【技术实现步骤摘要】
样本图像分析系统和玻片质量检测方法
[0001]本申请涉及样本检测领域,涉及但不限于一种样本图像分析系统、细胞图像分析设备、待检玻片制备设备和玻片质量检测方法。
技术介绍
[0002]目前,在利用样本分析仪对待测样本进行样本检测后,如果需要进一步对待测样本进行镜下检测,需要制备玻片,并通过阅片机进行阅片,进一步确定待测样本的镜检结果。
[0003]制备玻片的仪器通常是推片染色机,其具有样本采集,样本涂抹或推展、干燥以及染色与清洗功能,从而实现玻片的制备。推片染色机在临床检验方面要求严格。要将不同外周血样本采集,判断其不同的特征(红细胞压积HCT值,粘度特征,残留拖尾特性等)作为推片依据参数,依据该特性进行推片参数的控制,将一滴样本推展成合格(长度,宽度,外观形态,血膜厚度等)的血膜。如果工作状态异常将直接影响血液复检的进度与准确性。而有很多因素会导致推片机工作状态异常,造成的血涂片制备不符合预期,目前推片染色机无法进行自检和监控。
技术实现思路
[0004]有鉴于此,本申请实施例期望提供一种样本图像分 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种样本图像分析系统,其特征在于,所述样本图像分析系统至少包括:待检玻片制备装置、细胞图像分析装置、图像获取装置和控制装置,其中:所述待检玻片制备装置,用于对待测样本进行推片处理,以制备待检玻片;所述细胞图像分析装置,用于对所述待检玻片的样本区域进行图像采集,获得至少一张细胞图像;所述图像获取装置,用于获取样本区域图像,所述样本区域图像包括样本薄膜的外观形态信息;所述控制装置,用于基于所述样本区域图像提取所述待检玻片对应的图像特征信息,当所述图像特征信息满足异常条件时,确定所述待检玻片存在推片异常;所述控制装置,还用于对所述至少一张细胞图像进行数据处理,得到所述待测样本的镜下检测结果。2.根据权利要求1所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述细胞图像分析装置包括成像机构;所述成像机构,用于基于第一放大倍数对所述待检玻片的样本区域进行图像采集,获得至少一张细胞图像;所述成像机构,还用于基于第二放大倍数对所述待检玻片的样本区域进行图像采集,获得样本区域图像;所述第一放大倍数大于所述第二放大倍数;所述成像机构,还用于将所述样本区域图像传输至所述图像获取装置。3.根据权利要求1所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述细胞图像分析装置包括第一成像机构和第二成像机构;所述第一成像机构,用于基于第一放大倍数对所述待检玻片的样本区域进行图像采集,获得至少一张细胞图像;所述第二成像机构,用于基于第二放大倍数对所述待检玻片的样本区域进行图像采集,获得样本区域图像;所述第一放大倍数大于所述第二放大倍数;所述第二成像机构,还用于将所述样本区域图像传输至所述图像获取装置。4.根据权利要求1所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述图像获取装置,还用于:对所述待检玻片的样本区域进行图像拍摄,获取样本区域图像。5.根据权利要求1所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述基于所述样本区域图像提取所述待检玻片对应的图像特征信息,包括:基于所述样本区域图像获取所述样本薄膜的长度;和/或基于所述样本区域图像获取所述样本薄膜的宽度;和/或基于所述样本区域图像获取所述样本薄膜的位置;和/或对所述样本区域图像进行边缘特征提取处理,获取所述样本薄膜的边缘信息;将所述样本薄膜的长度、所述样本薄膜的宽度、所述样本薄膜的位置和所述样本薄膜的边缘信息中的至少一个确定为所述待检玻片对应的图像特征信息。6.根据权利要求1所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述基于所述样本区域图像提取所述待检玻片对应的图像特征信息,包括:从所述样本区域图像中提取出待检玻片图像区域和/或目标图像区域,所述目标图像区域为所述待检玻片图像区域中样本薄膜所在的区域;
基于所述待检玻片图像区域和/或所述目标图像区域,确定所述待检玻片对应的图像特征信息。7.根据权利要求6所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述基于所述待检玻片图像区域和/或所述目标图像区域,确定所述待检玻片对应的图像特征信息,包括:基于所述待检玻片图像区域和/或所述目标图像区域获取所述样本薄膜的长度;和/或基于所述待检玻片图像区域和/或所述目标图像区域获取所述样本薄膜的宽度;和/或对所述待检玻片图像区域和/或所述目标图像区域进行边缘特征提取处理,获取所述样本薄膜的边缘信息;将所述样本薄膜的长度、所述样本薄膜的宽度和所述样本薄膜的边缘信息中的至少一个确定为所述待检玻片对应的图像特征信息。8.根据权利要求7所述的样本图像分析系统,其特征在于,基于所述待检玻片图像区域,或基于所述待检玻片图像区域和所述目标图像区域,确定所述待检玻片对应的图像特征信息,还包括:基于所述待检玻片图像区域,或基于所述待检玻片图像区域和所述目标图像区域,获取所述样本薄膜的位置;相应的,所述将所述样本薄膜的长度、所述样本薄膜的宽度和所述样本薄膜的边缘信息中的至少一个确定为所述待检玻片对应的图像特征信息,包括:将所述样本薄膜的长度、所述样本薄膜的宽度、所述样本薄膜的位置和所述样本薄膜的边缘信息中的至少一个确定为所述待检玻片对应的图像特征信息。9.根据权利要求1至8任一项所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述控制装置还用于,获取所述图像特征信息对应的参考阈值范围;判断所述图像特征信息是否超出所述参考阈值范围,以确定所述图像特征信息是否满足异常条件;其中,当所述图像特征信息超出所述参考阈值范围时,确定所述图像特征信息满足异常条件。10.根据权利要求9所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述控制装置还用于,根据所述图像特征信息确定所述待检玻片存在推片异常的异常信息;其中,所述异常信息至少包括所述样本薄膜的长度偏短、所述样本薄膜的长度偏长、所述样本薄膜的长度过长、所述样本薄膜的宽度过窄、所述样本薄膜不完整、所述样本薄膜偏移、所述样本薄膜过厚、所述样本薄膜过薄、所述样本薄膜不均匀、所述样本薄膜出现横向条纹、所述样本薄膜出现纵向条纹和所述样本薄膜孔洞中至少一个。11.根据权利要求10所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述控制装置还用于,根据所述异常信息确定所述异常信息对应的异常原因;其中,所述异常原因至少包括待测样本量异常、待测样本位置异常、待测样本被稀释、待测样本特征异常、待测样本中存在杂质、待测样本凝块、推片参数异常、玻片异常、待检玻片制备装置的推片机构异常和推片机构与玻片的相对位置偏离中至少一个。12.根据权利要求11所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述根据所述异常信息确定所述异常信息对应的异常原因,包括:当所述异常信息包括所述样本薄膜的长度偏短,根据所述样本薄膜的长度偏短,确定的异常原因包括:待测样本量偏少、待测样本特征检测或传递错误、推片参数选择错误和玻
片表面存在污垢中至少一个;当所述异常信息包括所述样本薄膜的长度偏长或过长,根据所述样本薄膜的长度偏长或过长,确定的异常原因包括:待测样本量偏多、待测样本被稀释、待测样本特征检测或传递错误、推片参数选择错误和玻片表面存在污垢中至少一个;当所述异常信息包括所述样本薄膜的宽度过窄和/或所述样本薄膜不完整,根据所述样本薄膜的宽度过窄和/或所述样本薄膜不完整,确定的异常原因包括:待测样本中存在杂质、待测样本凝块、玻片表面存在污垢、玻片亲水性差和待检玻片制备装置的推片存在污垢中至少一个;当所述异常信息包括所述样本薄膜偏移,根据所述样本薄膜偏移,确定的异常原因包括:待测样本位置偏移和推片机构与玻片的相对位置偏离中至少一个;当所述异常信息包括所述样本薄膜过厚,根据所述样本薄膜过厚,确定的异常原因包括:待测样本特征检测或传递错误、推片参数选择错误和待检玻片制备装置的推片机构运动不平稳中至少一个;当所述异常信息包括所述样本薄膜过薄,根据所述样本薄膜过薄,确定的异常原因包括:待测样本被稀释、待测样本特征检测或传递错误、推片参数选择错误和待检玻片制备装置的推片机构运动不平稳中至少一个;当所述异常信息包括所述样本薄膜不均匀和/或所述样本薄膜出现横向条纹,根据所述样本薄膜不均匀和/或所述样本薄膜出现横向条纹,确定的异常原因包括:玻片表面存在污垢和待检玻片制备装置的推片机构运动不平稳中至少一个;当所述异常信息包括所述样本薄膜出现纵向条纹,根据所述样本薄膜出现纵向条纹,确定的异常原因包括:待测样本中存在杂质、待测样本凝块、玻片表面存在污垢和待检玻片制备装置的推片存在污垢中至少一个;当所述异常信息包括所述样本薄膜孔洞,根据所述样本薄膜孔洞,确定的异常原因包括:待测样本中存在污垢和玻片表面存在污垢中至少一个。13.根据权利要求11或12所述的样本图像分析系统,其特征在于,还包括:人机交互设备,用于在确定所述待检玻片存在推片异常时,输出提示信息;所述提示信息表征所述待检玻片的异常信息和/或所述异常信息对应的异常原因。14.根据权利要求13所述的样本图像分析系统,其特征在于,所述人机交互设备,还用于接收用于修复异常信息的操作指令;发送异...
【专利技术属性】
技术研发人员:姜斌,李学荣,颜昌银,
申请(专利权)人:深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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