一种电能表制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电能表，涉及电子电路领域，通过简单的分压电路将原始电压信号进行分压，将分压后的电压信号接到单片机的低压阈值检测管脚，作为电能表的上下电检测信号，由于不同单片机管脚耐压限值不一样，不能做到电路标准化设计，本实用新型专利技术所提供的电能表，包括：上下电检测电路，当电能表上电时，VHH输入端输入电压高，控制单元的检测端口通过第四电阻上拉到电源，此时控制单元的检测端口为高电平；当电能表下电时，VHH输入端输入电压低，控制单元的检测端口通过第二三极管接地，此时，控制单元的检测端口为低电平，控制单元通过检测检测端口的电平高低即可判断电能表上电与下电状态，这种电路结构可兼容不同耐压值的单片机。的单片机。的单片机。

【技术实现步骤摘要】
一种电能表


[0001]本技术涉及电子电路领域，特别是涉及一种电能表。

技术介绍

[0002]目前的电能表判断上下电的方法基本都是通过直流电平，电能表的电源部分通过变压器或者开关电源将市电或者三相交流电转换为一个直流电压 (VHH)，VHH再通过低压差线性稳压器(Low Dropout Regulator，LDO) 或者DC
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DC转换器将VHH转换为VCC，同时将VHH通过两个电阻分压，把分压后的电平接到单片机的低压阈值检测管脚，作为电能表的上下电检测信号。
[0003]由于不同单片机管脚耐压限值不一样，不能做到电路标准化设计。
[0004]由此可见，提供兼容不同耐压值的判断上下电的电能表，是本领域人员亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种判断上下电的电能表。
[0006]为解决上述技术问题，本技术提供一种电能表，包括电表和控制单元，还包括：上下电检测电路；
[0007]所述上下电检测电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一三极管、第二三极管；
[0008]所述第一电阻的第一端与VHH输出端口连接，所述第一电阻的第二端与所述第二电阻的第一端和所述第一三极管的基极连接，所述第二电阻的第二端接地，所述第一三极管的集电极与所述第三电阻的第一端和所述第二三极管的基极连接，所述第三电阻的第二端与电源连接，所述第一三极管的发射极接地，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与所述第四电阻的第一端和所述控制单元的检测端口连接，所述第四电阻第二端与所述电源连接。
[0009]优选地，所述的电能表，所述上下电检测电路还包括：第五电阻；
[0010]所述第五电阻的第一端与所述第一电阻的第二端连接，所述第五电阻的第二端与所述第一三极管的基极连接。
[0011]优选地，所述的电能表，所述上下电检测电路还包括：第一电容；
[0012]所述第一电容的第一端与所述第五电阻的第一端连接，所述第一电容的第二端接地。
[0013]优选地，所述的电能表，所述上下电检测电路还包括：滤波电路(21)；
[0014]所述滤波电路(21)一端与所述第二三极管的集电极连接，所述滤波电路(21)另一端与所述控制单元的检测端口连接。
[0015]优选地，所述的电能表，所述滤波电路(21)包括：第六电阻、第二电容；
[0016]所述第六电阻的第一端与所述第二三极管的集电极连接，所述第六电阻的第二端
与所述第二电容的第一端和所述控制单元的检测端口连接，所述第二电容第二端接地。
[0017]优选地，所述的电能表，还包括：计量单元；
[0018]所述计量单元与交流电输出端口和所述控制单元连接。
[0019]优选地，所述的电能表，所述控制单元为MCU。
[0020]优选地，所述的电能表，还包括：显示单元；所述显示单元与所述控制单元连接。
[0021]优选地，所述的电能表，还包括：存储单元；所述存储单元与所述控制单元连接。
[0022]优选地，所述的电能表，还包括：通讯单元，所述通讯单元与所述控制单元连接。
[0023]本技术所提供的电能表，包括：上下电检测电路；上下电检测电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一三极管、第二三极管；第一电阻的第一端与VHH输出端口连接，第一电阻的第二端与第二电阻的第一端和第一三极管的基极连接，第二电阻的第二端接地，第一三极管的集电极与第三电阻的第一端和第二三极管的基极连接，第三电阻的第二端与电源连接，第一三极管的发射极接地，第二三极管的发射极接地，第二三极管的集电极与第四电阻的第一端和控制单元的检测端口连接，第四电阻第二端与电源连接，当电能表上电时，当VHH输入端输入电压高，通过第一电阻和第二电阻分压后，使得第一三极管导通，此时第一三极管的集电极电压为 0V，第二三极管截止，控制单元的检测端口通过第四电阻上拉到电源，此时控制单元的检测端口为高电平；当电能表下电时，VHH输入端输入电压低，第一三极管截止，第一三极管的集电极电压通过第三电阻上拉到电源，第二三极管导通，控制单元的检测端口通过第二三极管接地，此时，控制单元的检测端口为低电平；控制单元通过检测检测端口的电平高低即可判断电能表上电与下电。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本技术实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1为本申请实施例提供的一种上下电检测电路示意图。
[0026]其中，附图标记如下：21为滤波电路。
具体实施方式
[0027]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护范围。
[0028]本技术的核心是提供一种检测上下电的电能表。
[0029]为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步的详细说明。
[0030]本申请提供一种电能表，包括电表和控制单元，其特征在于，还包括：上下电检测电路；图1为本申请实施例提供的一种上下电检测电路示意图，如图1所示，上下电检测电路包括：第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻 R3、第四电阻R4、第一三极管Q1、第二三极管Q2；
[0031]第一电阻R1的第一端与VHH输出端口连接，第一电阻R1的第二端与第二电阻R2的
第一端和第一三极管Q1的基极连接，第二电阻R2的第二端接地，第一三极管Q1的集电极与第三电阻R3的第一端和第二三极管Q2的基极连接，第三电阻R3的第二端与电源连接，第一三极管Q1的发射极接地，第二三极管Q2的发射极接地，第二三极管Q2的集电极与第四电阻R4的第一端和控制单元的检测端口LVDIN连接，第四电阻R4第二端与电源VCC连接。
[0032]需要说明的是，本实施例提到的控制单元指的是电能表的主处理芯片，可控制电能表进行电流、电压采样、测量，存储数据，控制开关等作用，不实施例不限制控制单元的具体类型，例如微控制单元(Microcontroller Unit， MCU)，中央处理器(Central Processing Unit，CPU)等。如图1所示，LVDIN 端口为控制单元的检测端口，用于检测电平的高低。优选地，控制单元为MCU， MCU是把中央处理器的频率与规格做适当缩减，并将内存(memory)、计数器 (Timer)、通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)等周边接口整合在单一芯片上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电能表，包括电表和控制单元，其特征在于，还包括：上下电检测电路；所述上下电检测电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一三极管、第二三极管；所述第一电阻的第一端与VHH输出端口连接，所述第一电阻的第二端与所述第二电阻的第一端和所述第一三极管的基极连接，所述第二电阻的第二端接地，所述第一三极管的集电极与所述第三电阻的第一端和所述第二三极管的基极连接，所述第三电阻的第二端与电源连接，所述第一三极管的发射极接地，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与所述第四电阻的第一端和所述控制单元的检测端口连接，所述第四电阻第二端与所述电源连接。2.根据权利要求1所述的电能表，其特征在于，所述上下电检测电路还包括：第五电阻；所述第五电阻的第一端与所述第一电阻的第二端连接，所述第五电阻的第二端与所述第一三极管的基极连接。3.根据权利要求2所述的电能表，其特征在于，所述上下电检测电路还包括：第一电容；所述第一电容的第一端与所述第五电阻的第一端连接，所述第一电容的第二端接地。4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈太平，肖五生，倪烨飞，孙奇烽，
申请(专利权)人：华立科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：