显示面板及其检测方法、显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种显示面板及其检测方法、显示装置，显示面板包括：像素，包括至少一个子像素和至少一个检测单元，子像素包括发光元件，检测单元用于感应温度以判断发光元件是否损坏。通过在像素内设置检测单元，通过检测单元感应温度可知发光元件在点亮时是否存在发热状况，能够有效检测出发光元件是否损坏、避免将因阈值电压漂移导致变暗的发光元件判定为损坏、减少耗材、节约成本、准确定位损坏的发光元件的位置，便于对损坏的发光元件进行替换，有助于提升显示面板的显示效果。有助于提升显示面板的显示效果。有助于提升显示面板的显示效果。

【技术实现步骤摘要】
显示面板及其检测方法、显示装置


[0001]本专利技术涉及显示
，更具体地，涉及一种显示面板及其检测方法、显示装置。

技术介绍

[0002]发光二极管(light emitting diode，LED)是一种能够把电能转化成光能的半导体二极管，微型发光二极管(micro light emitting diode，Micro LED)是尺寸达到100微米以内的发光二极管，具有体积小、亮度高、能耗小、独立控制发光等特点，被广泛地应用于显示屏、照明等领域。
[0003]通常微型发光二极管在制作完成后，需要通过巨量转移工艺，将大量的微型发光二极管转移到阵列基板上，从而形成不同尺寸的Micro LED显示面板。在巨量转移的过程中，由于压力、对位等偏差，容易造成部分微型发光二极管损坏，影响显示面板的显示效果。
[0004]因此，检测绑定后的微型二极管是否损坏是亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术提供了一种显示面板及其检测方法、显示装置，用以检测绑定后的发光元件是否损坏。
[0006]一方面，本专利技术提供了一种显示面板，包括：显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区；
[0007]所述显示区包括：
[0008]像素，包括至少一个子像素和至少一个检测单元，所述子像素包括发光元件，所述检测单元用于感应温度以判断所述发光元件是否损坏。
[0009]另一方面，本专利技术提供了一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括：
[0010]子像素，所述子像素包括像素驱动电路，所述像素驱动电路包括：
[0011]第一电源电压信号端，用于提供第一电源电压；
[0012]第二电源电压信号端，用于提供第二电源电压；
[0013]串联在所述第一电源电压信号端、所述第二电源电压信号端之间的驱动模块和发光元件；
[0014]检测单元与所述发光元件并联；
[0015]点亮所述子像素，在点亮状态下，当所述发光元件损坏导致发热，所述检测单元感应温度，控制电流经所述检测单元流向所述第二电源电压信号端，使所述发光元件被短路而熄灭，确认所述发光元件损坏位置。
[0016]又一方面，本专利技术还提供了一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括：显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区；
[0017]所述显示区包括：
[0018]像素，包括至少一个子像素和至少一个检测单元，所述子像素包括发光元件，所述
检测单元为温度传感器；
[0019]驱动芯片，位于所述非显示区，所述检测单元与所述驱动芯片电连接；
[0020]点亮所述子像素，在点亮状态下，所述发光元件损坏导致发热，所述温度传感器感应温度反馈至所述驱动芯片，所述驱动芯片降低向所述发光元件传输的数据信号的电压，使所述发光元件的亮度变暗，确认所述发光元件损坏位置。
[0021]又一方面，本专利技术提供了一种显示装置，包括上述显示面板。
[0022]与现有技术相比，本专利技术提供的显示面板，至少实现了如下的有益效果：
[0023]像素，包括至少一个子像素和至少一个检测单元，子像素包括发光元件，检测单元用于感应温度以判断发光元件是否损坏，绑定后的发光元件在点亮时，若发光元件自身损坏，或是发光元件绑定不良造成发光元件损坏，都会导致发光元件发热，本申请通过在像素内设置检测单元，通过检测单元感应温度可知发光元件在点亮时是否存在发热状况，能够有效检测出发光元件是否损坏、避免将因阈值电压漂移导致变暗的发光元件判定为损坏、减少耗材、节约成本、准确定位损坏的发光元件的位置，便于对损坏的发光元件进行替换，有助于提升显示面板的显示效果。
[0024]当然，实施本专利技术的任一产品必不特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。
[0025]通过以下参照附图对本专利技术的示例性实施例的详细描述，本专利技术的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
[0026]被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本专利技术的实施例，并且连同其说明一起用于解释本专利技术的原理。
[0027]图1是本专利技术提供显示面板的一种结构示意图；
[0028]图2是本专利技术提供显示面板的另一种结构示意图；
[0029]图3是本专利技术提供显示面板的又一种结构示意图；
[0030]图4是本专利技术提供的像素驱动电路的一种结构示意图；
[0031]图5是本专利技术提供的像素驱动电路的另一种结构示意图；
[0032]图6是本专利技术提供的像素驱动电路的一种版面图；
[0033]图7是图6中A
‑
A
’
向的一种剖面图；
[0034]图8是图6中A
‑
A
’
向的另一种剖面图；
[0035]图9是本专利技术提供的像素驱动电路的又一种结构示意图；
[0036]图10是本专利技术提供的像素驱动电路的另一种版面图；
[0037]图11是图10中B
‑
B
’
向的一种剖面图；
[0038]图12是本专利技术提供的像素驱动电路的又一种版面图；
[0039]图13是图12中C
‑
C
’
向的另一种剖面图；
[0040]图14是本专利技术提供显示面板的又一种结构示意图；
[0041]图15是本专利技术提供显示面板的又一种结构示意图；
[0042]图16是本专利技术提供的像素驱动电路的又一种结构示意图；
[0043]图17是本专利技术提供的一种时序图；
[0044]图18是本专利技术提供的一种流程图；
[0045]图19是本专利技术提供的另一种流程图；
[0046]图20是本专利技术提供的又一种流程图；
[0047]图21是本专利技术提供的又一种流程图；
[0048]图22是本专利技术提供的显示装置的一种结构示意图。
具体实施方式
[0049]现在将参照附图来详细描述本专利技术的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本专利技术的范围。
[0050]以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。
[0051]对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
[0052]在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
[0053]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
[0054]本专利技术提供了一种显示面板及其检测方法、显示装置。关于本专利技术提供的显示面板及其检测方法、显示装置的实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其特征在于，包括：显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区；所述显示区包括：像素，包括至少一个子像素和至少一个检测单元，所述子像素包括发光元件，所述检测单元用于感应温度以判断所述发光元件是否损坏。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述子像素包括像素驱动电路，所述像素驱动电路包括：第一电源电压信号端，用于提供第一电源电压；第二电源电压信号端，用于提供第二电源电压；串联在所述第一电源电压信号端、所述第二电源电压信号端之间的驱动模块和所述发光元件；所述检测单元与所述发光元件并联。3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述检测单元包括温度感应器件和控制模块；所述控制模块的第一端与所述发光元件的阳极电连接，所述控制模块的第二端与所述温度感应器件电连接，所述控制模块的控制端与测试信号端电连接；所述温度感应器件的一端与所述控制模块的第二端电连接，另一端与所述发光元件的阴极电连接。4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述控制模块包括第一晶体管，所述第一晶体管的第一极与所述发光元件的阳极电连接，所述第一晶体管的第二极与所述温度感应器件电连接，所述第一晶体管的栅极与所述测试信号端电连接。5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，还包括：衬底；器件层，位于所述衬底的一侧，所述器件层设有所述控制模块，所述温度感应器件设置于所述器件层远离所述衬底的一侧；绝缘层，位于所述器件层远离所述衬底的一侧；发光层，位于所述绝缘层远离所述器件层的一侧，所述发光层设有所述发光元件。6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述像素驱动电路还包括：位于所述驱动模块与所述发光元件之间的第二晶体管，所述第二晶体管的第一极与所述驱动模块电连接，所述第二晶体管的第二极与所述发光元件的阳极电连接，所述第二晶体管的栅极与发光信号控制端电连接；所述第二晶体管位于所述器件层；所述第一晶体管的栅极与所述第二晶体管的栅极同层，所述第一晶体管的第一极、所述第一晶体管的第二极、所述第二晶体管的第一极和所述第二晶体管的第二极同层，所述第一晶体管的半导体层与所述第二晶体管的半导体层同层。7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述温度感应器件位于所述发光层和所述器件层之间，或者所述温度感应器件与所述发光层同层。8.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述检测单元包括温度感应器件和控制模块；所述控制模块的第一端与所述发光元件的阳极电连接，所述控制模块的第二端与所述
发光元件的阴极电连接，所述控制模块的控制端与温度感应器件电连接；所述温度感应器件，一端与所述控制模块的控制端电连接，另一端与测试信号端电连接。9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述控制模块包括第一晶体管，所述第一晶体管的第一极与所述发光元件的阳极电连接，所述第一晶体管的第二极与所述发光元件的阴极电连接，所述第一晶体管的栅极与所述温度感应器件电连接。10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，还包括：衬底；器件层，位于所述衬底的一侧，所述器件层设有所述控制模块；绝缘层，位于所述器件层远离所述衬底的一侧；发光层，位于所述绝缘层远离所述器件层的一侧，所述发光层设有所述发光元件，所述温度感应器件位于所述衬底与所述发光层之间。11.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述像素驱动电路还包括：位于所述驱动模块与所述发光元件之间的第二晶体管，所述第二晶体管的第一极与所述驱动模块电连接，所述第二晶体管的第二极与所述发光元件的阳极电连接，所述第二晶体管的栅极与发光信号控制端电连接；所述第二晶体管位于所述器件层；所述第一晶体管的栅极与所述第二晶体管的栅极同层，所述第一晶体管的第一极、所述第一晶体管的第二极、所述第二晶体管的第一极和所述第二晶体管的第二极同层，所述第一晶体管的半导体层与所述第二晶体管的半导体层同层。12.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，所述温度感应器件位于所述发光层与所述第一晶体管的栅极之间，或者所述温度感应器件位于所述第一晶体管的栅极与所述衬底之间。13.根据权利要求3或8所述的显示...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴晓晓，
申请(专利权)人：厦门天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：