微波模拟信号源的ALC开环校准方法。
[0029]本专利技术提供的微波模拟信号源的ALC开环校准方法及装置,方法通过分别进行闭环校准和开环校准,获得计算出的第一校准参数和第二校准参数。能够在现有校准值的基础上结合第一校准参数和第二校准参数对校准值进行优化和补偿。本专利技术实现了开环功率自校准,可以对更大的功率动态范围校准。装置优化了ALC环路的硬件设计,在硬件上使用ADC对采样点电压进行采样作为校准的参考点。因此装置的改进能够简化校准方法并提高校准效率。ADC的采样点确定了DAC的输出补偿,即通过设置DAC的参数来拟合ADC的线性采样曲线,以得到准确的校准数据。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微波模拟信号源的ALC开环校准方法,其特征在于,包括:设置当前频点;在信号源闭环工作模式下,设置所述当前频点的输出功率为第一输出功率并对所述当前频点在所述第一输出功率下的电压进行采样获得第一采样电压,根据所述第一输出功率和第一采样电压得到所述当前频点的第一校准参数;在信号源开环工作模式下,设置所述当前频点的输出功率为第二输出功率并对所述当前频点在所述第二输出功率下的电压进行采样获得第二采样电压,根据所述第二输出功率和第二采样电压得到所述当前频点的第二校准参数;根据所述当前频点的第一校准参数和第二校准参数得到当前频点的校准数据。2.根据权利要求1所述的微波模拟信号源的ALC开环校准方法,其特征在于,所述设置当前频点之前,还包括:设置校准频率范围和对应所述校准频率范围的校准功率范围,建立线性采样曲线,所述线性采样曲线用于拟合第一校准参数、第一校准参数和电压的输出关系。3.根据权利要求2所述的微波模拟信号源的ALC开环校准方法,其特征在于,所述第一输出功率为所述校准功率范围的最小功率和最大功率,所述第二输出功率为所述校准功率范围的最小功率,所述第三输出功率为所述校准功率范围内满足线性度指标的功率。4.根据权利要求3所述的微波模拟信号源的ALC开环校准方法,其特征在于,所述根据所述第一输出功率和第一采样电压得到所述当前频点的第一校准参数,包括:根据所述校准功率范围的最小功率和最大功率的差与所述校准功率范围的最小功率和最大功率对应的第一采样电压的差得到所述线性采样曲线的斜率;根据所述线性采样曲线的斜率得到所述当前频点的第一校准参数。5.根据权利要求4所述的微波模拟信号源的ALC开环校准方法,其特征在于,所述根据所述第二输出功率和第二采样电压得到所述当前频点的第二校准参数,包括:调节所述线性采样曲线的截距使得第二输出功率为校准功率范围的最小功率时,根据所述线性采样曲线的截距得到所...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏楠杨胜领程军强
申请(专利权)人:中星联华科技北京有限公司
类型:发明
国别省市:

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