一种用于丝绢文物的光损伤测试方法技术

本发明专利技术提供了一种用于丝绢文物的光损伤测试方法，包括以下步骤：S1、对待测试丝绢文物进行光辐照试验；S2、计算结晶度指数C

【技术实现步骤摘要】
一种用于丝绢文物的光损伤测试方法


[0001]本专利技术涉及文物保护和照明技术的交叉学科的
，更具体地，涉及一种适用于丝绢文物光损伤评价的方法。

技术介绍

[0002]丝绢一直是书法、绘画、古籍和档案的主要载体，具有存量大、价值高的特点。博物馆中的绢质文物由于材质特点是国际照明委员会(CIE)规定的最高光敏感级别展品，它们吸收光谱能量后极易发生光化学反应，出现脆化和开裂等不可逆的永久性损伤形式，严重影响文物的历史价值和艺术价值。对绢质文物进行有效光照保护的关键是采用科学方法对丝绢文物的光致损伤程度进行评价。
[0003]色差作为一种成熟的色度学指标在文物光致损伤评价中被广泛采用，即通过检测样本在被照前后的色坐标并利用公式计算色差值，来实现对色彩变化的定量评估。然而，用色差法衡量绢的光损伤存在以下问题：首先，绢的主要光化学损伤形式并非色彩衰变，而是开裂和脆化等机械损伤，但色差法不能对机械损伤进行表征；第二，色彩变化仅是其光化学损伤的外在表现形式，其根本原因为内部分子结构发生了改变，但色差法无法评价微观变化；第三，绢发生可测量的色彩衰本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于丝绢文物的光损伤测试方法，其特征是，包括以下步骤：S1、对待测试丝绢文物进行光辐照试验：将相同的待测试丝绢文物的样品分为M组，将每一组样品分别放置在不同频率的单色光源下进行照射，并且分别实时监测每个单色光源的相对光谱功率分布，其中，M为正整数；S2、计算结晶度指数：将总的辐照时长分为等分为N个辐照周期，记录每个辐照周期的结晶度指数和曝光量，其中，N为正整数，所述结晶度指数的计算方法如下：C
FTIR
＝A
1263
/(A
1230
+A
1263
)其中，C
FTIR
代表样品的结晶度指数，A
1230
和A
1263
则分别代表光谱为1230cm
‑1和1263cm
‑1处信号的特征峰面积；S3、获得相对响应率函数：对每一组样品对应的单色光源的波长和各自在每个辐照周期的曝光量进行多项式拟合，得到样品对波长和曝光量的相对响应率函数f(λ,Q)，其中，λ为波长，Q为曝光量；S4、获得样品在可见波段的照明损伤度计算方法：其中，D为照明损伤度，S(λ)为照射光源的相对光谱功率分布。2.根据权利要求1所述的用于丝绢文物的光损伤测试方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：高子昂，党睿，谭慧姣，刘宇星，胡振宇，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：