射频参数测试电路制造技术

本实用新型专利技术涉及无线射频技术领域，涉及一种射频参数测试电路，包括功率衰减电路、功分器电路、频率测试电路、功率测试电路和调制信号参数测试电路；待测信号经过功率衰减电路后输入功分器电路，输出第一射频信号、第二射频信号和第三射频信号；第一射频信号输入至频率测试电路，频率测试电路用于对第一射频信号进行幅度调理、分频处理和差分LVPECL信号到LVTTL信号的转换，然后输出LVTTL电平信号用于计算频率；第二射频信号输入至功率测试电路，功率测试电路用于对第二射频信号进行功率检波、缓冲隔离，输出直流电压用于计算功率；第三射频信号输入至调制信号参数测试电路，输出中频信号，中频信号经滤波放大处理后输出用于参数分析。支持多种参数的测量。数分析。支持多种参数的测量。数分析。支持多种参数的测量。

【技术实现步骤摘要】
射频参数测试电路


[0001]本技术涉及无线射频
，具体涉及一种射频参数测试电路。

技术介绍

[0002]在信息化时代的今天，无线设备应用广泛，无线设备的射频性能直接关乎用户的使用体验，射频性能直接影响了通信质量，因此在生产和使用中需要对产品的射频性能进行把控。在制造电子产品时，通常是由工厂大量制造后，再经由测试部门测试电子产品的各种功能，惟有通过所有测试项目的电子产品方可出厂送至客户端，以确保所出厂的电子产品维持一定的水平。然而，目前无线射频装置的现场测试仪器采用单一测试，一件仪器只对个别功能进行测量，因此常常涉及到多件仪器的使用，不能便利地进行多种功能的测量，测试仪器更换的繁琐性、复杂性，造成测试需要的时间拉长，严重影响了测试进度与测试效率。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于克服现有技术中不能便利地进行多种功能的测量的问题，提供一种射频参数测试电路。
[0004]为了实现上述技术目的，本技术提供了以下技术方案：
[0005]一种射频参数测试电路，包括功率衰减电路、功分器电路、频率测试电路、功率测试电路和调制信号参数测试电路；
[0006]由RF接口输入的待测射频信号经过所述功率衰减电路的处理后输入所述功分器电路，所述功分器电路输出第一射频信号、第二射频信号和第三射频信号；
[0007]所述第一射频信号输入至所述频率测试电路，所述频率测试电路用于对所述第一射频信号进行幅度调理、分频处理和差分LVPECL电平信号到LVTTL电平信号的转换，然后输出LVTTL电平信号用于频率计数；
[0008]所述第二射频信号输入至所述功率测试电路，所述功率测试电路用于对所述第二射频信号进行功率检波、缓冲隔离，然后输出直流电压用于计算功率；
[0009]所述第三射频信号输入至所述调制信号参数测试电路，所述调制信号参数测试电路包括幅度调理电路、第一本振电路、第一混频器、第一滤波放大电路、第二本振电路、第二混频器和第二滤波放大电路，所述第三射频信号经过所述幅度调理电路后与所述第一本振电路产生的第一本振信号一同输入第一混频器，所述第一混频器输出第一中频信号，所述第一中频信号经所述滤波放大电路进行处理后与所述第二本振电路产生的第二本振信号一同输入第二混频器，所述第二混频器输出第二中频信号，所述第二中频信号经所述第二滤波放大电路处理后输出用于参数分析。
[0010]进一步的，所述频率测试电路包括依次连接的限幅放大电路、方波转换电路、分频电路以及逻辑电平转换电路；所述限幅放大电路用于调整所述第一射频信号的幅度，所述方波转换电路用于将幅度调整后的第一射频信号转换成方波信号，所述分频电路用于将所
述方波信号分频后输出所述差分LVPECL电平信号，所述逻辑电平转换电路用于使所述差分LVPECL电平信号转换成所述LVTTL电平信号，所述LVTTL电平信号用于频率计数。
[0011]进一步的，所述分频电路包括超低噪声时钟分频器D10，所述超低噪声时钟分频器D10的OSCP引脚连接所述方波转换电路的输出端，所述超低噪声时钟分频器D10的DIVP引脚和DIVN引脚连接所述逻辑电平转换电路的差分输入端。
[0012]进一步的，所述超低噪声时钟分频器D10的型号为HMC988LP3E。
[0013]进一步的，所述逻辑电平转换电路包括LVPECL/LVDS信号到LVTTL信号的转换器D13，所述转换器D13的型号为MC100LVELT23DG。
[0014]进一步的，所述第一本振电路包括第一锁相环芯片D2和第一环路滤波器，第一锁相环芯片D2和第一环路滤波器组成第一锁相环电路，所述第一锁相环电路输入第一参考信号，输出所述第一本振信号。
[0015]进一步的，所述第二本振电路包括第二锁相环芯片D8和第二环路滤波器，第二锁相环芯片D8和第二环路滤波器组成第二锁相环电路，所述第二锁相环电路输入第二参考信号，输出所述第二本振信号。
[0016]进一步的，所述第一锁相环芯片D2和/或第二锁相环芯片D8的型号为HMC830。
[0017]进一步的，所述射频参数测试电路还包括晶振和第二功分器电路，所述晶振产生的参考输出信号通过所述第二功分器电路后输出所述第一参考信号和第二参考信号。
[0018]进一步的，所述功率测试电路包括依次连接的真均方根响应功率检波器N13和隔离运算放大器N14A；所述第一射频信号输入至所述真均方根响应功率检波器N13，输出至所述隔离运算放大器N14A处理，所述隔离运算放大器N14A输出所述直流电压。
[0019]与现有技术相比，本技术的有益效果：
[0020]与现有技术相比，本技术为实现多种测量功能的集合，采用功分器电路将待测信号分为三路，分别经过频率测试电路、功率测试电路、调制信号参数测试电路分别进行频率、功率、调制参数的测量，功率测试电路将功率转换成模拟电压信号,通过测试电压值进行功率测量；频率测试电路对其进行幅度调理后分频、逻辑电平信号转换，使用转换后的LVTLL电平信号进行频率计数；调制信号参数测试电路对其进行幅度调理后与第一本振电路产生的第一本振信号一同输入第一混频器，第一混频器输出第一中频信号，第一中频信号经所述滤波放大电路进行处理后与第二本振电路产生的第二本振信号一同输入第二混频器，所述第二混频器输出第二中频信号，第二中频信号经滤波放大处理后输出用于参数分析；提供了一种快速测试多种射频信号参数的电路，使得包含本电路的综合测试仪实现多种参数的测量。
附图说明
[0021]图1为一种射频参数测试电路的连接框图。
[0022]图2为一种射频参数测试电路进一步细化的连接框图。
[0023]图3为功率衰减电路和功分器电路的电路原理图。
[0024]图4为频率测试电路的连接框图。
[0025]图5为频率测试电路的电路原理图。
[0026]图6为频率测试电路的电路原理图。
[0027]图7为功率测试电路的电路原理图。
[0028]图8为第一锁相环芯片D2和第一环路滤波器的连接框图。
[0029]图9为第一本振电路的电路原理图。
[0030]图10为第一本振电路的电路原理图。
[0031]图11为第一本振电路的电路原理图。
[0032]图12为晶振和第二功分器电路的电路原理图。
[0033]图13为晶振和第二功分器电路的电路原理图。
[0034]图14为幅度调理电路的电路原理图。
[0035]图15为幅度调理电路的电路原理图。
[0036]图16为第一混频器和第一滤波放大电路的电路原理图。
[0037]图17为第一混频器和第一滤波放大电路的电路原理图。
[0038]图18为第二混频器和第二滤波放大电路的电路原理图。
[0039]图19为第二混频器和第二滤波放大电路的电路原理图。
[0040]图20为中频输出部分的电路原理图。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频参数测试电路，其特征在于，包括功率衰减电路、功分器电路、频率测试电路、功率测试电路和调制信号参数测试电路；由RF接口输入的待测射频信号经过所述功率衰减电路的处理后输入所述功分器电路，所述功分器电路输出第一射频信号、第二射频信号和第三射频信号；所述第一射频信号输入至所述频率测试电路，所述频率测试电路用于对所述第一射频信号进行幅度调理、分频处理和差分LVPECL电平信号到LVTTL电平信号的转换，然后输出LVTTL电平信号用于频率计数；所述第二射频信号输入至所述功率测试电路，所述功率测试电路用于对所述第二射频信号进行功率检波、缓冲隔离，然后输出直流电压用于计算功率；所述第三射频信号输入至所述调制信号参数测试电路，所述调制信号参数测试电路包括幅度调理电路、第一本振电路、第一混频器、第一滤波放大电路、第二本振电路、第二混频器和第二滤波放大电路，所述第三射频信号经过所述幅度调理电路后与所述第一本振电路产生的第一本振信号一同输入第一混频器，所述第一混频器输出第一中频信号，所述第一中频信号经所述滤波放大电路进行处理后与所述第二本振电路产生的第二本振信号一同输入第二混频器，所述第二混频器输出第二中频信号，所述第二中频信号经所述第二滤波放大电路处理后输出用于参数分析。2.如权利要求1所述的一种射频参数测试电路，其特征在于，所述频率测试电路包括依次连接的限幅放大电路、方波转换电路、分频电路以及逻辑电平转换电路；所述限幅放大电路用于调整所述第一射频信号的幅度，所述方波转换电路用于将幅度调整后的第一射频信号转换成方波信号，所述分频电路用于将所述方波信号分频后输出所述差分LVPECL电平信号，所述逻辑电平转换电路用于使所述差分LVPECL电平信号转换成所述LVTTL电平信号，所述LVTTL电平信号用于频率计数。3.如权利要求2所述的一种射频参数测试电路，其特征在于，所述分频...

【专利技术属性】
技术研发人员：伍泳钢，邹金强，
申请(专利权)人：成都航拓航空科技有限公司，
类型：新型
国别省市：