一种鼻黏膜PPG光衰指数快速预测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种鼻黏膜PPG光衰指数快速预测方法及装置，主要用于鼻腔过敏原刺激反应试验。方法包括：自鼻黏膜受到刺激开始至时间T1内按设定时间间隔连续采集光衰指数数据，其中，T1满足2.3≤T2/T1≤3.5，T2为自鼻黏膜受到刺激开始至肿胀达到稳态的通常的数据采集时间；对采集的数据进行多项式拟合，得到多项式函数P(t)；对多项式函数P(t)求解二阶导数，令二阶导数等于零得到方程，通过求解方程求得P(t)斜率变化率最大的时刻根据如下公式求得光衰指数稳态值：其中δ为误差修正因子。本发明专利技术较基于其它函数拟合的算法复杂度更低，可将鼻黏膜厚度测量时间缩短之原来的一半甚至更短，从而减轻了受检者的痛苦。痛苦。痛苦。

A rapid prediction method and device for PPG light attenuation index of nasal mucosa

【技术实现步骤摘要】
一种鼻黏膜PPG光衰指数快速预测方法及装置


[0001]本专利技术属于医学检测数据处理
，具体涉及一种基于鼻黏膜光电容积描记(plethysmograph,PPG)法的光衰指数(通光率)快速预测方法及装置。

技术介绍

[0002]鼻炎、鼻窦炎和鼻腔过敏等鼻类疾患的发病率极高，因此鼻腔疾患诊测是医疗服务领域中较为频繁的活动，上述疾患的一个共同的病理特征是鼻黏膜水肿，其主要表象是鼻黏膜厚度增加，其主要症状是上细胞分泌物增加和上呼吸道阻塞，因此测量鼻黏膜厚度成为上述疾患诊测的主要手段。
[0003]鼻腔阻塞程度的测量，较为常用的传统的方法是前鼻测压法(简称鼻压法)和鼻声测量法(简称鼻声法)，例如文献[P.A.R.Clement,Committee report on standardization of rhinomanometry,Rhinology,vol.22,pp.151
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155,1984.]提出的前鼻测压法(anterior rhinomanometry)，通过测量鼻压评估鼻腔气道的通畅度，口罩内埋设了压力本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种鼻黏膜PPG光衰指数快速预测方法，其特征在于，包括：自鼻黏膜受到刺激开始至时间T1内按设定时间间隔连续采集光衰指数数据，其中，T1满足2.3≤T2/T1≤3.5，T2为自鼻黏膜受到刺激开始至肿胀达到稳态的数据采集时间；对采集的数据进行多项式拟合，得到多项式函数P(t)；对多项式函数P(t)求解二阶导数，令二阶导数等于零得到方程，通过求解方程求得P(t)斜率变化率最大的时刻基于求解出的时刻根据如下公式计算光衰指数稳态值：其中δ为误差修正因子。2.根据权利要求1所述的一种鼻黏膜PPG光衰指数快速预测方法，其特征在于，所述多项式拟合的阶数为4～8，优选4阶或5阶。3.根据权利要求2所述的一种鼻黏膜PPG光衰指数快速预测方法，其特征在于，当采用4阶多项式拟合时，得到多项式函数P(t)：P(t)＝p4t4+p3t3+p2t2+p1t+p0式中，p4，p3，p2，p1，p0为P(t)的第4～0阶系数；对多项式函数P(t)求解二阶导数，令二阶导数等于零得到方程，通过求解方程求得P(t)斜率变化率最大的时刻(t)斜率变化率最大的时刻4.根据权利要求1所述的一种鼻黏膜PPG光衰指数快速预测方法，其特征在于，T2为12分钟，T1为3.5～5.25分钟，优...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：南京信息职业技术学院，
类型：发明
国别省市：