【技术实现步骤摘要】
一种测量大气粒子数密度波动方法
[0001]本专利技术涉及一种测量大气粒子数密度波动方法，属于光学探测
技术介绍
[0002]大气湍流是一种随机空气运动状况，在大气光学领域，湍流主要是指大气中局部温度和压强的随机变化而带来的折射率的随机变化。当光线穿过折射率分布不均以及随机变化的大气时，会发生偏折、相移等现象，对大气探测、飞行器光学成像探测等方面有着不可忽视的影响，会使探测器接收的图像产生偏移、抖动和模糊等。但是，实际上很难将温度和压强各自对大气折射率的影响分开。因此，若能将温度和压强的影响综合起来考虑，可为研究大气湍流自身规律以及大气在探测、通讯等方面的影响提供一定的参考。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术中的不足，提供一种测量大气粒子数密度波动方法，解决现有技术中湍流会使探测器接收的图像产生偏移、抖动和模糊的技术问题。
[0004]为实现以上目的，本专利技术是采用下述技术方案实现的：
[0005]本专利技术提供了一种测量大气粒子数密度波动方法，包括：
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测量大气粒子数密度波动方法，其特征在于，包括：将折射率分解为折射率平均值和折射率波动值；计算出第i帧的折射率波动值；根据折射率波动值和粒子数密度波动之间的关系计算出粒子数密度波动。2.根据权利要求1所述的测量大气粒子数密度波动的方法，其特征在于，所述将折射率分解为折射率平均值和折射率波动值，表示为：其中，n为折射率，为折射率平均值，n
’
为折射率波动值。3.根据权利要求1所述的测量大气粒子数密度波动的方法，其特征在于，所述计算出第i帧的折射率波动值，包括以下步骤：计算偏折角的方差；根据偏折角的方差得到结构常数；将结构常数代入折射率结构函数得到第i帧的折射率波动值。4.根据权利要求3所述的测量大气粒子数密度波动的方法，其特征在于，所述计算偏折角的方差的计算公式为：其中，为偏折角的方差，M为总时间内记录的总帧数，为偏折角的方差，M为总时间内记录的总帧数，为对应帧图片上的偏折角，5.根据权利要求3所述的测量大气粒子数密度波动的方法，其特征在于，所述结构常数的计算公式为：其中，D为光...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈云云，徐梦，庄俊彦，陈雅宜，程伟昊，
申请(专利权)人：南京信息工程大学，
类型：发明
国别省市：
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