一种基于FPGA的集成电路原型验证系统及方法技术方案

本申请公开了一种基于FPGA的集成电路原型验证系统及方法，包括：数据获取模块、数据转化模块、数据功能性能检测模块、数据功能修正模块和数据综合结果模块；通过获取待测试文件或待测试程序，转化成指定形式的测试文件或待测试程序；对指定形式的测试文件或待测试程序进行功能和性能的验证，并修正，再次验证，进行数据查询并将结果按照设定形式进行展示；有效的解决了于FPGA的集成电路原型验证中某个模块存在问题，需要修改重新验证，那么需要将整个系统重新综合，重新综合的时间长，效率低以及在某个缺陷修复或者添加了某项新功能以后，可能会引入新的缺陷的问题，本申请具有广阔的推广空间和使用价值。推广空间和使用价值。推广空间和使用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种基于FPGA的集成电路原型验证系统及方法


[0001]本申请属于集成电路原型验证领域，具体涉及一种基于FPGA的集成电路原型验证系统及方法。

技术介绍

[0002]在集成电路(integratedcircuit，ic)芯片的开发过程中，为了测试ic芯片设计是否成功，生产之前必须要进行流片，但直接进行ic芯片流片容易对ic芯片造成损害，成本较大，因此，为了避免多次流片所造成的高成本、高风险，ic芯片开发过程中需要在流片之前采用一些有效的方法来检测ic芯片设计的逻辑是否正确，即进行ic芯片的原型验证。
[0003]现场可编程门阵列(field－programmablegatearray，fpga)具有可编程的特点，它能够对逻辑设计进行反复的修改，直至达到满意的结果；利用fpga的可编程特点，在进行ic芯片的原型验证时，通常采用的方法是先将逻辑设计进行综合、布局、布线，然后快速地烧写至fpga，在fpga平台上进行验证，其良好的物理特性填补了软件仿真环境与实际物理芯片在速度上的巨大差距，从而可以缩短ic芯片的开发周期、降低成本、提高ic芯片流片的成功率，为快速面向市场提供了有力的保障，成为现代ic设计验证的技术主流。
[0004](1)如果验证系统中某个模块存在问题，需要修改重新验证，那么需要将整个系统重新综合，重新综合的时间长，效率低。
[0005](2)在某个缺陷修复或者添加了某项新功能以后，可能会引入新的缺陷。

技术实现思路

[0006]本申请提出了一种基于FPGA的集成电路原型验证系统及方法，通过获取待测试文件或待测试程序，转化成指定形式的测试文件或待测试程序；对指定形式的测试文件或待测试程序进行功能和性能的验证，并修正，再次验证，进行数据查询并将结果按照设定进行展示，希望实现基于FPGA的集成电路原型验证中某个模块存在问题，需要修改重新验证，那么需要将整个系统重新综合，重新综合的时间长，效率低以及在某个缺陷修复或者添加了某项新功能以后，可能会引入新的缺陷的问题，本申请具有广阔的推广空间和使用价值。
[0007]为实现上述目的，本申请提供了如下方案：
[0008]一种基于FPGA的集成电路原型验证系统，具体包括如下内容：数据获取模块、数据转化模块、数据功能性能检测模块、数据功能修正模块和数据综合结果模块；
[0009]所述数据获取模块：用于获取待测试文件或待测试程序；
[0010]所述数据转化模块：用于基于所述获取待测试文件或待测试程序，转化成指定形式的测试文件或待测试程序；
[0011]所述数据功能性能检测模块：用于对所述指定形式的测试文件或待测试程序进行功能和性能的验证，所述数据功能性能检测模块采用FPGA平台，得到集成电路验证结果；
[0012]所述数据功能修正模块：用于对所述集成电路验证结果进行修改、增加、删除；
[0013]所述数据综合结果模块：用于对所述数据功能性能检测模块获取的数据进行数据
查询并将结果按照设定形式进行展示。
[0014]优选的，所述数据功能性能检测模块包括：电源验证单元和PCIE总线验证单元；
[0015]所述电源验证单元用于拟集成电路中的电源管理行为；
[0016]所述PCIE总线验证单元用于模拟集成电路中的PCIE总线管理行为。
[0017]优选的，所述数据功能性能检测模块还包括：二次测试修复单元，用于所述源验证单元和PCIE总线验证单元在某个缺陷修复或者添加了新功能以后，确保没有引入新的功能性能缺陷。
[0018]优选的，所述集成电路原型验证系统至少包括两个级联的FPGA原型验证板。
[0019]为实现上述目的，本申请还提供了一种基于FPGA的集成电路原型验证方法，
[0020]获取待测试文件或待测试程序；
[0021]基于所述获取待测试文件或待测试程序，转化成指定形式的测试文件或待测试程序；
[0022]基于FPGA对所述指定形式的测试文件或待测试程序进行功能和性能的验证，得到集成电路验证结果；
[0023]如果验证成功则结束，如果验证失败，则修正，修正后重新进行验证。
[0024]优选的，所述指定形式的测试文件或待测试程序包括：将RTL形式的代码转换为门级网表文件或程序。
[0025]优选的，将所述RTL形式的代码转换为门级网表文件或程序法包括：
[0026]包括编译、转换、调度、分配、控制器综合和结果生成；
[0027]所述编译，是将由硬件描述语言编写的行为特性描述经过编译生成为一个适合自动综合的中间表示格式；
[0028]所述转换，对设计的行为描述进行优化；
[0029]所述调度，基于若干个时钟周期在满足约束条件下使得器件完成所有功能所需时间最少；
[0030]所述分配，建立一个功能块级模块组成的数据通路，使所占用的硬件资源花费最少，尽量共享；
[0031]所述控制器综合，按调度要求驱动数据通路的控制器；
[0032]所述结果生成，将设计转换为硬件结构的物理实现。
[0033]优选的，所述指定形式的测试文件或待测试程序用于局部和/或全局更新，以及进行局部验证或全局验证。
[0034]本申请公开了一种基于FPGA的集成电路原型验证系统和方法，本申请的有益效果为：有效的解决了于FPGA的集成电路原型验证中某个模块存在问题，需要修改重新验证，那么需要将整个系统重新综合，重新综合的时间长，效率低以及在某个缺陷修复或者添加了某项新功能以后，可能会引入新的缺陷的问题，本申请具有广阔的推广空间和使用价值。
[0035]本系统具有广阔的推广空间和使用价值。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人
员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1为本申请实施例中基于FPGA的集成电路原型验证系统和方法的系统结构示意图；
[0038]图2为本申请实施例中基于FPGA的集成电路原型验证系统和方法的方法流程示意图；
[0039]图3为本申请实施例中基于FPGA的集成电路原型验证系统和方法的电源验证具体步骤示意图；
[0040]图4为本申请实施例中基于FPGA的集成电路原型验证系统和方法的PCIE总线验证具体步骤示意图；
[0041]图5为本申请实施例中基于FPGA的集成电路原型验证系统组成示意图。
具体实施方式
[0042]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于FPGA的集成电路原型验证系统，其特征在于，包括：数据获取模块、数据转化模块、数据功能性能检测模块、数据功能修正模块和数据综合结果模块；所述数据获取模块：用于获取待测试文件或待测试程序；所述数据转化模块：用于基于所述获取待测试文件或待测试程序，转化成指定形式的测试文件或待测试程序；所述数据功能性能检测模块：用于对所述指定形式的测试文件或待测试程序进行功能和性能的验证，所述数据功能性能检测模块采用FPGA平台，得到集成电路验证结果；所述数据功能修正模块：用于对所述集成电路验证结果进行修改、增加、删除；所述数据综合结果模块：用于对所述数据功能性能检测模块获取的数据进行数据查询并将结果按照设定形式进行展示。2.如权利要求1所述基于FPGA的集成电路原型验证系统，其特征在于，所述数据功能性能检测模块包括：电源验证单元和PCIE总线验证单元；所述电源验证单元用于拟集成电路中的电源管理行为；所述PCIE总线验证单元用于模拟集成电路中的PCIE总线管理行为。3.如权利要求2所述基于FPGA的集成电路原型验证系统，其特征在于，所述数据功能性能检测模块还包括：二次测试修复单元，用于所述源验证单元和PCIE总线验证单元在某个缺陷修复或者添加了新功能以后，确保没有引入新的功能性能缺陷。4.如权利要求1所述基于FPGA的集成电路原型验证系统，其特征在于，所述集成电路原型验证系统至少包括两个级联的FPGA原型验...

【专利技术属性】
技术研发人员：常超，
申请(专利权)人：常超，
类型：发明
国别省市：