【技术实现步骤摘要】
一种电触发式软测头标定装置及标定方法
[0001]本专利技术涉及精密测量
,尤其涉及一种电触发式软测头标定装置及标定方法。
技术介绍
[0002]高效率高精度的机械加工技术已逐渐成为评判一个国家现代化工业技术水平的重要因素,建立在位测量系统,实现数字化设计加工测量一体化是提高复杂精密零件制造精度和效率的有效途径。相比于非接触式测量方法,接触式测量具备精度高、稳定性强以及对测量环境适应性强等优点,目前,接触式测量技术已广泛应用于在位测量系统中。
[0003]电触发式软测头为一种常见的接触式测量一起,其从测球碰触被测工件表面开始到传感器产生电信号的过程中,测头与被测工件间有一定的相对位移,由此产生的测量误差被称作“预行程误差”,电触发式软测头最主要的误差来源即不同触发角度下的预行程量。因此,对电触发式软测头各触发角度下的预行程量进行标定测试,确定一种电触发式软测头在位测量误差补偿方法,对于提升其测量精度和测量结果可靠性具有重要意义。
[0004]如今已经有很多学者对电触发式软测头的标定做出了很多研究,例如: ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电触发式软测头标定装置,用于对电触发式软测头进行标定,所述电触发式软测头包括探针和测球,所述测球安装于所述探针末端,其特征在于,包括:固定组件,连接并固定所述电触发式软测头;测试模拟组件,连接于所述固定组件,所述测试模拟组件包括可移动的推动部,所述推动部抵接所述测球,所述推动部上形成有两个测试位,两个所述测试位分别位于所述探针的两侧;两个位移传感器,两个所述位移传感器均连接于所述固定组件,分别用于检测两个所述测试位的位移。2.根据权利要求1所述的电触发式软测头标定装置,其特征在于,所述测试模拟组件包括斜块式测微仪,所述斜块式测微仪的斜块为所述推动部,所述斜块式测微仪中斜块的倾斜面抵接所述测球,两个所述测试位均位于所述斜块式测微仪中斜块的倾斜面上。3.根据权利要求2所述的电触发式软测头标定装置,其特征在于,所述位移传感器为接触式传感器,所述位移传感器的检测端抵接所述推动部,所述推动部推动所述测球时的移动方向垂直于所述探针的延伸方向,所述位移传感器的检测方向和所述推动部推动所述测球时的移动方向相同。4.根据权利要求3所述的电触发式软测头标定装置,其特征在于,两个所述测试位的连线垂直于所述探针的延伸方向,两个所述测试位至所述探针的距离相同。5.根据权利要求3所述的电触发式软测头标定装置,其特征在于,所述固定组件包括锁定部和旋转部,所述锁定部连接于所述电触发式软测头,所述旋转...
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