多负载测试装置制造方法及图纸

技术编号:34593630 阅读:39 留言:0更新日期:2022-08-20 08:52
本申请涉及器件测试领域,特别涉及一种多负载测试装置,其中,装置包括:多个负载;开关组件分别与待测试终端和多个负载的每个负载相连,以导通一个或多个负载的测试电路;设置于多负载测试装置上的通讯组件,通讯组件接收外部电子设备发送的当前测试项;测试组件分别与开关组件和通讯组件相连,测试组件根据当前测试项控制开关组件导通一个或多个负载的测试电路,测试在不同负载下待测试终端的峰值耗流。由此,解决了在测试峰值耗流过程中,因需要人工更换负载导致峰值耗流差异比较大等问题,可以在测试组件的控制下进行自动调节阻抗,实现对待测试终端不同负载下峰值耗流的自动测试,不仅可以提高测试的精确度,而且成本较低,简单易于实现。简单易于实现。简单易于实现。

【技术实现步骤摘要】
多负载测试装置


[0001]本申请涉及器件测试
,特别涉及一种多负载测试装置。

技术介绍

[0002]日常生活中,当某一设备的输出信号失真不能满足人们的需求时,往往会通过安装PA(Power Amplifier,功率放大器)来产生最大功率输出以驱动负载将捕捉到的有效信息进行放大,这就需要对PA的性能进行验证,以保证设备输出的灵敏性。在需要验证PA的性能时,一般是测试PA在开路、短路、50Ω、容性负载和感性负载下的峰值耗流,从而获得PA的有效性能。
[0003]相关技术中,测试PA在不同负载下的峰值耗流的方式如下:PA在开路负载情况下测试时不外接天线、在短路负载情况下测试时用外部工具短接、在50Ω电阻负载情况下测试时直接与仪器端相接、在容性负载和感性负载情况下测试时大多使用不同长度的等效射频线代替。
[0004]然而,峰值耗流自身的灵敏性,会使其受负载的影响比较大,因此,对于不同的操作人员在更换不同的负载进行测试时,会导致不同的负载尤其是在短路负载、容性负载和感性负载情况下的峰值耗流相差悬殊,亟待解决。<br/>
技术实现思路
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多负载测试装置,其特征在于,包括:多个负载;开关组件,所述开关组件分别与待测试终端和所述多个负载的每个负载相连,以导通一个或多个负载的测试电路;设置于多负载测试装置上的通讯组件,所述通讯组件接收外部电子设备发送的当前测试项;以及测试组件,所述测试组件分别与所述开关组件和所述通讯组件相连,所述测试组件根据所述当前测试项控制所述开关组件导通所述一个或多个负载的测试电路,测试在不同负载下所述待测试终端的峰值耗流。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述开关组件,包括:第一射频座子,所述第一射频座子的一端与所述待测试终端上的第二射频座子通过射频线相连;测试开关,所述测试开关分别与所述多个负载和所述测试组件相连,使得所述测试组件根据所述当前测试项控制所述测试开关导通所述一个或多个负载的测试电路。3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述开关组件,还包括:匹配单元,所述匹配单元的一端与所述第一射频座子的另一端相连,所述匹配单元的另一端与所述测试开关相连,用于将所述测试组件匹配至与所述待测试终端相符的测试参数。4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,还...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏国汉
申请(专利权)人:上海移远通信科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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