一种多孔介质中胶体与污染物共迁移过程模拟方法技术

本发明专利技术涉及一种多孔介质中胶体与污染物共迁移过程模拟方法，所述方法包括：S1、获取多孔介质中胶体与污染物所对应的初始条件和边界条件；S2、根据所述初始条件、边界条件，采用预先获取的用于模拟吸附污染物后胶体迁移的第一数学模型、用于模拟溶解态污染物迁移的第二数学模型、用于模拟吸附在胶体表面的污染物迁移的第三数学模型获取模拟的多孔介质中胶体与污染物共迁移过程。由于采用预先获取的第一数学模型、第二数学模型、第三数学模型综合考虑了胶体与污染物在多孔介质中迁移过程的相互影响机理，相对于现有技术而言，实现了由本发明专利技术的一种多孔介质中胶体与污染物共迁移过程模拟方法所得到的胶体与污染物共迁移过程更为准确。程更为准确。程更为准确。

【技术实现步骤摘要】
一种多孔介质中胶体与污染物共迁移过程模拟方法


[0001]本专利技术涉及胶体迁移研究
，尤其涉及一种多孔介质中胶体与污染物共迁移过程模拟方法。

技术介绍

[0002]传统观点认为，对于吸附性较强的污染物，例如重金属、放射性核素、药品和个人护理用品(PPCPs)、杀虫剂等，它们主要存在于多孔介质的固相部分，通常认为是静止不动的。基于此观点建立的胶体与污染物共迁移模型多数未考虑胶体对污染物的吸附，因此，现有的技术中由胶体与污染物共迁移模型得到的模拟的胶体与污染物共迁移过程并不准确。

技术实现思路

[0003](一)要解决的技术问题
[0004]鉴于现有技术的上述缺点、不足，本专利技术提供一种多孔介质中胶体与污染物共迁移过程模拟方法，其解决了现有的技术中由胶体与污染物共迁移模型得到的模拟的胶体与污染物共迁移过程并不准确的技术问题。
[0005](二)技术方案
[0006]为了达到上述目的，本专利技术采用的主要技术方案包括：
[0007]本专利技术实施例提供一种多孔介质中胶体与污染物共迁移过程模拟方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多孔介质中胶体与污染物共迁移过程模拟方法，其特征在于，所述方法包括：S1、获取多孔介质中胶体与污染物所对应的初始条件和边界条件；S2、根据所述初始条件、边界条件，采用预先获取的用于模拟吸附污染物后胶体迁移的第一数学模型、用于模拟溶解态污染物迁移的第二数学模型、用于模拟吸附在胶体表面的污染物迁移的第三数学模型获取模拟的多孔介质中胶体与污染物共迁移过程。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一数学模型包括：所述第一数学模型包括：所述第一数学模型包括：C表示液相胶体浓度；S1表示第1动力学点位的固相胶体浓度；S2表示第2动力学点位的固相胶体浓度；ρ
b
为多孔介质的容重；J
w
表示多孔介质中水流的达西通量；D
sh
表示多孔介质的弥散系数；t表示时间；z表示多孔介质中胶体和污染物迁移方向上的空间坐标；μ
cw
表示液相胶体的分解系数；μ
cs
表示固相胶体的分解系数；θ表示多孔介质的容积含水量；S表示固相胶体浓度；S
max
表示最大固相胶体浓度；k
a1
表示第1动力学点位的胶体附着系数；k
d1
表示第1动力学点位的胶体分离系数；k
a2
表示第2动力学点位的胶体附着系数；k
d2
表示第2动力学点位的胶体分离系数；c表示液相污染物浓度；s
k
表示动力学点位的吸附态污染物浓度；k
amc
表示污染物在移动态胶体上的吸附系数；k
aic
表示污染物在附着态胶体上的吸附系数；k
dmc
表示移动态胶体上污染物的解吸系数；k
dic
表示附着态胶体上污染物的解吸系数。
c
...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡恩柱，成丽，冯宇庭，张鹏辉，
申请(专利权)人：东北大学，
类型：发明
国别省市：