一种相位差检测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术适用于图像处理技术领域，提供了一种相位差检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：对图形传感器的PD像素行中的左PD数据行和右PD数据行分别按同一方式进行分块处理，得到多个PD数据块对，在每个PD数据块对中选择一数据块作为卷积核，基于预设的相位差偏移量，使用卷积核对位于另一数据块所在PD数据行中的、同一位置的PD数据进行卷积运算，得到每个PD数据块对对应的差异数据集，对差异数据集进行拟合，根据拟合结果以及相位差偏移量，获取每个PD数据块对中左、右PD数据块之间的相位差，基于获取的每个PD数据块对的相位差生成相位差检测结果，从而实现了相位差的准确检测。检测。检测。

【技术实现步骤摘要】
一种相位差检测方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术属于图像处理
，尤其涉及一种相位差检测方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]用户在通过电子设备进行拍照时，电子设备可以采用相位差自动对焦(Phase Difference Auto Focus，PDAF)方式进行对焦，以得到比较清晰的图片。电子设备进行对焦时，可以通过设置在传感器上的相位差(Phase Difference，缩写为PD)检测像素计算得到相位差，并将该相位差转换成镜头模组内的马达的移动距离，从而根据该移动距离确定出对焦点，以实现对焦。
[0003]然而，现有技术中通常是根据图像传感器提供的相位差原始数据进行对焦，而相位差原始数据的检测方法并不透明。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种相位差检测方法、装置、电子设备及存储介质，旨在提供一种全新的相位差检测方法。
[0005]一方面，本专利技术提供一种相位差检测方法，所述方法包括下述步骤：
[0006]对图形传感器的PD像素行中的左PD本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种相位差检测方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：对图形传感器的PD像素行中的左PD数据行和右PD数据行分别按同一方式进行分块处理，得到多个PD数据块对；在每个所述PD数据块对中选择一数据块作为卷积核，基于预设的相位差偏移量，使用所述卷积核对位于另一数据块所在PD数据行中的、同一位置的PD数据进行卷积运算，得到每个所述PD数据块对对应的差异数据集；对所述差异数据集进行拟合，根据拟合结果以及所述相位差偏移量，获取每个所述PD数据块对中左、右PD数据块之间的相位差；基于获取的每个所述PD数据块对的相位差生成相位差检测结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在每个所述PD数据块对中选择一数据块作为卷积核，基于预设的相位差偏移量，使用所述卷积核对位于另一数据块所在PD数据行中的、同一位置的PD数据进行卷积运算的步骤之前，还包括：采用预设的滤波器对每个所述PD数据块对进行去噪处理。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，基于预设的相位差偏移量，使用所述卷积核对位于另一数据块所在PD数据行中的、同一位置的PD数据进行卷积运算的步骤，包括：在所述另一数据块所在PD数据行中以所述另一数据块为基准，向前、向后分别移动所述相位差偏移量的距离，获取扩展后范围内的PD数据；使用所述卷积核对获取的所述PD数据进行卷积运算。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，使用所述卷积核对获取的所述PD数据进行卷积运算的步骤，包括：将所述卷积核的起点依次与所述PD数据中每个像素对齐并卷积，得到每个所述PD数据块对对应的差异数据集。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，将所述卷积核的起点依次与所述PD数据中每个像素对齐并卷积的步骤，包括：每次对所述卷积核与所述PD数据中对应大小的被卷积像素进行对齐并卷积，获取当次差异数据，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李海勇，郭奕滨，谭坤，
申请(专利权)人：影石创新科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：