一种高速点扫描超分辨显微成像系统技术方案

本申请涉及一种高速点扫描超分辨显微成像系统包括激光器组、激发光模块、抑制光模块、合束模块、扫描模块、样品台、探测模块。激光器组包括一个抑制光激光器和一个激发光激光器。样品台用于放置样品和为样品提供二维的高速移动，用于大视场成像的拼接。激本发明专利技术旨在通过激光器组产生激发光和抑制光，分别经过激发光模块和抑制光模块加载全息图案的调制，通过合束模块的调整，达到完全重合的效果，再经过傅里叶变换分别形成7个成正六边形均匀分布的光斑，然后激发光和抑制光共14个光斑进入到扫描模块，同步扫描致样品表面，最后探测模块对待成像样品受激发所产生的荧光信号进行STED超分辨成像。从而达到快速超分辨成像的效果。从而达到快速超分辨成像的效果。从而达到快速超分辨成像的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种高速点扫描超分辨显微成像系统


[0001]本申请涉及光学显微的
，尤其是涉及一种高速点扫描超分辨显微成像系统。

技术介绍

[0002]受激辐射损耗显微技术是一种超分辨成像技术，可以突破衍射极限对光学显微镜的分辨率的限制，实现超分辨显微成像。
[0003]其原理为利用两束激光来进行显微成像，其中一束为激发光，用于激发荧光材料；而另一束是光斑形状为圆环状，与激发光共轴且波长与荧光分子发射波长匹配的擦除光。两束光重叠区域会产生受激辐射作用，而在中心区域的荧光分子则不受擦除光的影响，只会发生自发辐射。
[0004]由于该显微技术每一路的扫描均需要两种波长的激光器来实现，为了提高扫描的速度，往往增加扫描激光器的数量来实现多点扫描，因此目前的多路受激辐射损耗系统的硬件复杂，光路设计冗杂、成本高昂。

技术实现思路

[0005]为了简化光路设计，减少系统成本，本申请提供的一种高速点扫描超分辨显微成像系统，采用如下的技术方案：一种高速点扫描超分辨显微成像系统，包括激光器组，包括抑制光激光器和激发光激光器；激发光模块，用于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高速点扫描超分辨显微成像系统，其特征在于：包括激光器组，包括抑制光激光器(1)和激发光激光器(2)；激发光模块，用于调质激发光，包括第一空间光调制器(5)，第一空间光调制器(5)用于将经过第一空间光调制器(5)的激发光衍射成7个正六边形分布的光斑，当激发光以一定的角度入射进第一空间光调制器(5)芯片后，控制第一空间光调制器(5)加载的全息相位图以调节每个像素的相位与强度；抑制光模块，用于调质抑制光，包括第二空间光调制器(7)，第二空间光调制器(7)用于将经过第二空间光调制器(7)的激发光衍射成7个正六边形分布的光斑，当抑制光以一定的角度入射进第二空间光调制器(7)芯片后，控制第二空间光调制器(7)加载的全息相位图以调节每个像素的相位与强度；合束模块，用于反射抑制光和投射激发光以合并激发光和抑制光；扫描模块，用于对激发光和抑制光进行同时扫描，实现对样品进行平面扫描；样品台（28），用于放置样品且为样品提供平面移动；探测模块，用于收集样品被激光激发的荧光信号成像出样品图案。2.根据权利要求1所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统，其特征在于：所述激发光模块还包括第一扩束镜组(3)，所述第一扩束镜组(3)位于激光器组和第一空间光调制器(5)之间，第一扩束镜组(3)用于扩束激发光的光斑大小以使激发光能覆盖第一空间光调制器(5)。3.根据权利要求1所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统，其特征在于：所述抑制光模块还包括第二扩束镜组(6)，所述第二扩束镜组(6)位于激光器组和第二空间光调制器(7)之间，第二扩束镜组(6)用于扩束激发光的光斑大小以使激发光能覆盖第二空间光调制器(7)。4.根据权利要求1所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统，其特征在于：所述合束模块依次包括第一反射镜(8)、第一二向色镜(9)和成像透镜组(12)，所述第一反射镜(8)用于反射抑制光，第一二...

【专利技术属性】
技术研发人员：王子昂，徐良，
申请(专利权)人：杭州柏纳光电有限公司，
类型：发明
国别省市：