直线导轨副精度检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种直线导轨副精度检测装置及检测方法，属于测量技术领域，其中直线导轨副精度检测装置包括检测台、感光板以及点光源；检测台抵在导轨的一侧，检测台上滑动设置有驱动块，驱动块的移动方向与导轨的长度方向平行；驱动块上设有连接架，连接架的端部连接在导轨上端的滑块上；感光板设于检测台远离导轨的一侧，感光板垂直于检测台的上端面，且感光板的高度大于滑块的高度；点光源设于滑块的上端，点光源靠近感光板的一侧具有透光孔，透光孔的截面积向感光板的一侧逐渐增大，点光源的光线穿过透光孔照射在感光板上。本发明专利技术提供的直线导轨副精度检测装置，提高了测量精度和测量效率；此外，本装置适用多种场景。本装置适用多种场景。本装置适用多种场景。

【技术实现步骤摘要】
直线导轨副精度检测装置及检测方法


[0001]本专利技术属于测量
，更具体地说，是涉及一种直线导轨副精度检测装置及检测方法。

技术介绍

[0002]在现有技术中，作为机械传动的滚动直线导轨副通常由导轨、滑块、返向器、滚动体和保持器等组成。滚动直线导轨副的精度直接影响机床的加工精度和性能，其最重要的参数是：滚动直线导轨副中滑块上基准面与导轨底基准面的运行平行度、滑块侧基准面与导轨侧基准面的运行平行度。
[0003]现有技术中，人们检测直线导轨副的这些参数，往往需要在成品导轨安装前借助经过研磨的大理石平台来实现对精度的检测，检测的内容包括高度H的尺寸容许误差，滑块上表面对滑轨下表面的行走平行度，滑块侧表面对滑轨侧表面的行走平行度，导轨长度方面的直线精度等。检测时，需要将直线导轨副通过大量螺钉紧固在大理石平台上，再移动检测设备（如千分表）对直线导轨副的上端面进行测量，测量精度低、效率低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种直线导轨副精度检测装置及检测方法，旨在解决现有检测精度差，检测效率低。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.直线导轨副精度检测装置，其特征在于，包括：检测台(20)，所述检测台(20)抵在导轨(10)的一侧，所述检测台(20)上滑动设置有驱动块(23)，所述驱动块(23)的移动方向与所述导轨(10)的长度方向平行；所述驱动块(23)连接在所述导轨(10)上端的滑块(11)上；感光板(21)，设于所述检测台(20)远离所述导轨(10)的一侧，所述感光板(21)垂直于所述检测台(20)的上端面，且所述感光板(21)的高度大于所述滑块(11)的高度；点光源(30)，所述点光源(30)设于所述滑块(11)的上端，所述点光源(30)靠近所述感光板(21)的一侧具有透光孔，所述透光孔的截面积向所述感光板(21)的一侧逐渐增大，所述点光源(30)的光线穿过所述透光孔照射在所述感光板(21)上。2.如权利要求1所述的直线导轨副精度检测装置，其特征在于，所述透光孔的截面为长条形，且所述透光孔的截面的纵向长度大于横向长度；所述点光源(30)借助所述透光孔形成线光源。3.如权利要求2所述的直线导轨副精度检测装置，其特征在于，所述滑块(11)为标准块，所述滑块(11)的上端螺栓连接有固定板(12)，所述固定板(12)与所述驱动块(23)之间设置有连接架(24)，所述连接架(24)与所述固定板(12)之间设置有弹簧(25)。4.如权利要求2所述的直线导轨副精度检测装置，其特征在于，所述检测台(20)包括：主座(201)，所述主座(201)上设置有驱动机构，所述驱动机构与所述驱动块(23)连接用于调节所述驱动块(23)匀速运动；所述主座(201)靠近所述导轨(10)的一侧设置有抵接件，所述抵接件抵在所述导轨(10)的一侧；所述感光板(21)设于所述主座(201)远离所述导轨(10)的侧壁上；挡板(204)，设于所述导轨(10)的另一侧，所述挡板(204)和所述抵接件配合用于夹持所述导轨(10)；固定架(203)，所述固定架(203)连接所述主座(201)和所述挡板(204)。5.如权利要求4所述的直线导轨副精度检测装置，其特征在于，所述驱动机构为丝杠(22)，所述驱动块(23)螺纹连接在所述丝杠(22)上；所述丝杠(22)的端部设置有激光器(31)。6.如权利要求1所述的直线导轨副精度检测装置，其特征在于，还包括：传输模块，电连接所述感光板(21)，用于传输所述感光板(21)所接收到的光影痕迹；计算模块，电连接所述传输模块，通过所述感光板...

【专利技术属性】
技术研发人员：于洋，常腾蛟，赵柔柔，贾鹏辉，付海玺，
申请(专利权)人：河北维迪自动化技术有限公司，
类型：发明
国别省市：