【技术实现步骤摘要】
一种便于维修内部装置的芯片测试智能控制箱
[0001]本技术涉及芯片测试
，特别是涉及一种便于维修内部装置的芯片测试智能控制箱。
技术介绍
[0002]硬盘、U盘等存储产品都是通过内部的存储颗粒对数据进行保存的，通常这类产品都是在正常温度环境下使用的，然而在某些特殊情况下，这些产品的不可避免的会处于高温环境中，对于产品内部的存储颗粒，环境的温度不同，其工作状态存在一定的差异，因为存储颗粒是通过电子来存储数据的，高温下电子更加的活跃，因此，有必要需要用到智能控制箱测试存储颗粒在高温环境下对数据的保存能力，以判断产品的整体性能。
[0003]现有的测试智能控制箱，在底对芯片测试的位置基本是单一，很难将测试的芯片处不同高度的环境中进行测试，因此降低了芯片测试的精度；
[0004]为此我们提出一种便于维修内部装置的芯片测试智能控制箱。
技术实现思路
[0005]针对上述问题，本技术提供了一种便于维修内部装置的芯片测试智能控制箱，解决了上述现有的测试智能控制箱，很难将测试的芯片处不同高度的环境中进
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种便于维修内部装置的芯片测试智能控制箱，包括测试箱（1），其特征在于：所述测试箱（1）的顶部从前到后依次安装有测试仪（2）和伺服电机（3），所述测试仪（2）的输出端延伸至测试箱（1）的内部中心，所述伺服电机（3）的输出端连接有螺纹杆（4），所述螺纹杆（4）的另一端通过轴承连接有测试箱（1）的内底壁，所述螺纹杆（4）的表面螺纹连接有连接块（5），所述连接块（5）的表面连接有加工板（6），所述加工板（6）的底部对称连接有两个固定块（7），两个所述固定块（7）之间连接有导向杆（8），所述导向杆（8）的表面对称套接有两个弹簧（9），所述导向杆（8）的表面滑动连接有两个对称的凹型架（10），所述加工板（6）的顶部设有两个对称的限位槽（11），所述限位槽（11）的内壁与凹型架（10）的表面滑动接触，所述凹型架（10）位于加工板（6）顶部的端部拆卸连接有限位板（12）。2.根据权利要求1所述的一种便于维修内部装置的芯片测试智能控制箱，其特征在于：所述凹型架（10）的端部与加工板（6）的顶部保持平行，所述凹型架（10）位于加工板（6）顶部的端部连接有安装块（1...
【专利技术属性】
技术研发人员：万里春，王俊杰，陈晨，袁红玉，
申请(专利权)人：盐城市天达微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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