一种球面半径测弓器制造技术

技术编号:34388637 阅读:83 留言:0更新日期:2022-08-03 21:14
本实用新型专利技术公开一种球面半径测弓器,包括触面座、基准块、测弓杆和至少两个触面杆,基准块和触面座上下相对设置,触面座的底部形成有一环形凸起,触面座上开设有位于环形凸起中心处的中心穿孔,测弓杆适配穿插于中心穿孔处,测弓杆的下端设置有测弓球头,触面座上开设有若干外围穿孔,各触面杆适配穿插于触面座的各外围穿孔处,各触面杆的下端均设置有触面球头,各触面杆的上端均与基准块固定连接,基准块上开设有与测弓杆的上端对应设置的插孔,测弓杆朝上穿出于触面座的部分活动插入到基准块的插孔中,且基准块的上端面形成测弓基准面。本实用新型专利技术结构简单实用,可适用于多种尺寸的球面球径测量,且测量过程简便快捷高效,有利于提高测量效率。有利于提高测量效率。有利于提高测量效率。

【技术实现步骤摘要】
一种球面半径测弓器


[0001]本技术涉及尺寸测量设备
,具体涉及一种球面半径测弓器。

技术介绍

[0002]在推力关节轴承的凹球面加工的在线检测或成品检测过程中,会对关节轴承的凹球面的球径进行测量,但现有技术尚无结构简单并且测量方便的测量工具可以对关节轴承凹球面的球径实现快捷方便的测量工作,导致了关节轴承凹球面的球径检测效率低。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足,本技术提供了一种球面半径测弓器,其主要解决的是关节轴承凹球面的球径检测不易及检测效率低的技术问题。
[0004]为达到上述目的,本技术是通过以下技术方案实现的:
[0005]一种球面半径测弓器,包括触面座、基准块、测弓杆和至少两个触面杆,基准块和触面座上下相对设置,触面座的底部形成有一环形凸起,触面座上开设有位于环形凸起中心处的中心穿孔,测弓杆适配穿插于中心穿孔处,测弓杆的下端设置有测弓球头,触面座上开设有若干外围穿孔,各外围穿孔被配置为以触面座的中心穿孔的轴线为中心在触面座上呈对称状排布,各触面杆适配穿插于触面座的各外围穿孔处,各触面杆本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种球面半径测弓器,其特征在于:包括触面座(1)、基准块(2)、测弓杆(3)和至少两个触面杆(4),基准块(2)和触面座(1)上下相对设置,触面座(1)的底部形成有一环形凸起(11),触面座(1)上开设有位于环形凸起(11)中心处的中心穿孔,测弓杆(3)适配穿插于中心穿孔处,测弓杆(3)的下端设置有测弓球头(31),触面座(1)上开设有若干外围穿孔,各外围穿孔被配置为以触面座(1)的中心穿孔的轴线为中心在触面座(1)上呈对称状排布,各触面杆(4)适配穿插于触面座(1)的各外围穿孔处,各触面杆(4)的下端均设置有触面球头(41),各触面杆(4)的上端均与基准块(2)固定连接,基准块(2)上开设有与测弓杆(3)的上端对应设置的插孔(21),测弓杆(3)朝上穿出于触面座(1)的部分活动插入到基准块(2)的插孔(21)中,且基准块(2)的上端面形成测弓基准面(22)。2.根据权利要求1所述的球面半径测弓器,其特征在于:环形凸起(11)底部上用于与待测球面相抵触的环形端部呈圆角结构。3.根据权利要求1所述的球面半径测弓器,其特征在于:各外围穿孔呈对称状排布于触...

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡士源纪艺勇黄志敏杨国良
申请(专利权)人:福建龙溪轴承集团股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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