一种铟瓦尺加装测距仪器的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种铟瓦尺加装测距仪器的装置，包括第一托架组件（1）、第二托架组件（2）和棘轮机构（3），所述棘轮机构（3）一端固定连接第一托架组件（1），棘轮机构（3）另一端可转动连接第二托架组件（2），所述第一托架组件（1）固定于铟瓦尺（4）上，第二托架组件（2）用于固定测距仪器（5）。通过本实用新型专利技术装置将测距仪器固定于铟瓦尺上，并且可以转动第二托架组件，使测距仪器可以对准电子水准仪，满足测量需求。求。求。

【技术实现步骤摘要】
一种铟瓦尺加装测距仪器的装置


[0001]本技术属于测量
，具体涉及一种铟瓦尺加装测距仪器的装置。

技术介绍

[0002]利用电子水准仪进行二等水准测量作业时，规范要求前后视距大于等于3m且小于等于50m，前后视距差小于等于1.5m，但在实际测量过程中由于地形和距离远近的影响，不能对视距一次性控制到位，需反复调整；目前常采用的方法是：1、测量过程中配备一人专职利用皮尺进行量距；2、电子水准仪架设整平后，通过仪器的测距功能单独进行测距，发现前后视距超限后，反复调整前视或仪器位置以满足要求，然后再进行正常的水准测量；3、前后视人员通过步数对距离进行估算，误差较大，超限后需重复第2条的操作。综上所述，通过以上几种方法在水准测量过程中控制视距时费时、费力，从而造成工作效率低下。
[0003]为了提升工作效率，减少时间浪费和节约人力，在铟瓦尺上加装固定激光测距仪，由于在水准测量过程中，每测站铟瓦尺与电子水准仪之间的相对高低位置不同，铟瓦尺上加装的测距仪每测站都需调整角度对准电子水准仪，目前无此类固定装置，不能满足测量需求，因此研发一种可调整本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种铟瓦尺加装测距仪器的装置，其特征在于：包括第一托架组件（1）、第二托架组件（2）和棘轮机构（3），所述棘轮机构（3）一端固定连接第一托架组件（1），棘轮机构（3）另一端可转动连接第二托架组件（2），所述第一托架组件（1）固定于铟瓦尺（4）上，第二托架组件（2）用于固定测距仪器（5）。2.根据权利要求1所述的一种铟瓦尺加装测距仪器的装置，其特征在于：所述第一托架组件（1）和第二托架组件（2）均包括活动片槽（6）、固定片槽（7）和收紧组件（8），活动片槽（6）和固定片槽（7）一端通过销轴（9）连接，固定片槽（7）另一端背侧与棘轮机构（3）连接，收紧组件（8）设置于活动片槽（6）和固定片槽（7）的连接处将其连接处收紧。3.根据权利要求2所述的一种铟瓦尺加装测距仪器的装置，其特征在于：所述活动片槽（6）和固定片槽（7）均为弧形过渡的直角件，活动片槽（6）一端设置有凸出部分或凹槽部分，固定片槽（7）一端设置有凹槽部分或凸出部分，凸出部分与凹槽部分相适配，销轴（9）分别穿过凸出部分与凹槽部分将活动片槽（6）和固定片槽（7）连接，所述活动片槽（6）或者固定片槽（7）凸出部分的背面连接收紧组件（8），所述固定片槽（7）远离凹槽部分或者凸出部分一端的背侧与棘轮机构（3）连接。4.根据权利要求3所述的一种铟瓦尺加装测距仪器的装置，其特征在于：所述活动片槽（6）和固定片槽（7）连接后形成“[”型结构，用于固定于铟瓦尺（4）上或将测距仪器（5）固定，所述“[”型结构相对的内侧设置有橡胶衬垫（10）。5.根据权利要求4所述的一种铟瓦尺加装测距仪器的装置，其特征在于：所述橡胶衬垫（10）为“〖”型结构，用于锁紧铟瓦尺（4）或测距仪器（5）。6.根据权利要求4所述的一种铟瓦尺加装测距仪器的装置，其特征在于：所述“[”型结构两短边之间距离的变化为宽窄调节度，第一托架组件（1）的宽窄调节度为8cm~10cm，所述第二托架组件（2）的宽窄调节度为4cm~6cm。7.根据权利要求3所述的一种铟瓦尺加装测距仪器的装置，其特征在于：所述收紧组件（8）包括螺栓（8
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1）、垫片（8
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2）和旋钮（8
‑
3），螺栓（8
‑
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【专利技术属性】
技术研发人员：乔云飞，黄金歌，王广西，翟耀红，王闯，于朋，张秦英，
申请(专利权)人：中铁十二局集团第一工程有限公司，
类型：新型
国别省市：