一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路及终端制造技术

技术编号:34593415 阅读:55 留言:0更新日期:2022-08-20 08:52
本申请提供了一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路及终端,涉及通信技术领域,可以检测到Cable线的绝缘层破损情况。该检测电路包括:输入电源、上拉电阻、第一高频扼流线圈、第一待检验Cable线和电平检测电路;所述上拉电阻的一端与所述输入电源连接,所述上拉电阻的另一端与所述第一高频扼流线圈的一端连接;同时,所述上拉电阻的另一端还连接有电平检测电路,所述电平检测电路用于检测所述上拉电阻与所述第一高频扼流线圈中间连接点的电平;所述第一高频扼流线圈的另一端与所述第一待检测Cable线的一端的外导体电连接,所述第一待检测Cable线的两端的外导体分别通过电容接地。接地。接地。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路及终端


[0001]本申请涉及电子设备
,尤其涉及一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路及终端。

技术介绍

[0002]终端的广泛应用,使得终端的产线尤其忙碌,在终端的中框结构的两侧,分别设置天线和主板,即天线和主板分离。具体的,天线和主板之间通过cable线连接,主板用于发射射频。
[0003]在实际生产产线上,进行cable线组装过程中,经常出现cable线的绝缘层被磨损且损坏的情况。事实上,cable线通常通过卡扣固定在中框内或者是终端的拐角处,在cable线安装过程中会出现绝缘层的挤压破损。例如:三段式手机中连接主板和下天线的Cable在组装过程中,需要在线槽中增加凸包用于固定Cable线,由于中框制造一致性等原因,经常会出现Cable线绝缘层破损,造成Cable的外导体与手机金属中框接触,从而导致以下问题:在整机测试,导致自干扰测试项测试失败、RSE测试项测试失败。由于需要更换破损的Cable线需要将已经组装完成的整机拆机,进一步导致成本和人力效率的浪费。如果在整机测试阶本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测Cable线绝缘层破损的检测电路,其特征在于,包括:输入电源、上拉电阻、第一高频扼流线圈、第一待检验Cable线和电平检测电路;所述上拉电阻的一端与所述输入电源连接,所述上拉电阻的另一端与所述第一高频扼流线圈的一端连接,同时,所述上拉电阻的另一端还连接有电平检测电路,所述电平检测电路用于检测所述上拉电阻与所述第一高频扼流线圈中间连接点的电平;所述第一高频扼流线圈的另一端与所述第一待检测Cable线的一端的外导体电连接,所述第一待检测Cable线的两端的外导体分别通过电容接地。2.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述电容为第一滤波电容和第二滤波电容,所述第一滤波电容和所述第二滤波电容分别设置在所述第一待检测Cable线的两端,所述第一滤波电容和所述第二滤波电容的一端均与所述第一待检测Cable线的外导体电连接,另一端均接地。3.根据权利要求2所述的检测电路,其特征在于,所述电平检测电路包括处理模块MCU和模数转换器件ADC,所述处理模块MCU和所述模数转换器件ADC均集成在芯片内;所述处理模块MCU与所述模数转换器件ADC的一端耦合,所述模数转换器件ADC的另一端与所述第一高频扼流线圈的一端耦合。4.根据权利要求2或3所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路还包括第二高频扼流线圈和第二待检测Cable线,所述第二高频扼流线圈的一端与所述第一高频扼流线圈的另一端耦合,所述第二高频扼流线圈的另一端与所述第二待检测Cable线的一端的外导体电连接,所述第二待检测Cable线的另一端的外导体通过电容接地。5.根据权利要求4所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路还...

【专利技术属性】
技术研发人员:姜丕锦江成张庭伟
申请(专利权)人:荣耀终端有限公司
类型:新型
国别省市:

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