一种数据存储方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请公开了一种数据存储方法、装置及电子设备，在该数据存储方法中，通过掉电检测电路实时的检测设备的供电电压，并根据供电电压来确定是否将数据存储至闪存中。基于该方法可以在设备掉电时，及时的将数据存储至闪存中，从而保证了数据存储的失效，并且可以避免后期的数据维护成本。的数据维护成本。的数据维护成本。

【技术实现步骤摘要】
一种数据存储方法、装置及电子设备


[0001]本申请涉及数据存储
，尤其涉及一种数据存储方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]目前，虽然各类型的微控制单元(MicrocontrollerUnit，MCU)都会在1.2V电源域内有4K字节左右的备份静态随机存取存储器(Static Random
‑
Access Memory，SRAM)，SRAM是随机存取存储器的一种，这种存储器只要保持通电，该SRAM里面储存的数据就可以恒常保持。因此在设备掉电的情况下MCU可以通过SRAM将少量的数据进行保存，但是该备份域功能的使用必须要给MCU提供一个除主电源外的一个备用电源维持备份域的正常工作，但是针对大量的数据保存，以及考虑后期备用电源的损耗及维护问题等情况，MCU提供的备份能力将无法满足需求。

技术实现思路

[0003]本发申请提供了一种数据存储方法、装置及电子设备，用以在设备掉电时，及时的将数据存储至闪存中，从而保证了数据存储的失效，并且可以避免后期的数据维护成本。
[0004]第一方面，本申请提供了一种数据存储方法，所述方法包括：
[0005]通过掉电检测电路实时获取设备的供电电压；
[0006]判定所述供电电压是否小于预设电压值；
[0007]若所述供电电压小于所述预设电压值时，则启动将待存储数据存储至闪存中；
[0008]若所述供电电压大于所述预设电压值时，则将所述待存储数据存储至设定存储位置。
[0009]在该数据存储方法中，通过掉电检测电路实时的检测设备的供电电压，并根据供电电压来确定是否将数据存储至闪存中。基于该方法可以在设备掉电时，及时的将数据存储至闪存中，从而保证了数据存储的失效，并且可以避免后期的数据维护成本。
[0010]在一种可能的设计中，所述通过掉电检测电路实时获取设备的供电电压，包括：
[0011]检测所述掉电检测电路中的微控制单元MCU的管脚电压，并将所述管脚电压作为所述供电电压。
[0012]在一种可能的设计中，所述启动将待存储数据存储至闪存中，包括：
[0013]启动微控制单元MCU的下降沿中断服务，并关闭所述设备中的各个供电电路的电源；
[0014]将所述待存储数据存储至所述闪存中。
[0015]在一种可能的设计中，在启动将待存储数据存储至闪存中之前，所述方法还包括：
[0016]启动初始化程序，并通过所述初始化程序将所述闪存中存储的数据内容进行删除。
[0017]第二方面，本申请提供了一种数据存储装置，所述装置包括：
[0018]掉电检测电路，用于实时获取设备的供电电压；
[0019]处理器，用于判定所述供电电压是否小于预设电压值；若所述供电电压小于所述预设电压值时，则启动将待存储数据存储至闪存中；若所述供电电压大于所述预设电压值时，则将所述待存储数据存储至设定存储位置。
[0020]在一种可能的设计中，所述处理器，具体用于检测所述掉电检测电路中的微控制单元MCU的管脚电压，并将所述管脚电压作为所述供电电压。
[0021]在一种可能的设计中，所述处理器，具体用于启动微控制单元MCU的下降沿中断服务，并关闭所述设备中的各个供电电路的电源；将所述待存储数据存储至所述闪存中。
[0022]在一种可能的设计中，所述处理器，还用于启动初始化程序，并通过所述初始化程序将所述闪存中存储的数据内容进行删除。
[0023]第三方面，本申请提供了一种电子设备，包括：
[0024]存储器，用于存放计算机程序；
[0025]处理器，用于执行所述存储器上所存放的计算机程序时，实现上述的数据存储方法步骤。
[0026]第四方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的数据存储方法步骤。
[0027]上述第二方面至第四方面中的各个方面以及各个方面可能达到的技术效果请参照上述针对第一方面或第一方面中的各种可能方案可以达到的技术效果说明，这里不再重复赘述。
附图说明
[0028]图1为本申请提供的一种数据存储方法的流程图；
[0029]图2为本申请提供的掉电检测电路的电路结构示意图；
[0030]图3为本申请提供的一种数据存储装置的结构示意图；
[0031]图4为本申请提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0032]为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请作进一步地详细描述。方法实施例中的具体操作方法也可以应用于装置实施例或系统实施例中。需要说明的是，在本申请的描述中“多个”理解为“至少两个”。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。A与B连接，可以表示：A与B直接连接和A与B通过C连接这两种情况。另外，在本申请的描述中，“第一”、“第二”等词汇，仅用于区分描述的目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，也不能理解为指示或暗示顺序。
[0033]下面结合附图，对本申请实施例进行详细描述。
[0034]如图1所示为本申请提供的一种数据存储方法，通过该方法可以在设备掉电的之后提供足够的数据存储时间以及数据存储空间，该方法具体包括如下实现流程：
[0035]S10，通过掉电检测电路实时获取设备的供电电压；
[0036]具体来讲，在本申请实施例中提供了如图2所示的掉电检测电路，在该掉电检测电路中包含了稳压二极管D1，电阻R1、电阻R2以及电阻R80，稳压二极管D1与电阻R1、电阻R2串
联，该串联电路的一端接供电电压的输出端，串联电路的另一端接地，电阻R80的一端接电阻R1与R2之间，另一端接MCU下降沿检测管脚。
[0037]基于图2所示的掉电检测电路，以供电电压为14V为例，当设备供电电压大于稳压二极管D1所稳压电压为9.1V时，在MCU下降沿沿检测管脚POWERLOE的电压为高电平(14V
‑
9.1V)/2＝2.45V。当设备掉电瞬间，电压由14V下降到9.1V以下，POWERLOE管脚瞬间变成0V出现下降沿，触发MCU下降沿中断。电源在9.1V下降到MCU工作电压3.2V期间，MCU都能正常执行此下降沿中断服务程序，因此修改稳压管D1稳压电压，即能延长或缩短MCU执行中断服务程序的时间。
[0038]因此，通过上述提供的掉电检测电路可以更加准确的检测对设备供电电压，从而准确的进行掉电后的数据存储。
[0039]S11，判定供电电压是否小于预设电压值；
[0040]在通过掉电检测电路进行掉电检测之后，进一步的判定掉电检测电路检测到的电压是否小于预设电压值，若是，则执行步骤S12；若否，则执行步骤S13。
[0041]具体来讲，当设备供电电压大于稳压二极管D1所稳压电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据存储方法，其特征在于，所述方法包括：通过掉电检测电路实时获取设备的供电电压；判定所述供电电压是否小于预设电压值；若所述供电电压小于所述预设电压值时，则启动将待存储数据存储至闪存中；若所述供电电压大于所述预设电压值时，则将所述待存储数据存储至设定存储位置。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过掉电检测电路实时获取设备的供电电压，包括：检测所述掉电检测电路中的微控制单元MCU的管脚电压，并将所述管脚电压作为所述供电电压。3.如权利要求去1所述的方法，其特征在于，所述启动将待存储数据存储至闪存中，包括：启动微控制单元MCU的下降沿中断服务，并关闭所述设备中的各个供电电路的电源；将所述待存储数据存储至所述闪存中。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在启动将待存储数据存储至闪存中之前，所述方法还包括：启动初始化程序，并通过所述初始化程序将所述闪存中存储的数据内容进行删除。5.一种数据存储装置，其特征在于，所述装置包括：掉电检测电路，用于实时获取设备的供电电压；处理器，用于判定所述供电电压是否小于预设电压值；若所述供电电压...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭永坚，郭晋鹏，
申请(专利权)人：珠海趣印科技有限公司，
类型：发明
国别省市：