一种用于产品检测的光源装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例公开了一种用于产品检测的光源装置，包括：同轴光源，同轴光源用于照亮待检测产品的光滑平整表面；环形光源，环形光源用于照亮待检测产品的粗糙表面；同轴光源位于环形光源的上方；拍摄装置，拍摄装置位于同轴光源的上方。本实用新型专利技术实施例的用于产品检测的光源装置，通过同轴光源设于环形光源的上方的设计，使得一种光源装置实现了多种检测内容的目的。内容的目的。内容的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种用于产品检测的光源装置


[0001]本技术涉及光源检测领域，尤其涉及一种用于产品检测的光源装置。

技术介绍

[0002]在当前的机器视觉检测领域，虽然实现了利用不同的打光方式达到不同的检测的目的(例如：产品的有无、位置以及尺寸的检测)。但是，一种装置还无法实现对不同的检测目的的兼容，一套装置只能针对一种目的的检测，造成了极大的资源的浪费(例如，环形光源装置只能针对表面粗糙的待检测产品；同轴光源装置只能针对表面光滑平整的待检测产品)。
[0003]如何避免上述情况的出现，已经成了亟待解决的技术难题。

技术实现思路

[0004]为了至少解决上述技术问题，本技术实施例的目的在于提供了一种用于产品检测的光源装置，通过同轴光源设于环形光源的上方的设计，使得一种光源装置实现了多种检测内容的目的。
[0005]为达到上述目的，本技术实施例提供的用于产品检测的光源装置，包括：
[0006]同轴光源，同轴光源用于照亮待检测产品的光滑平整表面；
[0007]环形光源，环形光源用于照亮待检测产品的粗糙表面；
[0008]同轴光源位于环形光源的上方；
[0009]拍摄装置，拍摄装置位于同轴光源的上方。
[0010]在一些示例性的实施方式中，同轴光源、环形光源以及拍摄装置具有共同的中心轴。
[0011]在一些示例性的实施方式中，同轴光源的形状包括长方体。
[0012]在一些示例性的实施方式中，长方体的对角线长度小于环形光源内圈的直径。
[0013]在一些示例性的实施方式中，光源装置用于检测放置于环形光源下方的待检测产品。
[0014]在一些示例性的实施方式中，同轴光源的光线垂直于待检测产品的表面。
[0015]在一些示例性的实施方式中，环形光源的光线具有向内的倾斜角度。
[0016]在一些示例性的实施方式中，同轴光源用于检测表面光滑平整的待检测产品。
[0017]在一些示例性的实施方式中，环形光源用于检测表面粗糙的待检测产品。
[0018]在一些示例性的实施方式中，同轴光源和/或环形光源用于检测待检测产品的位置和尺寸。
[0019]本技术实施例的用于产品检测的光源装置，包括：同轴光源，同轴光源用于照亮待检测产品的光滑平整表面；环形光源，环形光源用于照亮待检测产品的粗糙表面；同轴光源位于环形光源的上方；拍摄装置，拍摄装置位于同轴光源的上方。通过同轴光源设于环形光源的上方的设计，使得一种光源装置实现了多种检测内容的目的；使得检测的内容更
加的丰富；检测的目标变得更加容易实现；避免了不同检测目的需要更换不同的检测装置的繁琐；提高了检测的效率。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本说明书一个或多个实施例或现有技术中的技术方案，下面将对一个或多个实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1是本技术实施例的用于产品检测的光源装置结构主视图示意图；
[0022]图2是本技术实施例的用于产品检测的光源装置结构俯视图示意图。
[0023]附图标记说明：
[0024]101/201
‑
同轴光源；102/202
‑
环形光源；103
‑
拍摄装置；104/203
‑
待检测产品。
具体实施方式
[0025]以下结合附图对本技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本技术，并不用于限定本技术。
[0026]本技术实施例提供一种用于产品检测的光源装置，包括：
[0027]同轴光源，同轴光源用于照亮待检测产品的光滑平整表面；
[0028]环形光源，环形光源用于照亮待检测产品的粗糙表面；
[0029]同轴光源位于环形光源的上方；
[0030]拍摄装置，拍摄装置位于同轴光源的上方。
[0031]实施例1
[0032]图1是本技术实施例的用于产品检测的光源装置结构主视图示意图，图2是本技术实施例的用于产品检测的光源装置结构俯视图示意图，下面将结合图1
‑
2，对本技术实施例的用于产品检测的光源装置进行详细描述。
[0033]本技术实施例1的用于产品检测的光源装置，包括：同轴光源101/201、环形光源102/202以及拍摄装置103。
[0034]在一些示例性的实施方式中，同轴光源101/201用于照亮待检测产品104/203的光滑平整表面。
[0035]在一些示例性的实施方式中，同轴光源101/201提供了比传统光源更均匀的照明，因此提高了拍摄装置视觉的准确性和重现性。
[0036]在一些示例性的实施方式中，同轴光源101/201能够凸显物体表面不平整，克服表面反光造成的干扰，可以用于检测物体平整光滑表面的碰伤、划伤、裂纹和异物。
[0037]在一些示例性的实施方式中，同轴光源101/201包括用于反射度极高的物体，如金属、玻璃、胶片、晶片等表面的划伤检测。
[0038]在一些示例性的实施方式中，环形光源102/202用于照亮待检测产品104/203的粗糙表面。
[0039]在一些示例性的实施方式中，同轴光源101/201位于环形光源102/202的上方。
[0040]在一些示例性的实施方式中，拍摄装置103位于同轴光源101/201的上方。
[0041]在一些示例性的实施方式中，拍摄装置103包括相机。
[0042]在一些示例性的实施方式中，同轴光源101/201、环形光源102/202以及拍摄装置103具有共同的中心轴。
[0043]在一些示例性的实施方式中，同轴光源101/201的形状包括长方体。
[0044]在一些示例性的实施方式中，环形光源102/202具有内圈和外圈，内圈的直径小于其外圈的直径。
[0045]在一些示例性的实施方式中，长方体的同轴光源101/201的对角线长度小于环形光源102/202内圈的直径。
[0046]在一些示例性的实施方式中，同轴光源101/201的形状包括正方体。
[0047]在一些示例性的实施方式中，待检测产品104/203位于环形光源102/202的下方。
[0048]在一些示例性的实施方式中，光源装置用于检测放置于环形光源102/202下方的待检测产品104/203。
[0049]在一些示例性的实施方式中，同轴光源101/201的光线垂直于待检测产品104/203的表面。
[0050]在一些示例性的实施方式中，同轴光源101/201的照射面积大于待检测产品104/203的被照射面的表面积。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于产品检测的光源装置，其特征在于，包括：同轴光源，所述同轴光源用于照亮待检测产品的光滑平整表面；环形光源，所述环形光源用于照亮待检测产品的粗糙表面；所述同轴光源位于所述环形光源的上方；拍摄装置，所述拍摄装置位于所述同轴光源的上方。2.如权利要求1所述的光源装置，其特征在于，所述同轴光源、所述环形光源以及所述拍摄装置具有共同的中心轴。3.如权利要求2所述的光源装置，其特征在于，所述同轴光源的形状包括长方体。4.如权利要求3所述的光源装置，其特征在于，所述长方体的对角线长度小于所述环形光源内圈的直径。5.如权利要求4所述的光源装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙昌泼，王治玺，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：